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吉時(shí)利數(shù)字萬(wàn)用表DMM6500四線測(cè)試法

agitek2021 ? 來(lái)源:agitek2021 ? 作者:agitek2021 ? 2026-04-20 16:38 ? 次閱讀
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四線測(cè)試法是目前為止最好的消除引線電阻引入誤差(或?qū)⑵鋵⒅磷钚〉模┑臏y(cè)試方案
兩線測(cè)量法:
傳統(tǒng)的電阻測(cè)量通常用的是兩線測(cè)量法來(lái)進(jìn)行測(cè)量,比如我們最常用的手持式萬(wàn)用表。測(cè)量時(shí)只需要將紅黑表筆點(diǎn)在待測(cè)電阻的左右兩端,萬(wàn)用表會(huì)自動(dòng)添加一個(gè)激勵(lì)電流或激勵(lì)電壓(自動(dòng)激勵(lì)大小與選擇的檔位有關(guān),萬(wàn)用表中激勵(lì)大小不可調(diào))。添加激勵(lì)電壓的同時(shí),測(cè)試被測(cè)件兩端的電流;或者添加激勵(lì)電流的同時(shí),測(cè)試被測(cè)件兩端的電壓。再通過(guò)歐姆定律R=U/I 得到電阻值。如圖1所示,

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其中:
I為激勵(lì)電流(測(cè)試電流)
VM為萬(wàn)用表測(cè)得的電壓
RLEAD為引線電阻
R為被測(cè)電阻
HI 和LO為萬(wàn)用表的輸出輸入端
測(cè)量結(jié)果為R=VM/I, 從圖1的工作電路圖我們可以得知這個(gè)測(cè)試結(jié)果實(shí)際上包含兩部分:被測(cè)電阻R與兩條引線電阻2*RLEAD。典型的引線電阻阻值大致在1毫歐到10毫歐,當(dāng)然在被測(cè)電阻阻值較大的情況下,引線電阻的影響是可以被忽略的;但當(dāng)被測(cè)電阻較小或者測(cè)試精度要求較高的情況下,引線電阻這項(xiàng)附加的誤差源就不能夠被忽略了。

Rel選項(xiàng):

市面上一些新型的手持式萬(wàn)用表設(shè)計(jì)有rel選項(xiàng)(臺(tái)式萬(wàn)用表一般都有),如吉時(shí)利臺(tái)式萬(wàn)用表,其工作原理為:在測(cè)試測(cè)量之前先將紅黑表筆短接,得到引線電阻阻值并記錄此數(shù)據(jù),稍后測(cè)得的電阻值直接減去記錄中的引線電阻阻值,用這種數(shù)學(xué)方法來(lái)減小誤差,提高測(cè)量精度。所得結(jié)果為:R=(VM/I) -2*RLEAD,在一般情況下,這種測(cè)量方法簡(jiǎn)便易用,精度又高于兩線測(cè)量法。但實(shí)際測(cè)量過(guò)程中,引線電阻RLEAD并非定值,隨著溫度環(huán)境的變化,阻值也是會(huì)變化的。在Rel功能的數(shù)學(xué)計(jì)算過(guò)程中,是以按下rel選項(xiàng)那一時(shí)刻點(diǎn)的引線電阻帶入計(jì)算的,如果測(cè)試員對(duì)測(cè)試測(cè)量精度有著更高的要求,建議使用四線法測(cè)量。
四線測(cè)試法:
四線測(cè)試法是目前為止最好的消除引線電阻引入誤差(或?qū)⑵鋵⒅磷钚〉模┑臏y(cè)試方案。其原理是:在兩線法的基礎(chǔ)上添加一組取樣引線,用取樣引線的測(cè)試結(jié)果來(lái)代替測(cè)試引線的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行計(jì)算,從而得到更準(zhǔn)確的電阻值。如圖2所示,

wKgZPGnl5TiAEX4iAAnT0tTVPLI769.png

其中:
I為激勵(lì)電流
VM為萬(wàn)用表測(cè)得的電壓
RLEAD為引線電阻
R為被測(cè)電阻
源HI 源LO為萬(wàn)用表的輸出激勵(lì)電流端
取樣HI 取樣LO為取樣引線,即輸入電壓VM端
在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中取樣引線上沒有產(chǎn)生壓降,所以引線電阻2*RLEAD并沒有對(duì)測(cè)試產(chǎn)生影響。測(cè)得的電壓VM和被測(cè)電阻R上的實(shí)際電壓基本相同,即測(cè)量結(jié)果仍為R=VM/I。雖然取樣引線上仍然有微小的電流流過(guò),但在實(shí)際的測(cè)量中是可以被忽略的。與兩線測(cè)試法相比,用四線測(cè)試法測(cè)量所得到的電阻值是不含有引線電阻的,故精度高于兩線測(cè)試法。
以吉時(shí)利2000型臺(tái)式萬(wàn)用表舉例:

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當(dāng)使用兩線測(cè)試法,只需要鏈接input 的HI 和LO端。如圖3,

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當(dāng)使用四線測(cè)試法,需要連接input的HI、LO、Sense HI、Sense LO 四個(gè)端口(Sense HI 和Sense LO為取樣引線接口)。如圖4,

wKgZO2nl5UaAcBzrAAlY60x_9vM894.png

尤其需要注意:取樣引線端(Sense HI 和Sense LO)應(yīng)該盡可能的接近被測(cè)電阻的兩端,距離越遠(yuǎn)引入的測(cè)試引線電阻就越多。如圖5所示,取樣引線的接觸點(diǎn)與被測(cè)電阻之間仍有很長(zhǎng)的一段引線,這種連接方法會(huì)增加誤差。 圖

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吉時(shí)利DMM6500通過(guò)四線測(cè)試法有效解決了低阻測(cè)量中的引線誤差難題,是科研、生產(chǎn)及質(zhì)量檢測(cè)中實(shí)現(xiàn)高精度電阻測(cè)量的可靠選擇。

審核編輯 黃宇

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