chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

將化學(xué)樣品轉(zhuǎn)換為圖像,我們可以利用圖像分析算法進(jìn)行樣品鑒定

MEMS ? 來源:lp ? 2019-04-03 16:37 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

在發(fā)展中國家,大約10%的藥物實(shí)際上是劣質(zhì)藥物。不幸的是,這些地區(qū)往往缺乏檢測這些劣質(zhì)藥所需的設(shè)備。然而,一種便宜的新系統(tǒng)可以解決這個問題。該系統(tǒng)由加州大學(xué)河濱分校的團(tuán)隊(duì)開發(fā),要求用戶首先將液體藥物樣品放在載玻片上,液體被吸入一系列平行的微流體通道。然后將該載玻片的一端置于液氮中,沿著載玻片的長度產(chǎn)生溫度梯度。

一個簡單的USB攝像頭拍攝該過程的視頻。這記錄了樣品凍結(jié),分離成不同組分或以其他方式對溫度隨時(shí)間變化(以及與氮?dú)獾木嚯x)作出反應(yīng)的方式。然后從該視頻創(chuàng)建位圖靜止圖像。這些圖像被稱為“計(jì)時(shí)圖像”。

利用研究人員創(chuàng)建的免費(fèi)軟件,用戶可以將樣本的計(jì)時(shí)器與樣本聲稱的真實(shí)藥物進(jìn)行比較。如果它是假冒產(chǎn)品,它會對溫度的變化作出不同的反應(yīng),因此它的“計(jì)時(shí)圖像”將與真實(shí)的那些不相符。該程序?qū)⑻嵝延脩粼撌聦?shí)。

該技術(shù)還可用于溶于水,甚至食品中的固體藥物。事實(shí)上,在實(shí)驗(yàn)室測試中,它成功地用于區(qū)分真正的和摻假的橄欖油。

“通過基本上將化學(xué)樣品轉(zhuǎn)換為圖像,我們可以利用計(jì)算機(jī)科學(xué)家開發(fā)的所有不同的圖像分析算法,”首席科學(xué)家助理教授William Grover表示?!半S著這些算法變得更好,我們化學(xué)鑒定樣品的能力也會變得更好?!?/p>

科學(xué)家最近最近在《ACS Central Science》雜志上發(fā)表了一篇關(guān)于這項(xiàng)研究的論文。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 算法
    +關(guān)注

    關(guān)注

    23

    文章

    4775

    瀏覽量

    97626
  • 計(jì)時(shí)器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    434

    瀏覽量

    35010
  • 圖像分析
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    82

    瀏覽量

    19183

原文標(biāo)題:加州大學(xué)開發(fā)出一種新計(jì)時(shí)圖像系統(tǒng)可快速檢測劣質(zhì)藥

文章出處:【微信號:MEMSensor,微信公眾號:MEMS】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    透射電鏡(TEM)樣品制備方法

    在材料科學(xué)與生命科學(xué)的研究中,透射電子顯微鏡(TEM)已成為探索微觀世界不可或缺的工具。然而,許多科研人員在TEM分析過程中常常遇到圖像質(zhì)量不理想、數(shù)據(jù)解讀困難的問題,其根源往往不在于儀器操作或分析
    的頭像 發(fā)表于 11-25 17:10 ?768次閱讀
    透射電鏡(TEM)<b class='flag-5'>樣品</b>制備方法

    弱信號樣品在比表面與孔徑分析中的數(shù)據(jù)處理與增強(qiáng)技巧

    在比表面與孔徑分析中,弱信號樣品(如低比表面積材料、微量樣品或低孔隙率材料)因吸附信號微弱,易被背景干擾掩蓋,導(dǎo)致數(shù)據(jù)精度下降甚至無法準(zhǔn)確分析。這類
    的頭像 發(fā)表于 10-29 09:32 ?214次閱讀
    弱信號<b class='flag-5'>樣品</b>在比表面與孔徑<b class='flag-5'>分析</b>中的數(shù)據(jù)處理與增強(qiáng)技巧

    使用Otsu閾值算法灰度圖像二值化

    Otsu 算法是由日本學(xué)者OTSU于1979年提出的一種對圖像進(jìn)行二值化的高效算法,又稱“最大類間方差法”。當(dāng)我們對一個圖象
    發(fā)表于 10-28 06:49

    基于FPGA的CLAHE圖像增強(qiáng)算法設(shè)計(jì)

    CLAHE圖像增強(qiáng)算法又稱為對比度有限的自適應(yīng)直方圖均衡算法,其算法原理是通過有限的調(diào)整圖像局部對比度來增強(qiáng)有效信號和抑制噪聲信號。
    的頭像 發(fā)表于 10-15 10:14 ?540次閱讀
    基于FPGA的CLAHE<b class='flag-5'>圖像</b>增強(qiáng)<b class='flag-5'>算法</b>設(shè)計(jì)

    基于FPGA利用sm4進(jìn)行實(shí)時(shí)圖像加密

    求一份在fpga上利用sm4進(jìn)行實(shí)時(shí)圖像加密的文件
    發(fā)表于 09-15 19:05

    如何圖像文件轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制文件?

    如何圖像文件轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制文件
    發(fā)表于 09-05 08:28

    IGBT 樣品異常檢測案例解析

    通過利用Thermal EMMI(熱紅外顯微鏡)去檢測IGBT 樣品異常
    的頭像 發(fā)表于 08-15 09:17 ?1736次閱讀
    IGBT <b class='flag-5'>樣品</b>異常檢測案例解析

    芯片樣品備制前處理技術(shù)分析

    在芯片設(shè)計(jì)完成后,樣品功能性測試、可靠性測試以及失效分析除錯等環(huán)節(jié)開展之前,樣品備制前處理是不可或缺的關(guān)鍵步驟。其中,芯片切片方式用于斷面/橫截面觀察,對于確認(rèn)芯片內(nèi)部的金屬接線、各層結(jié)構(gòu)、錫球接合
    的頭像 發(fā)表于 06-05 15:14 ?592次閱讀
    芯片<b class='flag-5'>樣品</b>備制前處理技術(shù)<b class='flag-5'>分析</b>

    基于LockAI視覺識別模塊:C++使用圖像的統(tǒng)計(jì)信息

    圖像處理中,統(tǒng)計(jì)信息可以幫助我們了解圖像的特性,例如區(qū)域內(nèi)的像素分布、顏色轉(zhuǎn)換以及特定區(qū)域的分析
    發(fā)表于 05-08 10:31

    樣品倉掃描電鏡購買指南

    以下是一份大樣品倉掃描電鏡的購買指南:1、明確需求-樣品尺寸和類型:確定經(jīng)常需要觀察的樣品的最大尺寸、形狀以及樣品的性質(zhì),如導(dǎo)電性、磁性等。例如,若研究的是大型地質(zhì)巖石樣本或較大的生物
    的頭像 發(fā)表于 03-27 15:57 ?552次閱讀
    大<b class='flag-5'>樣品</b>倉掃描電鏡購買指南

    氬離子拋光:大面積電鏡樣品制樣的最佳選擇

    氬離子切割與拋光技術(shù)是現(xiàn)代材料科學(xué)研究中不可或缺的樣品表面制備手段。其核心原理是利用寬離子束(約1毫米)對樣品進(jìn)行精確加工,通過離子束的物理作用去除
    的頭像 發(fā)表于 03-06 17:21 ?788次閱讀
    氬離子拋光:大面積電鏡<b class='flag-5'>樣品</b>制樣的最佳選擇

    雙束聚焦離子束-掃描電鏡(FIB):TEM樣品制備

    雙束聚焦離子束-掃描電鏡(DualBeamFocusedIonBeam,FIB)作為一種先進(jìn)的微觀加工與分析技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等領(lǐng)域。其不僅可以制作常見的截面透射
    的頭像 發(fā)表于 02-28 16:11 ?1203次閱讀
    雙束聚焦離子束-掃描電鏡(FIB):TEM<b class='flag-5'>樣品</b>制備

    DLPC7540EVM是否支持自定義的圖像處理算法,以及如何進(jìn)行算法的移植?

    是否支持自定義的圖像處理算法,以及如何進(jìn)行算法的移植?
    發(fā)表于 02-17 08:25

    制備用于掃描電子顯微鏡(SEM)分析的氬離子拋光和化學(xué)拋光(CP)截面樣品

    利用氬離子束對樣品表面進(jìn)行物理濺射,從而達(dá)到拋光的效果。在這個過程中,氬氣作為惰性氣體,不會與樣品發(fā)生化學(xué)反應(yīng),保證了
    的頭像 發(fā)表于 02-10 11:45 ?956次閱讀
    制備用于掃描電子顯微鏡(SEM)<b class='flag-5'>分析</b>的氬離子拋光和<b class='flag-5'>化學(xué)</b>拋光(CP)截面<b class='flag-5'>樣品</b>

    電鏡樣品制備:氬離子拋光優(yōu)勢

    氬離子拋光技術(shù)的原理氬離子拋光技術(shù)基于物理濺射機(jī)制。其核心過程是氬氣電離為氬離子束,并通過電場加速這些離子,使其以特定能量和角度撞擊樣品表面。氬離子的沖擊能夠有效去除樣品表面的損傷層和雜質(zhì),從而
    的頭像 發(fā)表于 02-07 14:03 ?911次閱讀
    電鏡<b class='flag-5'>樣品</b>制備:氬離子拋光優(yōu)勢