動(dòng)態(tài)

• 發(fā)布了文章 2024-11-04 12:59

  耐久性測試：氙燈加速老化測試

  

  在自然界中，產(chǎn)品經(jīng)常遭受光照的影響，尤其是太陽光中的紫外線（UV），結(jié)合溫度和濕度的變化，可能導(dǎo)致產(chǎn)品性能下降、表面裂紋、脫落、色澤變暗、變色、粉化等老化現(xiàn)象。光照和濕氣是引起材料老化的兩個(gè)主要因素。太陽光中的不同波長對材料的降解作用不同，這與材料對光譜的敏感性有關(guān)，不同材料對光譜的響應(yīng)也不盡相同。氙燈老化試驗(yàn)?zāi)軌蚰M全陽光光譜，是目前模擬自然氣候條件下材料

  測試 老化測試 耐久性

  505瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-11-04 12:57

  氬離子拋光技術(shù)：頁巖電鏡樣品制備的高效解決方案

  

  氬離子拋光技術(shù)：頁巖樣品制備頁巖，這種由高嶺石、水云母等黏土礦物經(jīng)脫水膠結(jié)形成的沉積巖，以其層狀結(jié)構(gòu)而著稱。按成分差異，頁巖可被劃分為炭質(zhì)、鈣質(zhì)、砂質(zhì)和硅質(zhì)等多種類型，其中硅質(zhì)頁巖因其較高的強(qiáng)度而較為特殊。頁巖中的微觀孔隙和裂隙是頁巖氣的重要儲(chǔ)集空間和運(yùn)移通道，這些孔隙的發(fā)育程度直接決定了頁巖氣的儲(chǔ)量及其勘探開發(fā)潛力?？紫缎螒B(tài)多樣，包括顆粒表面溶蝕孔隙、顆粒

  SEM 機(jī)械 電鏡

  543瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-11-04 12:55

  TEM樣品制備中載網(wǎng)的選擇技巧

  

  透射電子顯微鏡（TEM）作為電子顯微學(xué)中的重要設(shè)備，與掃描電子顯微鏡（SEM）并列，構(gòu)成了現(xiàn)代電子顯微學(xué)的兩大支柱。TEM通過電子束穿透樣品來獲取圖像，因此樣品的多個(gè)物理特性，如厚度、導(dǎo)電性、磁性和分散性，都對最終的成像結(jié)果有著顯著的影響。在TEM樣品制備過程中，相較于SEM，TEM的制樣技術(shù)更為精細(xì)和復(fù)雜，需要根據(jù)樣品的具體特性來選擇最合適的制樣方法。本文

  TEM 顯微鏡

  596瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-11-04 12:54

  LED光源光學(xué)特性概覽

  

  LED光源的光學(xué)特性解析照明技術(shù)經(jīng)歷了從早期的白熾燈、熒光燈、金鹵燈的演變，到現(xiàn)在LED技術(shù)的蓬勃發(fā)展，照明行業(yè)一直在不斷突破新的高度。LED光源以其出色的能源效率、可靠性、長久的使用壽命和環(huán)保優(yōu)勢，已經(jīng)成為照明技術(shù)中的一個(gè)亮點(diǎn)。接下來我們一起探討LED光源的光學(xué)特性，包括其光譜特性、光束模式、色溫和色彩表現(xiàn)、光效以及亮度等關(guān)鍵領(lǐng)域。光譜分布光譜分布描述了特

  led LED光源 光學(xué)

  1.4k瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-11-01 14:24

  高濃度二氧化硫環(huán)境下金屬及其鍍層腐蝕性能測試

  

  金屬氣體腐蝕是一種在無液態(tài)介質(zhì)參與下，金屬與氣態(tài)腐蝕介質(zhì)直接反應(yīng)引起的腐蝕。這一過程受多種環(huán)境條件的影響，尤其是溫度、濕度以及環(huán)境中腐蝕介質(zhì)的含量，這些是影響腐蝕水平的關(guān)鍵要素。確定氣體腐蝕實(shí)驗(yàn)的嚴(yán)格性和條件，需要考慮使用的腐蝕性氣體類型和暴露持續(xù)時(shí)間。為了復(fù)現(xiàn)自然環(huán)境中的腐蝕作用，金鑒實(shí)驗(yàn)室可以開展包括一氧化氮（NO2）、二氧化硫（SO2）、二氧化碳（CO

  測試 腐蝕檢測

  660瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-11-01 14:23

  石油地質(zhì)領(lǐng)域中的氬離子拋光儀：技術(shù)應(yīng)用與效果分析

  

  在石油地質(zhì)學(xué)領(lǐng)域，掃描電子顯微鏡（SEM）扮演著核心角色，它被廣泛用于分析沉積巖中的有機(jī)質(zhì)來源、探究粘土礦物特性、觀察鈣質(zhì)超微化石以及評(píng)估儲(chǔ)集巖的性能。SEM技術(shù)使得科學(xué)家能夠洞察巖石內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)，這對于油氣勘探和開發(fā)而言是至關(guān)重要的。金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有先進(jìn)的氬離子拋光設(shè)備，能夠?yàn)榭蛻籼峁└哔|(zhì)量的樣品制備服務(wù)，確保在使用SEM進(jìn)行觀測時(shí)，數(shù)據(jù)的精確度和可信度得

  SEM 電子顯微鏡 石油

  573瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-11-01 14:23

  什么是AEC-Q-CDM測試？

  

  CDM（ChargedDeviceModel）作為一種獨(dú)特的ESD（ElectrostaticDischarge）模擬方式，與HBM（HumanBodyModel）和MM（MachineModel）有所區(qū)別。此模型專注于模擬電子設(shè)備在生產(chǎn)或物流環(huán)節(jié)中積累的靜電，在接觸地面或其他導(dǎo)電物體時(shí)引發(fā)的快速電荷釋放現(xiàn)象。CDM放電事件的特點(diǎn)是極其迅速的電流上升階段，通

  CDM ESD 模擬電子

  828瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-11-01 14:21

  FIB在TEM樣品制備中的利與弊

  

  透射電子顯微鏡（TEM）樣品制備是現(xiàn)代材料科學(xué)研究的重要環(huán)節(jié)。在這一過程中，金鑒實(shí)驗(yàn)室憑借其先進(jìn)的設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，能夠?yàn)榭蛻籼峁└哔|(zhì)量的FIB測試服務(wù)，確保樣品制備的精確性和可靠性。透射電子顯微鏡（TEM）樣品制備1.粉末樣品：適用于粉末形態(tài)的觀察、粒度分析以及結(jié)構(gòu)和成分的分析。2.薄膜樣品：適用于研究樣品的內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)、成分、位錯(cuò)排列及其密度，以及晶

  fib TEM 顯微鏡

  794瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-10-31 22:56

  探索電子背散射衍射（EBSD）：基礎(chǔ)原理與應(yīng)用領(lǐng)域

  

  EBSD分析的樣品制備與數(shù)據(jù)處理在材料科學(xué)領(lǐng)域，電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是一種強(qiáng)大的工具，它能夠提供材料微觀結(jié)構(gòu)的詳細(xì)信息。為了確保EBSD分析的準(zhǔn)確性和有效性，樣品的制備和數(shù)據(jù)的采集與處理至關(guān)重要。樣品制備的重要性EBSD分析要求樣品表面達(dá)到一定的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，以確保能夠獲得清晰的衍射圖案。理想的樣品應(yīng)符合以下要求：1.表面平整性：樣品表面必須平整，以確

  數(shù)據(jù)采集 測試

  704瀏覽量

• 發(fā)布了文章 2024-10-31 22:49

  提升產(chǎn)品穩(wěn)定性：可靠性設(shè)計(jì)的十大關(guān)鍵要素

  

  在當(dāng)今競爭激烈的市場中，產(chǎn)品的可靠性已成為衡量其成功的關(guān)鍵因素之一?？煽啃圆粌H關(guān)系到產(chǎn)品的長期性能，還直接影響到客戶的滿意度和企業(yè)的聲譽(yù)。因此，從產(chǎn)品開發(fā)的早期階段開始，就必須將可靠性設(shè)計(jì)作為核心考慮因素。金鑒實(shí)驗(yàn)室提供專業(yè)的可靠性測試服務(wù)，幫助企業(yè)確保產(chǎn)品的質(zhì)量與穩(wěn)定性。以下是確保產(chǎn)品可靠性的一系列關(guān)鍵步驟，這些步驟有助于開發(fā)出既耐用又可靠的產(chǎn)品。設(shè)定可靠

  可靠性設(shè)計(jì) 測試 電子元器件

  1.1k瀏覽量