SN74LVT8980A-EP嵌入式測試總線控制器：JTAG測試的理想之選

在電子工程師的日常工作中，測試和驗(yàn)證電路的性能是至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。而IEEE Std 1149.1（JTAG）標(biāo)準(zhǔn)為我們提供了一種有效的測試和調(diào)試方法。今天，我將為大家詳細(xì)介紹一款德州儀器（TI）推出的嵌入式測試總線控制器——SN74LVT8980A - EP，它在支持JTAG測試方面表現(xiàn)出色。

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產(chǎn)品概述

SN74LVT8980A - EP是TI廣泛的可測試性集成電路家族的一員，主要功能是在嵌入式主機(jī)微處理器/微控制器的命令下，控制IEEE Std 1149.1（JTAG）測試訪問端口（TAP）。它能夠支持一個4線或5線的IEEE Std 1149.1串行測試總線，包括測試時鐘（TCK）、測試模式選擇（TMS）、測試數(shù)據(jù)輸入（TDI）、測試數(shù)據(jù)輸出（TDO）和測試復(fù)位（TRST）等信號。該控制器具有增強(qiáng)的制造源減少（DMS）支持和產(chǎn)品變更通知資格等特性，適用于廣泛的應(yīng)用場景。

產(chǎn)品特性亮點(diǎn)

接口與兼容性

• 5V 容限：在3.3V供電時，TAP接口具有完全的5V容限，可同時控制5V和/或3.3V的IEEE Std 1149.1目標(biāo)設(shè)備，大大提高了其兼容性。
• 簡單接口設(shè)計：通過8位異步讀寫數(shù)據(jù)總線，與低成本的3.3V微處理器/微控制器實(shí)現(xiàn)簡單接口，方便系統(tǒng)集成。

  靈活的時鐘與控制

• 可編程時鐘：靈活的時鐘架構(gòu)允許用戶在自由運(yùn)行和門控模式之間進(jìn)行選擇，并且可以對TCK進(jìn)行分頻，以適應(yīng)不同的測試需求。
• 離散控制模式：提供離散控制模式，可支持非標(biāo)準(zhǔn)目標(biāo)設(shè)備的任意TMS/TDI序列，增強(qiáng)了對特殊設(shè)備的控制能力。

  強(qiáng)大的測試功能

• 多種掃描模式：支持輸入掃描、輸出掃描、循環(huán)掃描等多種掃描模式，還能生成支持多節(jié)點(diǎn)TAP配置的協(xié)議，滿足不同的測試場景。
• 自動數(shù)據(jù)調(diào)整：能夠自動處理串行數(shù)據(jù)的對齊，適應(yīng)長達(dá)15個TCK周期的目標(biāo)重定時（流水線）延遲，確保數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性。

應(yīng)用與優(yōu)勢

應(yīng)用場景

• 嵌入式測試：與主機(jī)微處理器/微控制器結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)基于IEEE Std 1149.1測試訪問的板級和系統(tǒng)級內(nèi)置測試功能。
• 特殊目標(biāo)應(yīng)用：通過TOE信號可禁用其主功能，允許外部設(shè)備控制目標(biāo)TAP；在離散控制模式下，可對TMS和TDO序列進(jìn)行任意控制；在門控TCK模式下，可根據(jù)需要停止TCK輸出，滿足特殊目標(biāo)設(shè)備的應(yīng)用需求。

  優(yōu)勢體現(xiàn)

• 提高效率：將生成TAP狀態(tài)序列、序列化輸出位流和反序列化輸入位流等任務(wù)交由eTBC完成，使主機(jī)能夠以全8位并行效率運(yùn)行，提高了測試吞吐量。
• 增強(qiáng)靈活性：通過RDY輸出和狀態(tài)寄存器，主機(jī)軟件可以靈活控制訪問，確保訪問的及時性和準(zhǔn)確性。

寄存器與命令控制

寄存器介紹

SN74LVT8980A - EP包含多個寄存器，如配置寄存器（ConfigurationA和ConfigurationB）、狀態(tài)寄存器（Status）、命令寄存器（Command）、TDO緩沖區(qū)寄存器（TDO buffer）、TDI緩沖區(qū)寄存器（TDI buffer）、計數(shù)器寄存器（Counter）和離散控制寄存器（Discrete control）等。這些寄存器各自具有不同的功能，通過對它們的操作，可以實(shí)現(xiàn)對控制器的各種配置和控制。

命令控制

控制器的命令基于架構(gòu)圍繞一系列全面的IEEE Std 1149.1（JTAG）測試目標(biāo)構(gòu)建，包括TAP狀態(tài)移動、掃描操作和運(yùn)行測試等。通過寫入命令寄存器來啟動命令，命令執(zhí)行過程中會根據(jù)配置寄存器的設(shè)置進(jìn)行相應(yīng)的操作。不同的命令在執(zhí)行時會生成相應(yīng)的TMS序列，以實(shí)現(xiàn)目標(biāo)掃描鏈的狀態(tài)轉(zhuǎn)移和測試操作。

電氣參數(shù)與封裝信息

電氣參數(shù)

文檔中詳細(xì)給出了該控制器的絕對最大額定值、推薦工作條件、電氣特性、時序要求和開關(guān)特性等電氣參數(shù)。例如，電源電壓范圍為 - 0.5V至4.6V，輸入電壓范圍為 - 0.5V至7V等。在設(shè)計電路時，我們必須嚴(yán)格遵循這些參數(shù)要求，確保設(shè)備的正常運(yùn)行。

封裝信息

SN74LVT8980A - EP有SOIC（DW）封裝可選，引腳數(shù)為24，每盤包裝數(shù)量為2000個。同時，文檔還提供了封裝的詳細(xì)尺寸信息和引腳配置圖，為PCB設(shè)計提供了重要參考。

總結(jié)

SN74LVT8980A - EP嵌入式測試總線控制器以其豐富的功能、靈活的控制和良好的兼容性，為電子工程師在JTAG測試和調(diào)試方面提供了強(qiáng)大的支持。無論是在嵌入式系統(tǒng)的測試還是特殊目標(biāo)設(shè)備的應(yīng)用中，它都能發(fā)揮重要作用。在實(shí)際設(shè)計中，我們可以根據(jù)具體需求合理配置寄存器和命令，充分發(fā)揮該控制器的優(yōu)勢，提高測試效率和系統(tǒng)性能。大家在使用這款控制器的過程中，有沒有遇到什么特別的問題或者有什么獨(dú)特的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)?zāi)?？歡迎在評論區(qū)分享交流。