動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-10-31 22:40
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發(fā)布了文章 2024-10-31 22:36
微電子制造中的FIB-SEM雙束系統(tǒng):技術(shù)應(yīng)用與進(jìn)展
在微電子行業(yè)重要性在微電子行業(yè)中,F(xiàn)IB-SEM雙束系統(tǒng)的應(yīng)用至關(guān)重要,它不僅涵蓋了芯片樣品的精密切割,還包括對工藝缺陷的深入分析和器件結(jié)構(gòu)的細(xì)致表征。這一系統(tǒng)以其卓越的性能,極大地促進(jìn)了科研人員和工程師對微電子器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)與性能的深入理解,為新型器件的設(shè)計(jì)和制造提供了關(guān)鍵的技術(shù)支持。金鑒實(shí)驗(yàn)室具備先進(jìn)的設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì),能夠提供高質(zhì)量的FIB-SEM雙 -
發(fā)布了文章 2024-10-31 22:34
變頻振動(dòng)與機(jī)械沖擊的重要性
AEC變頻振動(dòng)和機(jī)械沖擊測試在汽車電子行業(yè)中,AEC變頻振動(dòng)測試和機(jī)械沖擊測試是確保產(chǎn)品在動(dòng)態(tài)環(huán)境中穩(wěn)定性和耐用性的關(guān)鍵步驟。這些測試通過模擬汽車實(shí)際運(yùn)行時(shí)可能遇到的振動(dòng)和沖擊情況,來驗(yàn)證電子產(chǎn)品是否能夠在這些條件下保持正常工作和預(yù)期的性能。變頻振動(dòng)測試的關(guān)鍵作用變頻振動(dòng)測試是在變頻控制下進(jìn)行的,它分析了電機(jī)在不同轉(zhuǎn)速、負(fù)載和工作狀態(tài)下產(chǎn)生的振動(dòng)特性,包括振 -
發(fā)布了文章 2024-10-29 16:16
電子產(chǎn)品中的離子污染檢測技術(shù)
隨著電子技術(shù)不斷進(jìn)步,電子設(shè)備內(nèi)部的電路板設(shè)計(jì)愈發(fā)精密,元件間距不斷減小,走線布局也更加密集。對電路板,無論是裸板(PCB)還是組裝后的板(PCBA),其清潔度的標(biāo)準(zhǔn)也隨之提高。在諸多影響清潔度的因素中,離子污染成為了一個(gè)尤為關(guān)鍵的控制點(diǎn)。離子污染可能導(dǎo)致電路板上異常的離子遷移,進(jìn)而引發(fā)產(chǎn)品失效,如腐蝕、短路等問題。據(jù)研究,污染問題導(dǎo)致的電子產(chǎn)品失效率超過6827瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-10-29 16:14
電子背散射衍射(EBSD)在材料科學(xué)中的應(yīng)用與解讀
EBSD技術(shù)的興起與成熟電子背散射衍射(EBSD)技術(shù),作為材料科學(xué)領(lǐng)域的一項(xiàng)革命性技術(shù),自其商業(yè)化以來,已經(jīng)迅速成為材料研究者們的重要工具。這一技術(shù)的發(fā)展得益于信息技術(shù)的飛速進(jìn)步,使得EBSD在相對較短的時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)了技術(shù)的成熟和廣泛應(yīng)用。晶粒取向EBSD技術(shù)的優(yōu)勢EBSD技術(shù)之所以受到材料研究者的廣泛青睞,主要原因在于其依托于掃描電子顯微鏡(SEM)的強(qiáng)大 -
發(fā)布了文章 2024-10-29 16:12
溫度因素對產(chǎn)品穩(wěn)定性的作用與溫度試驗(yàn)技術(shù)評估
高溫環(huán)境下的挑戰(zhàn)在產(chǎn)品可靠性工程中,溫度極端條件的測試是至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。接下來我們對溫度波動(dòng)對產(chǎn)品性能的具體影響,并分析不同的高低溫試驗(yàn)方法。高溫條件對產(chǎn)品構(gòu)成了一系列挑戰(zhàn):材料熱膨脹系數(shù)的差異可能導(dǎo)致結(jié)構(gòu)變形和連接處的剝離;潤滑劑的流失或性能下降增加了機(jī)械部件的磨損風(fēng)險(xiǎn);密封材料的軟化或變形可能導(dǎo)致密封失效;粘結(jié)劑和涂層可能會因熱而失效,引發(fā)機(jī)械故障;電子895瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-10-29 16:10
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發(fā)布了文章 2024-10-29 16:08
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發(fā)布了文章 2023-12-06 08:25
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發(fā)布了文章 2023-11-15 08:26