動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:33

  什么是AEC-Q102的恒定加速度測試？

  

  恒定加速度測試是一種關(guān)鍵的實(shí)驗(yàn)性方法，用于評估電子元件在模擬高速動態(tài)條件下的性能。這種測試通過施加恒定的加速度來評估元件的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度和機(jī)械穩(wěn)定性，旨在揭示那些在標(biāo)準(zhǔn)測試中可能未被發(fā)現(xiàn)的潛在缺陷。這對于確保電子設(shè)備在關(guān)鍵應(yīng)用中的可靠性和安全性至關(guān)重要。測試機(jī)制恒定加速度測試模擬了電子元件在實(shí)際使用中可能遇到的離心力影響。在受控環(huán)境中，對元件施加恒定的加速度，以模

  機(jī)械 測試 電子元件

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:31

  三防測試：揭秘電子產(chǎn)品的可靠性檢測

  

  什么是三防測試？在電子產(chǎn)品的設(shè)計和制造過程中，確保其能夠在各種惡劣環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行是至關(guān)重要的。三防試驗(yàn)，包括濕熱試驗(yàn)、霉菌試驗(yàn)和鹽霧試驗(yàn)，正是為了模擬這些極端條件而設(shè)計的，用以評估電子產(chǎn)品的環(huán)境耐受性。這些測試對于保證產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中的長期穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要，尤其是在要求極高的軍事和航空航天領(lǐng)域。三防試驗(yàn)的詳細(xì)實(shí)施方法1.濕熱試驗(yàn)：該試驗(yàn)用于評估電工、電

  三防 可靠性測試 電子產(chǎn)品

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:29

  透射電子顯微鏡（TEM）：基礎(chǔ)知識概覽

  

  透射電子顯微鏡（TEM）概述透射電子顯微鏡（TEM）是材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中不可或缺的研究工具。對于新接觸TEM的科研人員而言，理解其基礎(chǔ)原理和操作對于高效利用這一設(shè)備至關(guān)重要。本文將詳細(xì)介紹TEM的基礎(chǔ)知識，以幫助新手快速掌握這一技術(shù)。TEM檢測的關(guān)鍵點(diǎn)TEM檢測主要關(guān)注材料的微觀結(jié)構(gòu)特征，包括元素分布、相組成、晶體缺陷等。這些特征在微觀層面上表現(xiàn)為不

  TEM 顯微鏡 電子顯微鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-11-06 14:27

  LED封裝用膠無氯檢測與驗(yàn)證

  

  LED封裝膠水的關(guān)鍵作用在LED產(chǎn)品的制造過程中，LED封裝膠水發(fā)揮著核心作用，它不僅關(guān)系到光線的傳輸和熱量的釋放，還負(fù)責(zé)保護(hù)LED芯片不受外部環(huán)境的侵害。因此，封裝膠水的優(yōu)劣直接決定了LED產(chǎn)品的耐用性和穩(wěn)定性。LED制造商在挑選封裝膠水時，需要基于產(chǎn)品的性能指標(biāo)和實(shí)際應(yīng)用環(huán)境，精心選擇能夠滿足LED產(chǎn)品特別需求的膠水。氯含量控制的重要性在LED封裝膠水的

  led LED封裝 檢測

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:22

  高分辨透射電鏡粉末樣品制備技術(shù)解析

  

  透射電子顯微鏡（TEM）簡介透射電子顯微鏡（TEM）能夠通過電子束穿透樣品，揭示材料的微觀世界。這種顯微鏡通過電子與樣品原子的相互作用，捕捉到不同密度和厚度的圖像，從而展現(xiàn)樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)。TEM具備極高的分辨率，達(dá)到0.1至0.2納米，并且能夠提供數(shù)萬至百萬倍的放大能力，專門用于觀察小于0.2微米的微觀結(jié)構(gòu)。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有先進(jìn)的TEM設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，能

  TEM 顯微鏡 電鏡

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:20

  背散射電子衍射（EBSD）的原理與應(yīng)用領(lǐng)域

  

  No.1EBSD從原理到應(yīng)用電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域中扮演著重要角色，特別是在掃描電子顯微鏡（SEM）中，它為研究者提供了一種獲取樣品晶體學(xué)信息的強(qiáng)大工具。EBSD技術(shù)不僅能夠測量晶體取向、分析晶界取向差異，還能鑒別物相和評估局部晶體的完整性。與傳統(tǒng)的金相、投射、XRD、掃描等表征方法相比，EBSD提供了更為豐富和直觀的晶粒取向信息。金鑒

  SEM 顯微鏡 設(shè)備

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:19

  X射線檢測與C-SAM檢測的區(qū)別

  

  在失效分析領(lǐng)域，X射線檢測和超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）是兩種重要的無損檢測技術(shù)，它們各自具有獨(dú)特的特點(diǎn)和應(yīng)用場景。失效分析技術(shù)對比：X射線檢測（X-RAY）與超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）。檢測目標(biāo)的區(qū)分X射線檢測：這種技術(shù)在電子行業(yè)中的應(yīng)用非常廣泛，主要用于檢測印刷電路板（PCB）的焊接質(zhì)量，包括但不限于表面貼裝技術(shù)（SMT）和插件孔技術(shù)（PTH）的組

  X射線 半導(dǎo)體芯片 顯微鏡 檢測

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:17

  AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)中的靜電放電（ESD）測試

  

  什么是靜電放電（ESD）lectro-StaticDischarge，是指在特定環(huán)境下，由于靜電的積累到達(dá)一定程度后，電荷以迅速釋放的方式恢復(fù)電平衡的現(xiàn)象。這種放電可能由接觸、摩擦或感應(yīng)等多種方式引發(fā)。ESD的特點(diǎn)是電荷積累時間長、放電電壓高、涉及電量少、電流小且作用時間極短。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有先進(jìn)的設(shè)備和專業(yè)的團(tuán)隊(duì)，能夠?yàn)榭蛻籼峁┤娴腅SD測試服務(wù)，確保電子

  ESD 半導(dǎo)體 靜電放電

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• 發(fā)布了文章 2024-11-05 15:15

  離子污染評估：揭秘LED燈具中的離子污染測試

  

  離子污染物的定義與影響附著在產(chǎn)品表層、未經(jīng)過徹底清潔處理的殘留物被叫做離子污染物。當(dāng)這些殘留物暴露于潮濕環(huán)境時，它們會轉(zhuǎn)化為帶電的離子。這些殘留物可能來源于多種源頭，包括電鍍所用的化學(xué)藥水、焊接過程中使用的助焊劑、用于清潔產(chǎn)品的溶劑，以及人體接觸時留下的汗液等。控制離子污染的重要性控制離子污染度對于保證電子產(chǎn)品的可靠性至關(guān)重要。殘留的離子污染物在環(huán)境變化時可

  LED燈具 測試 測試儀

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• 發(fā)布了文章 2024-11-04 13:00

  一文帶你了解透過率測量

  

  透過率的定義光透過能力，即透光率，描述的是特定條件下，物體透過的光量與其接收的入射光量之間的比例。在光的傳播過程中，部分光線會被物體吸收，而另一部分則能夠穿透物體，這種透過現(xiàn)象被稱作透光率。金鑒實(shí)驗(yàn)室在這一領(lǐng)域擁有先進(jìn)的技術(shù)和設(shè)備，能夠?yàn)榭蛻籼峁┚珳?zhǔn)的透過率測量服務(wù)，確保測量結(jié)果的可靠性與科學(xué)性。測定透過率的重要意義及其應(yīng)用透光率與物質(zhì)的物理特性緊密相關(guān)，并

  測量 測量系統(tǒng) 透過率

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