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解析FDMS86103L N - Channel Shielded Gate PowerTrench? MOSFET

lhl545545 ? 2026-04-15 17:25 ? 次閱讀
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解析FDMS86103L N - Channel Shielded Gate PowerTrench? MOSFET

電子工程師的日常設(shè)計中,MOSFET的選擇至關(guān)重要,它直接影響到電路的性能和穩(wěn)定性。今天我們就來詳細(xì)解析一款由Fairchild(現(xiàn)屬ON Semiconductor)推出的高性能N - 溝道屏蔽柵PowerTrench? MOSFET——FDMS86103L。

文件下載:FDMS86103L-D.pdf

一、產(chǎn)品背景

Fairchild已成為ON Semiconductor的一部分,在產(chǎn)品整合過程中,部分Fairchild可訂購的零件編號需更改以滿足ON Semiconductor的系統(tǒng)要求,例如Fairchild零件編號中的下劃線(_)將改為破折號( - )。若要獲取最新的訂購信息,可訪問ON Semiconductor的官方網(wǎng)站www.onsemi.com。

二、產(chǎn)品概述

FDMS86103L是一款100V、81A、8mΩ的N - 溝道屏蔽柵PowerTrench? MOSFET。它采用了Fairchild Semiconductor先進的PowerTrench?工藝,并融入了屏蔽柵技術(shù),在導(dǎo)通電阻和開關(guān)性能方面進行了優(yōu)化。

三、產(chǎn)品特點

3.1 屏蔽柵MOSFET技術(shù)

  • 在(V{GS}=10V),(I{D}=12A)時,最大(r{DS(on)} = 8mΩ);在(V{GS}=4.5V),(I{D}=10A)時,最大(r{DS(on)} = 11mΩ)。這種低導(dǎo)通電阻的特性有助于降低功耗,提高電路效率。
  • 先進的封裝和硅片組合,進一步降低了(r_{DS(on)}),并提升了效率。

3.2 其他特性

  • MSL1堅固的封裝設(shè)計,經(jīng)過100% UIL測試,且符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),保證了產(chǎn)品的可靠性和環(huán)保性。

四、應(yīng)用領(lǐng)域

FDMS86103L適用于DC - DC轉(zhuǎn)換電路,在該應(yīng)用中,其低導(dǎo)通電阻和良好的開關(guān)性能能夠有效提高轉(zhuǎn)換效率,減少能量損耗。

五、產(chǎn)品參數(shù)

5.1 最大額定值

符號 參數(shù) 條件 額定值 單位
(V_{DS}) 漏源電壓 100 V
(V_{GS}) 柵源電壓 ±20 V
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) 81 A
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) 51 A
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T_{A}=25^{circ}C)) 12 A
(I_{D}) 脈沖漏極電流 414 A
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 312 mJ
(P_{D}) 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) 104 W
(P_{D}) 功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) 2.5 W
(T{J}, T{STG}) 工作和存儲結(jié)溫范圍 - 55 to + 150 °C

5.2 熱特性

符號 參數(shù) 條件 數(shù)值 單位
(R_{θJC}) 結(jié)到殼熱阻 1.2 °C/W
(R_{θJA}) 結(jié)到環(huán)境熱阻 (注1a) 50 °C/W

5.3 電氣特性

5.3.1 關(guān)斷特性

  • (BV{DSS})(漏源擊穿電壓):在(I{D}=250μA),(V_{GS}=0V)時,最小值為100V。
  • (Delta BV{DSS}/Delta T{J})(擊穿電壓溫度系數(shù)):在(I_{D}=250μA),參考溫度為(25^{circ}C)時,典型值為68mV/°C。
  • (I{DSS})(零柵壓漏極電流):在(V{DS}=80V),(V_{GS}=0V)時,最大值為1μA。
  • (I{GSS})(柵源泄漏電流):在(V{GS}=±20V),(V_{DS}=0V)時,最大值為±100nA。

5.3.2 導(dǎo)通特性

  • (V{GS(th)})(柵源閾值電壓):在(V{GS}=V{DS}),(I{D}=250μA)時,最小值為1.0V,典型值為1.9V,最大值為3.0V。
  • (Delta V{GS(th)}/Delta T{J})(柵源閾值電壓溫度系數(shù)):在(I_{D}=250μA),參考溫度為(25^{circ}C)時,典型值為 - 7mV/°C。
  • (r{DS(on)})(靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻):在不同的(V{GS})和(I{D})條件下有不同的值,如(V{GS}=10V),(I_{D}=12A)時,典型值為6.4mΩ,最大值為8mΩ。
  • (g{FS})(正向跨導(dǎo)):在(V{DS}=5V),(I_{D}=12A)時,典型值為59S。

5.3.3 動態(tài)特性

  • (C{iss})(輸入電容):在(V{DS}=50V),(V_{GS}=0V),(f = 1MHz)時,最小值為2790pF,典型值為3710pF。
  • (C_{oss})(輸出電容):最小值為469pF,典型值為625pF。
  • (C_{rss})(反向傳輸電容):最小值為22pF,典型值為35pF。
  • (R_{g})(柵極電阻):典型值為1.3Ω。

5.3.4 開關(guān)特性

  • (t{d(on)})(導(dǎo)通延遲時間):在(V{DD}=50V),(I{D}=12A),(V{GS}=10V),(R_{GEN}=6Ω)時,典型值為13ns,最大值為23ns。
  • (t_{r})(上升時間):典型值為7.2ns,最大值為15ns。
  • (t_{d(off)})(關(guān)斷延遲時間):典型值為35ns,最大值為57ns。
  • (t_{f})(下降時間):典型值為6ns,最大值為13ns。
  • (Q{g})(總柵極電荷):在不同的(V{GS})變化范圍和測試條件下有不同的值,如(V{GS})從0V到10V,(V{DD}=50V),(I_{D}=12A)時,典型值為43nC,最大值為60nC。
  • (Q_{gs})(柵源電荷):典型值為7.5nC。
  • (Q_{gd})(柵漏“米勒”電荷):典型值為7nC。

5.3.5 漏源二極管特性

  • (V{SD})(源漏二極管正向電壓):在(V{GS}=0V),(I{S}=2A)時,典型值為0.70V,最大值為1.2V;在(V{GS}=0V),(I_{S}=12A)時,典型值為0.78V,最大值為1.3V。
  • (t_{rr})(反向恢復(fù)時間):典型值為57ns,最大值為90ns。
  • (Q{rr})(反向恢復(fù)電荷):在(I{F}=12A),(di/dt = 100A/μs)時,典型值為68nC,最大值為108nC。

六、典型特性曲線

文檔中給出了多個典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系等。這些曲線能夠幫助工程師更直觀地了解FDMS86103L在不同工作條件下的性能表現(xiàn),在實際設(shè)計中,工程師可以根據(jù)這些曲線來選擇合適的工作點,以達到最佳的電路性能。

七、封裝信息

FDMS86103L采用Power 56封裝,具體的封裝尺寸和引腳信息在文檔中有詳細(xì)說明。同時,還給出了封裝的標(biāo)準(zhǔn)參考(JEDEC MO - 240,ISSUE A,VAR. AA)以及一些尺寸公差等注意事項。

八、總結(jié)

FDMS86103L N - 溝道屏蔽柵PowerTrench? MOSFET憑借其低導(dǎo)通電阻、良好的開關(guān)性能和可靠的封裝設(shè)計,在DC - DC轉(zhuǎn)換等應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢。電子工程師在進行相關(guān)電路設(shè)計時,可以充分考慮該產(chǎn)品的各項參數(shù)和特性,以實現(xiàn)高效、穩(wěn)定的電路設(shè)計。但在實際應(yīng)用中,也要注意產(chǎn)品的適用范圍和相關(guān)注意事項,如ON Semiconductor產(chǎn)品不適合用于生命支持系統(tǒng)或某些醫(yī)療設(shè)備等。大家在使用這款MOSFET時,有沒有遇到過什么特別的問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

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