通常情況下,來自人體某個部分(手指)的放電將給給不同的材料充電,隨后傳遞到附著在電子器件的導(dǎo)電觸點。這將造成IC損壞,并有理由指責(zé)終端用戶器件制造商。
不幸地是,這項任務(wù)經(jīng)常遵循事后回想的設(shè)計原則:首先搭建沒有額外過壓瞬間抑制的電路,依靠板上的IC來進(jìn)行保護(hù)。如果測試能顯示在原型階段的靈敏度,那么就加上保護(hù)器件。如果這種方法被采用來滿足當(dāng)今更低放大電壓,增加頻率和更低噪聲的要求的話,整個設(shè)計必須最優(yōu)的并是集成的。在末端增加保護(hù)可能非常昂貴,或由于時間限制而不切實際。
通常,ESD事件是由根據(jù)充電過程類型和瞬態(tài)電泳嚴(yán)重程度的三種主要ESD算法描述的:人體模型(HBM)、充電器件模型(CDM)和機(jī)器模型(MM)。這些模型定義了瞬變效應(yīng)的類型,因此設(shè)計工程師們就可以定義明確的半導(dǎo)體過壓芯片瞬變等級靈敏度,以及芯片及裝配產(chǎn)品測試規(guī)程。利用這些模型,電路設(shè)計工程師可以測試芯片和產(chǎn)品的ESD保護(hù)效率相一致,而且可以定量地與可選方案進(jìn)行比較。
電荷通過一系列電阻器直接傳遞,例如人的手指,是最普遍的ESD損壞原因。因此,優(yōu)秀的ESD模型是HBM。在測試中待測器件中(DUT),這是由一個100pF的電容通過一個1500Ω的電阻向器件放電來表示的。這個標(biāo)準(zhǔn)的商業(yè)版本是軍用規(guī)范883方法3015(圖1a)。
最流行的HBM變種是國際電工委員會IEC1000-4-2標(biāo)準(zhǔn),定義為150pF電容通過一個330Ω電阻放電(圖1b)。這是歐盟對在其區(qū)域內(nèi)商品銷售所必須的國際測試。
但是,明顯的瞬間電壓威脅和能量等級的不同存在于兩個模型之中。于是設(shè)計工程師可以使測試過程適合他們所期望的具體應(yīng)用。例如,IEC1000-4-2具有一個非??焖俚碾娖矫}沖上升時間,能應(yīng)用更多的脈沖和更高的峰值電流(見表格)。
最近,電路設(shè)計工程師已經(jīng)正在通過一定數(shù)量的瞬間電壓抑制器(TVS)器件增加保護(hù)。一些例子包括固狀器件(二極管)、金屬氧化物變阻器(MOV)、可控硅整流器、其他可變電壓的材料(新聚合物器件)、氣體電子管和簡單的火花隙。
這類器件被放置在輸入端和地之間。當(dāng)輸入電壓達(dá)到引起它們“開路”或?qū)ǖ乃綍r,它們能迅速把阻抗降低。理想地,輸入威脅被部分地反射回去,而平衡被部分地通過導(dǎo)通的TVS器件分流到地上。所以,在電路中只有更小比例的威脅能夠達(dá)到敏感的IC。
但是ESD抑制器件也有著其自身的優(yōu)缺點,隨著新一代高速電路的出現(xiàn),一些缺點被放大了。例如,TVS必須迅速響應(yīng)到來的浪涌電壓。浪涌電壓在0.7ns達(dá)到8KV(或更高)峰值時,TVS器件的觸發(fā)或調(diào)整電壓(與輸入線平行)必須要足夠低以便作為一個有效的電壓分配器。
一些器件可保護(hù)電路,但在僅幾次電流脈沖和/或陷入進(jìn)入低阻(短路)狀態(tài)后就老化了,形成電路到地的大電電流通道。這點對由電池驅(qū)動的器件來說是致命的。
每個器件有其自身的差異。氣體放電管可通過大電流,但是響應(yīng)速度很慢。它們也會老化且不能恢復(fù)。MOV能為高速電路提供相對緩慢的導(dǎo)通響應(yīng)。硅二極管的觸發(fā)響應(yīng)速度非常快,導(dǎo)通電壓低,但它們像MOVS和其他器件一樣,電容比較高,從而影響高速信號。
頻率越高,電容效應(yīng)就越大。全新的ESD變壓器件是當(dāng)前僅有能夠提供極低電容和非常低關(guān)斷漏電流的產(chǎn)品。此外,在多次脈沖之后它們能自我恢復(fù)。
現(xiàn)在考慮成本因素。設(shè)計工程師盡可能地把非主要器件的成本降到最低。由于供大于求,二極管的價格一直以來都很低。一些新的高頻聚合物器件的價格也十分有競爭力。
過去幾個主要的設(shè)計因素簡化了ESD抑制器問題。工作電壓更高、速度更慢、更魯棒的IC對浪涌電壓不那么敏感。更低的工作頻率也意味著保護(hù)速度不那么重要。同時,阻抗更高線路和引腳元件的電路、金屬更多的封裝以及更少的外部節(jié)點,也使事情變得更加簡單。
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