無線連接技術(shù)正以驚人的速度迭代，近期我稍作停頓，重新審視了5G開放無線接入網(wǎng)（O-RAN）技術(shù)及其射頻單元（O-RU）測試的未來圖景。

在思考過程中，我得到了《RCR無線新聞》雜志主編肖恩·金尼（Sean Kinney）的助力——他主持了一場關(guān)于O-RAN開放創(chuàng)新演進的專題討論。肖恩開篇即強調(diào)，O-RAN是一場由無線運營商發(fā)起的運動，旨在通過供應商多元化提升靈活性、降低成本，并有效“解構(gòu)”無線接入網(wǎng)（RAN），從而擴大其應用范圍與吸引力。過去數(shù)年間，這一運動催生了逾100項涵蓋接口到平臺編排的規(guī)范標準。

01 O-RAN值得關(guān)注的發(fā)展趨勢

近期，O-RAN聯(lián)盟及全行業(yè)積極倡導基于云端的無線接入技術(shù)，以實現(xiàn)節(jié)能增效并提升頻譜利用率。云端接入能力還推動了人工智能（AI）在共享O-RAN計算資源及邊緣服務中的應用探索。

隨著6G時代臨近，O-RAN正從增強移動寬帶向更廣泛場景延伸。例如，“迷你時隙”調(diào)度技術(shù)可實現(xiàn)數(shù)據(jù)無阻塞傳輸——數(shù)據(jù)無需等待完整時隙結(jié)束即可開始傳輸。這一特性對超可靠低時延通信（URLLC）至關(guān)重要，其應用場景涵蓋工業(yè)自動化到自動駕駛等領(lǐng)域。

2025年，O-RU設計正經(jīng)歷重大變革：從依賴笨重的現(xiàn)場可編程門陣列（FPGA）轉(zhuǎn)向系統(tǒng)級芯片（SoC）方案，以顯著降低功耗與物料清單（BOM）成本。盡管降本目標嚴苛，但行業(yè)致力于使O-RU成本接近企業(yè)級接入點，這是O-RAN在競爭市場中立足的關(guān)鍵。

02 互操作性測試推動O-RAN規(guī)模化應用

這些激動人心的射頻創(chuàng)新均高度依賴更智能的測試與集成方案。例如，O-RAN社區(qū)雖已推動O-RU互操作性多年，但當前需超越紙面符合性，轉(zhuǎn)向基于真實場景的反饋以優(yōu)化供應商測試策略。

在LitePoint公司，O-RU測試已不再局限于核對清單——其價值在于壓力環(huán)境下的性能驗證。過去，我們聚焦于滿足前傳接口與3GPP合規(guī)要求；如今，隨著運營商網(wǎng)絡部署的推進，測試重點已轉(zhuǎn)向四大領(lǐng)域：

01.真實場景模擬

測試流量切片、突發(fā)數(shù)據(jù)及混合服務類型；

02.極限壓力測試

通過全帶寬利用、高調(diào)制率及峰均比挑戰(zhàn)，檢驗前端模塊極限；

03.多供應商兼容性

確保射頻單元與不同分布式單元（O-DU）無縫適配；

04.運營商定制特性

驗證特定部署場景下的專有功能。

03 多輸入多輸出（MIMO）技術(shù)邁向并行天線測試

天線測試領(lǐng)域亦迎來創(chuàng)新契機。傳統(tǒng)單天線（或單鏈路）測試僅聚焦功率測量，提供性能的狹隘視角；而更全面的MIMO測試可揭示系統(tǒng)在真實條件下的表現(xiàn)。

以誤差矢量幅度（EVM）為例——這一關(guān)鍵指標用于量化理想傳輸信號與實際接收信號的差異。在真實測試中，MIMO測量可發(fā)現(xiàn)單鏈路測試完全忽略的性能退化問題，如串擾、印刷電路板（PCB）布局錯誤、前端模塊限制及電源旁路電容潛在故障。這些問題僅在多天線并行運行時顯現(xiàn)，與實際部署場景一致。

通過同時測量所有鏈路，并行MIMO天線測試可將測試效率與單位小時測試率提升一倍，從而降低成本。隨著制造商為大規(guī)模生產(chǎn)做準備，MIMO測試正成為性能驗證與可擴展、低成本制造的行業(yè)標準。

04 自動化是規(guī)?；瘻y試的關(guān)鍵

自動化是O-RAN測試實現(xiàn)規(guī)?；年P(guān)鍵。O-RAN的獨特優(yōu)勢之一在于可通過M平面（前傳接口）物理連接O-RU與分布式單元（O-DU）。

借助O-RAN M平面接口，我們可構(gòu)建通用自動化框架：供應商僅需插入其特定的M平面XML文件即可實現(xiàn)射頻控制。這一設計使不同供應商的射頻測試自動化成為可能，從而驗證性能、通過校準優(yōu)化參數(shù)，并快速擴展至大批量制造。

05 O-RAN的現(xiàn)實審視

盡管關(guān)于O-RAN商業(yè)化困境的負面報道頻現(xiàn)，但創(chuàng)新步伐從未停歇。事實上，行業(yè)對降本、增強互操作性及智能測試解決方案的追求正持續(xù)加速。O-RAN生態(tài)系統(tǒng)依然充滿活力，但其成功將取決于能否在提升性能、降低成本的同時，確保每一處真實部署的可靠性。

為此，O-RAN射頻開發(fā)的每一環(huán)節(jié)——從原始芯片到成品——均依賴產(chǎn)品級測試。孤立測試O-RU已不僅是可行方案，更是捕捉與優(yōu)化關(guān)鍵性能指標、及早發(fā)現(xiàn)故障的唯一途徑。作為深耕O-RU測試的一員，我堅信：我們今日所做的工作，正為O-RAN的下一輪飛躍奠定基石。