飛針測試是目前電氣測試一些主要問題的最新解決辦法。它用探針來取代針床，使用多個由馬達驅動的、能夠快速移動的電氣探針同器件的引腳進行接觸并進行電氣測量。

飛針測試的開路測試原理和針床的測試原理是相同的，通過兩根探針同時接觸網(wǎng)絡的端點進行通電，所獲得的電阻與設定的開路電阻比較，從而判斷開路與否。但短路測試原理與針床的測試原理是不同的。由于測試探針有限（通常為4∽32根探針），同時接觸板面的點數(shù)非常?。ㄏ鄳?∽32點），若采用電阻測量法，測量所有網(wǎng)絡間的電阻值，那么對具有N個網(wǎng)絡的PCB而言，就要進行N2/2次測試，加上探針移動速度有限，一般為10點/秒到50點/秒，不同的測試方法有：充/放電時間法、電感測量法、電容測量法、相位差和相鄰網(wǎng)法、自適應測試法等等。

1.1充/放電時間法

每個網(wǎng)絡的充/放電時間（也稱網(wǎng)絡值，net value）是一定的。如果有網(wǎng)絡值相等，它們之間有可能短路，僅需在網(wǎng)絡值相等的網(wǎng)絡測量短路即可。它的測試步驟是，首件板：全開路測試→全短路測試→網(wǎng)絡值學習；第二塊以后板：全開路測試→網(wǎng)絡值測試，在懷疑有短路的地方再用電阻法測試。這種測試方法的優(yōu)點是測試結果準確，可靠性高；缺點是首件板測試時間長，返測次數(shù)多，測試效率不高。最有代表性的是MANIA公司的SPEEDY機。

1.2電感測量法

電感測量法的原理是以一個或幾個大的網(wǎng)絡（一般為地網(wǎng)）作為天線，在其上施加信號，其他的網(wǎng)絡會感應到一定的電感。測試機對每個網(wǎng)絡進行電感測量，比較各網(wǎng)絡電感值，若網(wǎng)絡電感值相同，有可能短路，再進行短路測試。這種測試方法只適用于有地電層的板的測試，若對雙面板（無地網(wǎng)）測試可靠性不高；在有多個大規(guī)模網(wǎng)絡時，由于有一個以上的探針用于施加信號，而提供測試的探針減少，測試效率底，優(yōu)點是測試可靠性較高，返測次數(shù)低。最有代表性的是ATG公司的A2、A3型機，為彌補探針數(shù)量，該機配有8針和16針，提高測試效率。

1.3電容測量法

這種方法類似于充/放電時間法。根據(jù)導電圖形與電容的定律關系，若設置一參考平面，導電圖形到它的距離為L，導電圖形面積為A，則C=εA/L。如果出現(xiàn)開路，導電圖形面積減少，相應的電容減少，則說明有開路；如果有兩部分導電圖形連在一起，電容響應增加，說明有短路。在開路測試中，同一網(wǎng)絡的各端點電容值應當相等，如不相等則有開路存在，并記錄下每個網(wǎng)絡的電容值，作為短路測試的比較。這種方法的優(yōu)點是測試效率高，不足之處是完全依賴電容，而電容受影響因數(shù)較多，測試可靠性低于電阻法，特別是關聯(lián)的電容和二級電容造成的測量誤差，端點較少的網(wǎng)絡（如單點網(wǎng)絡）的測試可靠性較低。目前采用這種測試方法的有HIOKI和NIDEC READ公司的飛針測試機。

1.4相位差方法

此方法是將一個弦波的信號加入地層或電層，由線路層來取得相位落后的角度，從而取得電容值或電感值。測試步驟是首件板先測開路，然后測其他網(wǎng)絡的相位差值，最后測短路；第二塊以上板先測開路，再測網(wǎng)絡相位差值，對有可能的短路再用電阻法測試驗證。這種方法的優(yōu)點是測試效率較高，可靠性高；不足之處是只適合測4層以上的板，如測雙面板只能用電阻法。目前采用這種測試方法的公司有MicroCraft。

1.5自適應測試法

自適應測試法是每個測試應用過程都是一次測試完成后，根據(jù)扳子具體情況和測試規(guī)范，設備自己選擇適當?shù)臏y試過程，如一個網(wǎng)絡的網(wǎng)絡值（充電時間或電容等）小于設備測試誤差，設備會自動采用電阻測試和電場測試。這種測試方法速度最快，測試效果最好。不過，到目前還沒有接觸過采用此種測試方法的測試機。

飛針式測試儀是對傳統(tǒng)針床在線測試儀的一種改進，它可以用探針來代替針床，在X-Y機構上裝有可分別高速移動的4個頭共8根測試探針，最小測試間隙為0.2mm。工作時在測單元（UUT， unit under test）通過皮帶或者其它UUT傳送系統(tǒng)輸送到測試機內(nèi)，然后固定測試機的探針接觸測試焊盤（test pad）和通路孔（via），從而測試在測單元（UUT）的單個元件。測試探針通過多路傳輸（multiplexing）系統(tǒng)連接到驅動器（信號發(fā)生器、電源供應等）和傳感器（數(shù)字萬用表、頻率計數(shù)器等）來測試UUT上的元件。當一個元件正在測試的時候，UUT上的其它元件通過探針器在電氣上屏蔽以防止讀數(shù)干擾。

飛針測試機可檢查短路、開路和元件值。在飛針測試上也使用了一個相機來幫助查找丟失元件。用相機來檢查方向明確的元件形狀，如極性電容。隨著探針定位精度和可重復性達到5-15微米的范圍，飛針測試機可精密地探測UUT。

飛針測試解決了在PCB裝配中見到的大量現(xiàn)有問題：如可能長達4-6周的測試開發(fā)周期；大約10，000美元-50，000美元的夾具開發(fā)成本；不能經(jīng)濟地測試小批量生產(chǎn)；以及不能快速地測試原型樣機（prototype）裝配。

因為具有緊密接觸屏蔽的UUT的能力和使新產(chǎn)品更快投入市場（time-to-market）的能力，飛針測試是一個無價的生產(chǎn)資源。還有，由于不需要有經(jīng)驗的測試開發(fā)工程師，該系統(tǒng)還具有節(jié)省人力、節(jié)省時間等好處。

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