pcba老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
pcba老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
老化測(cè)試的主要目的是通過高溫、低溫、高低溫變化以及電功率等綜合作用，來模擬產(chǎn)品的日常使用環(huán)境，暴露出PCBA的缺陷，比如焊接不良，元器件參數(shù)不匹配，以及調(diào)試過程中造成的故障，以便剔除和改善，對(duì)無缺陷的PCBA板將起到穩(wěn)定參數(shù)的作用。
pcba老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
1、低溫工作
將PCBA板放在-10±3℃的溫度下1h后，在該條件下，應(yīng)帶額定負(fù)載，187V和253V條件下，通電運(yùn)行所有程序，程序應(yīng)正確無誤。
2、高溫工作
將PCBA板放在80±3℃/h后，在該條件下，帶負(fù)載，187V和253V條件下，通電運(yùn)行所有程序，程序應(yīng)正確無誤。
3、高溫高濕工作
將PCBA板在溫度65±3℃、濕度90-95%條件下，時(shí)間48h，帶額定負(fù)載通電運(yùn)行各程序，各程序應(yīng)正確無誤。
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請(qǐng)聯(lián)系本站處理。
舉報(bào)投訴
-
PCBA
+關(guān)注
關(guān)注
25文章
1874瀏覽量
55770 -
PCBA板
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
145瀏覽量
12703
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
熱點(diǎn)推薦
這些產(chǎn)品不測(cè)老化，上市后分分鐘翻車！PCBA加工必看避坑指南
一站式PCBA加工廠家今天為大家講講哪些類型產(chǎn)品PCBA加工后需要進(jìn)行老化測(cè)試?需要進(jìn)行老化測(cè)試
高壓低壓難兼顧？一「繼」搞定老化測(cè)試！
老化與壽命測(cè)試系統(tǒng)是半導(dǎo)體和電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試中的關(guān)鍵工具。根據(jù)應(yīng)用不同，老化測(cè)試設(shè)備可能需要支持最高約200V的低壓精密開關(guān)，用于IC
從原理到應(yīng)用：FCT和ICT如何覆蓋PCBA測(cè)試的‘死角’？
一站式PCBA加工廠家今天為大家講講PCBA測(cè)試中FCT與ICT的使用有什么不同?PCBA測(cè)試中FCT與ICT的使用目的。在
PCBA應(yīng)力測(cè)試方法原理和應(yīng)變片怎么粘貼
一、PCBA應(yīng)變測(cè)試可以對(duì)SMT封裝在PCBA組裝、操作和測(cè)試中受到的應(yīng)變和應(yīng)變率水平進(jìn)行客觀分析。過大的應(yīng)變都會(huì)導(dǎo)致各種模式的失效。這些失效包括焊料球開裂、線路損傷、層壓板相關(guān)的粘合
艾立羅直流充電樁老化BTS測(cè)試設(shè)備
直流樁老化測(cè)試是對(duì)直流充電樁進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間、多工況模擬運(yùn)行的測(cè)試。通過老化測(cè)試，可檢測(cè)充電樁在不同負(fù)載、環(huán)境條件下性能穩(wěn)定性與可靠性，提前暴露潛
一文了解太陽(yáng)光模擬器的汽車材料老化測(cè)試及標(biāo)準(zhǔn)解析
數(shù)天，成為汽車材料研發(fā)與質(zhì)量控制的核心技術(shù)。本文紫創(chuàng)測(cè)控Luminbox將系統(tǒng)解析太陽(yáng)光模擬器在汽車老化測(cè)試的原理、國(guó)際行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)與典型應(yīng)用場(chǎng)景。自然光對(duì)汽車材料的影
逆變器出廠前為什么要進(jìn)行老化測(cè)試？
系統(tǒng)的安全運(yùn)行。所有正規(guī)廠商在逆變器出廠前都會(huì)進(jìn)行嚴(yán)格的老化測(cè)試。那么，這種看似"折磨"設(shè)備的老化測(cè)試究竟有何意義？ 什么是老化
LCR測(cè)試儀在電容器老化測(cè)試中的應(yīng)用
在電子設(shè)備的可靠性評(píng)估中，電容器作為關(guān)鍵元件，其老化狀態(tài)直接影響系統(tǒng)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。隨著電子設(shè)備向高頻、高壓、小型化方向發(fā)展，傳統(tǒng)老化測(cè)試方法已難以滿足精密測(cè)量的需求。LCR測(cè)試儀（電感
太陽(yáng)光模擬器的紫外線老化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
紫外線通過破壞分子鍵引發(fā)材料降解，表現(xiàn)褪色、開裂、強(qiáng)度下降等問題，太陽(yáng)光模擬器憑借精準(zhǔn)復(fù)現(xiàn)太陽(yáng)光譜的能力，成為紫外線老化測(cè)試的核心設(shè)備，紫外線老化測(cè)試通過人工模擬太陽(yáng)光紫外波段（200
DIN 75220標(biāo)準(zhǔn)丨太陽(yáng)光模擬器在汽車材料老化測(cè)試的應(yīng)用
老化測(cè)試，為汽車、航空航天、建筑等領(lǐng)域的材料選擇與設(shè)計(jì)優(yōu)化提供科學(xué)依據(jù)。Luminbox全光譜準(zhǔn)直型太陽(yáng)光模擬器，結(jié)合DIN75220標(biāo)準(zhǔn)，為跨行業(yè)材料提供高精度
普源MHO5000如何破解IGBT老化測(cè)試難題
一、IGBT的老化測(cè)試挑戰(zhàn) 1.1 老化現(xiàn)象及其影響 IGBT作為電力電子系統(tǒng)的核心器件，在長(zhǎng)期使用中不可避免地會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)象。其性能衰變主要體現(xiàn)在開關(guān)速度變慢、導(dǎo)通壓降增大、閾值電壓
吉事勵(lì)充電樁老化測(cè)試設(shè)備有哪些？
充電樁老化測(cè)試設(shè)備主要包括以下三類，涵蓋批量測(cè)試、便攜檢測(cè)及負(fù)載模擬等核心功能： 一、批量老化測(cè)試設(shè)備 ?多路并行
從樣品到量產(chǎn)：PCBA老化測(cè)試如何為產(chǎn)品質(zhì)量‘保駕護(hù)航’？
一站式PCBA打樣工廠今天為大家講講PCBA打樣廠家為什么要進(jìn)行PCBA老化測(cè)試?PCBA
PCBA元件焊點(diǎn)強(qiáng)度推力測(cè)試全解析：從目的到實(shí)操指南
電子元件與PCB的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)，其強(qiáng)度是確保PCBA穩(wěn)定性的基礎(chǔ)。因此，對(duì)PCBA元件焊點(diǎn)進(jìn)行推力測(cè)試顯得尤為重要。本文科準(zhǔn)測(cè)控小編將詳細(xì)介紹PCBA元件焊點(diǎn)強(qiáng)度推力
PCBA老化測(cè)試：產(chǎn)品質(zhì)量的試金石
直接關(guān)系產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。 那么，新能源產(chǎn)品質(zhì)量如何驗(yàn)證？老化測(cè)試成為驗(yàn)證PCBA穩(wěn)定性和可靠性以及長(zhǎng)期使用性能的關(guān)鍵試驗(yàn)。 老化測(cè)試是從生產(chǎn)線
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論