對(duì)IC或子系統(tǒng)之間的接口常常會(huì)增加循環(huán)冗余校驗(yàn)(CRC)以檢測數(shù)據(jù)是否損壞,但標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)如何確定所選CRC是否足夠好則語焉不詳。
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ADS8688特別容易損壞的原因?
波形均正常,僅僅SDO波形異常(如圖,看起來是有數(shù)據(jù)輸出的)。
這是否意味著該芯片數(shù)字輸入端接收都是正常的,僅數(shù)字輸出端壞了?如此現(xiàn)象,請(qǐng)問能否結(jié)合芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu),分析出浪涌進(jìn)入的途徑和損壞原理,從而施加防范措施?TI公司
發(fā)表于 12-05 06:10
求助,關(guān)于ADS125H02數(shù)據(jù)通訊格式及CRC校驗(yàn)問題求解
of the initial data.
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發(fā)表于 12-03 06:54
ADS131 PGA切換是否會(huì)損壞ADC呢?
受到影響;目前我們想確認(rèn)切換PGA是否會(huì)對(duì)ADC造成影響,在切換過程中環(huán)路上依然存在電流,從一個(gè)大電流比如100A,1PGA切換到4PGA或8PGA(4PGA的最大量程是50A,8PGA的最大量程是25A),我們正常測試是切換是沒有發(fā)現(xiàn)有損壞情況,我們需要確認(rèn)
發(fā)表于 11-13 07:51
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發(fā)表于 10-12 06:19
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