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PKC8030L 高頻電流探頭在 65W GaN 快充開關(guān)管電流測試中的應(yīng)用

PRBTEK ? 來源:PRBTEK ? 作者:PRBTEK ? 2026-04-13 13:47 ? 次閱讀
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?一、客戶背景與測試需求

客戶行業(yè):消費類電源適配器研發(fā)企業(yè),專注于 65W GaN(氮化鎵)快充產(chǎn)品的開發(fā)與量產(chǎn)。

測試需求:

客戶需對 GaN 功率管的開關(guān)電流波形進行精確測量,以評估開關(guān)損耗、驗證驅(qū)動設(shè)計并優(yōu)化 EMI 性能。具體要求:

1.電流范圍:需覆蓋 0–30A 峰值(應(yīng)對重載啟動及瞬態(tài)浪涌);

2.帶寬與速度:GaN 開關(guān)頻率達 300kHz–1MHz,需帶寬 ≥50MHz、上升時間 ≤7ns,以捕捉納秒級電流尖峰;

3.精度要求:直流/交流精度 ≤±1%,分辨率達 mA 級(保證損耗計算準(zhǔn)確性);

4.兼容性:需兼容現(xiàn)有 Keysight DSOX3104A 示波器

5.安全性:需非接觸式測量,避免破壞 PCB 布局,且支持快速消磁調(diào)零。

二、測試系統(tǒng)配置方案

核心測量設(shè)備:

1.高頻電流探頭:PRBTEK PKC8030L(1 套)

?關(guān)鍵參數(shù):

?帶寬:DC ~ 50MHz(-3dB);

?上升時間:≤7ns;

?量程:雙量程 5A / 30A(峰值 50Apk);

?精度:±1%(全量程),分辨率 5A檔1mA / 30A檔10mA;

?輸出比例:5A檔 1V/A,30A檔 0.1V/A;

?供電:DC 5V/2A(Type-C);

?安全等級:CAT III 300V / CAT II 600V。

2.示波器系統(tǒng):

?主機:Keysight DSOX3104A(1 臺)

?帶寬:1GHz;

?采樣率:5GSa/s;

?通道數(shù):4(可同步測量電流與電壓)。

3.輔助設(shè)備:

?高壓差分探頭:PRBTEK PKDV5161(1 套,用于同步測量 Vds);

?直流電源:ITECH IT6720(1 臺);

?電子負載:ITECH IT8700(1 臺)。

三、系統(tǒng)搭建與測試方法

系統(tǒng)搭建:

1.將 PKC8030L 探頭通過 Type-C 供電,BNC 輸出接示波器 CH1;

2.探頭鉗口夾在 GaN 開關(guān)管的源極引腳或功率電感支路上(注意電流方向);

3.CH2 接高壓差分探頭測量開關(guān)管 Vds;

4.示波器設(shè)置:采樣率 2.5GSa/s 以上,開啟高分辨率模式。

測試方法:

1.靜態(tài)測試:在滿載 65W 條件下,記錄電流波形,測量峰值電流、紋波;

2.動態(tài)測試:利用示波器 Math 功能計算開關(guān)損耗(∫Vds×Id dt);

3.精度驗證:使用高精度電流源注入 1A/10A 標(biāo)準(zhǔn)電流,對比示波器讀數(shù)。

四、測試結(jié)果

1.波形質(zhì)量:成功捕捉到 GaN 器件約 8ns 的電流上升沿,無明顯的振鈴或失真;

2.精度驗證:在 0–20A 范圍內(nèi),測量誤差 ≤±0.8%;

3.損耗分析:開關(guān)損耗測量結(jié)果與仿真偏差 <5%,為客戶優(yōu)化死區(qū)時間提供了依據(jù)。

五、總結(jié)

PKC8030L 憑借 50MHz 帶寬與 ≤7ns 上升時間,完美適配 GaN 快充的高頻電流測試需求。其雙量程設(shè)計兼顧了小電流精度與大電流動態(tài)范圍,配合 Keysight 示波器,為客戶提供了高精度的開關(guān)損耗分析方案,有效縮短了產(chǎn)品調(diào)試周期。

審核編輯 黃宇

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