測試，相信對每一個(gè)搞程序的都不會(huì)生疏，然后我們會(huì)聯(lián)想到什么單元測試，集成測試，發(fā)布測試，黑盒測試，白盒測試等等一系列的名詞。但在單片機(jī)領(lǐng)域，更多的功能測試。測試人員，在試用產(chǎn)品后，發(fā)現(xiàn)bug然后報(bào)告給研發(fā)人員，往往忽略中間的單元測試，在開發(fā)的過程中就保證各模塊的功能。

對于一些JAVA， C++開發(fā)人員，cppunit， junit這些自動(dòng)化測試框架，然而，對于單片機(jī)開發(fā)人員，又怎么實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試呢？

下面就UART驅(qū)動(dòng)的測試說起。

測試的目的

首先確認(rèn) 功能這條主線可以走通。比如UART發(fā)送字符這個(gè)功能主線是：SysCtl 配置MCU時(shí)鐘源，配置UART時(shí)鐘源， SysCtl使能UART外設(shè)， GPIO配置RX， TX管腳的復(fù)用，配置BAUD工作模式等，然后才是發(fā)送。 也就是說，想要成功發(fā)送一個(gè)字符，前面的每一個(gè)都不能缺失。

其次是功能的正確性。

在其次是改善，改進(jìn)，優(yōu)化。

什么是一個(gè)測試

測試，給定一個(gè)條件，然后會(huì)得到一個(gè)結(jié)果，期望的結(jié)果與實(shí)際的結(jié)果比較，如果一致，就說測試通過，否則，失敗。待測功能，就像是一個(gè)方程式，我們一個(gè)一個(gè)的代入，看每一次的結(jié)果是否正確。

對于人來說，最終的結(jié)果，需要通過人的聽覺或視覺感知的。從終端看到一個(gè)Pass說明測試通過，LCD正確顯示了字符，也說明了通過。我把測試分了一下類：

不能通過程序讀到結(jié)果的，只能通過人看到或聽到的，比如LCD， 這類無法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試。

一類可以通過程序讀到結(jié)果的，一般是執(zhí)行了一些程式，會(huì)得到一個(gè)狀態(tài)/結(jié)果，程序正好可以讀到。比如 Write后Read.

可以把底一類轉(zhuǎn)換成第二類的。比如UART的發(fā)送，可以通過超級(jí)終端看到結(jié)果判斷，也可以借助UART2（功能正確的）， 它們之間通信，來實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化。

都說C語言 = 函數(shù) + 數(shù)據(jù)，測試同樣。好點(diǎn)的代碼，是不會(huì)把數(shù)據(jù)與函數(shù)混在一起的。那么什么是測試數(shù)據(jù)呢？

typedef struct

{

tTestCondition sCondition;

tTestResult sExpectResult;

}tTestData;

tTestData psTestDataTable［］ = {

{ ， }，

{ ， }，

};

一個(gè)一個(gè)測試，將構(gòu)成這樣一個(gè)結(jié)構(gòu)體數(shù)組。測試數(shù)據(jù)的增加，或修改僅僅需要修改這個(gè)數(shù)組就可以，而無需修改代碼。測試，同樣變的很好維護(hù)。

什么是自動(dòng)化測試

自動(dòng)化測試，其實(shí)就是自動(dòng)調(diào)用每一個(gè)測試，一個(gè)一個(gè)調(diào)用，然后，以人可以感知的方式，報(bào)告結(jié)果。比如，在超級(jí)終端中打印PASS.

每一個(gè)測試，都可能需要首先構(gòu)造它們自己的初始環(huán)境。每一個(gè)測試之間，它們不能互相影響。也就是說，測試執(zhí)行完后，它需要還原環(huán)境到復(fù)位狀態(tài)。

下面描述下，我經(jīng)常用到的測試框架，這是我從一個(gè)開源項(xiàng)目中改變過來的：

一個(gè)測試工程，有多組測試（Suite）， 一個(gè)組（Suite）下可能有多個(gè)測試。組的概念，其實(shí)就是組件，把相似的放在一組，就像文件夾組織。

//*****************************************************************************

//

//！ brief Structure representing a test case.

//

//*****************************************************************************

typedef struct

{

//

//！ brief Test case name get function.

//

char* （*GetTest）（void）;

//

//！ brief Test case preparation function.

//

void （*Setup）（void）;

//

//！ brief Test case clean up function.

//

void （*TearDown）（void）;

//

//！ brief Test case execution function.

//

void （*Execute）（void）;

}

tTestCase;

Setup是為了構(gòu)造測試需要的環(huán)境。TearDown是在測試執(zhí)行后，還原測試環(huán)境。Execute才是測試主體。Execute中可以進(jìn)行一些TestAssert， 來執(zhí)行一個(gè)一個(gè)的判斷。

GetTest僅僅是為了在終端打印一下這個(gè)測試的內(nèi)容。

下面是框架main：

xtBoolean

TestMain（void）

{

int i， j;

TestIOInit（）;

PrintLine（“”）;

PrintLine（“*** CooCox CoIDE components test suites”）;

PrintLine（“***”）;

#ifdef TEST_COMPONENTS_NAME

Print（“*** Components： ”）;

PrintLine（TEST_COMPONENTS_NAME）;

#endif

#ifdef TEST_COMPONENTS_VERSION

Print（“*** Version： ”）;

PrintLine（TEST_COMPONENTS_VERSION）;

#endif

#ifdef TEST_BOARD_NAME

Print（“*** Test Board： ”）;

PrintLine（TEST_BOARD_NAME）;

#endif

PrintLine（“”）;

g_bGlobalFail = xfalse;

i = 0;

while （g_psPatterns［i］）

{

j = 0;

while （g_psPatterns［i］［j］）

{

PrintNewLine（）;

Print（“--- Test Case ”）;

PrintN（i + 1）;

Print（“?！保?

PrintN（j + 1）;

Print（“ （”）;

Print（g_psPatterns［i］［j］-》GetTest（））;

PrintLine（“）”）;

ExecuteTest（g_psPatterns［i］［j］）;

if （g_bLocalFail == xtrue）

{

Print（“--- Result： FAILURE ”）;

PrintLine（“”）;

//

//printf error information

//

Print（g_pcErrorInfoBuffer）;

PrintLine（“”）;

if （g_pcTokensBuffer 《 g_pcTok）

{

Print（“ The tokens in buffer is： ”）;

PrintTokens（）;

PrintLine（“”）;

}

}

else

{

PrintLine（“--- Result： SUCCESS ”）;

}

j++;

}

i++;

}

PrintNewLine（）;

PrintLine（“”）;

Print（“Final result： ”）;

if （g_bGlobalFail == xtrue）

PrintLine（“FAILURE”）;

else

PrintLine（“SUCCESS”）;

return g_bGlobalFail;

}

如需完整的測試框架代碼，請聯(lián)系我，或前往我們的開源項(xiàng)目：https://github.com/coocox/cox.

這是一個(gè)統(tǒng)一API標(biāo)準(zhǔn)的外設(shè)庫。基于CoX的驅(qū)動(dòng)，無需移植，就可以用到其他MCU平臺(tái)。