，2020年IC市場(chǎng)將會(huì)迎來(lái)一波增長(zhǎng)，同時(shí)NAND閃存增長(zhǎng)最快。由于全球供應(yīng)過(guò)剩，PC和移動(dòng)設(shè)備的需求疲軟以及宏觀不利因素，NAND和DRAM存儲(chǔ)器芯片的市場(chǎng)價(jià)格在過(guò)去兩年中暴跌。因此，這兩個(gè)存儲(chǔ)市場(chǎng)強(qiáng)勁的預(yù)期市場(chǎng)增長(zhǎng)并不令人感到意外。預(yù)計(jì)2020年NAND閃存市場(chǎng)將增長(zhǎng)19％，DRAM預(yù)計(jì)增長(zhǎng)12%。但
2019-12-05 10:14:46
15795 全球快閃記憶體(NAND Flash)控制晶片廠群聯(lián)電子(8299)董事長(zhǎng)潘健成表示，由于NAND Flash控制晶片的設(shè)計(jì)愈加復(fù)雜、所需人力及銀彈越來(lái)越高，因此如果只賣IC，生意不好做，要賺錢變得更困難，NAND Flash控制晶片已正式進(jìn)入1X奈米時(shí)代。
2018-09-21 11:50:424615 IC測(cè)試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來(lái)越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測(cè)試方法也變得越來(lái)越困難。因此
2024-10-12 08:03:423652 
邊界掃描測(cè)試 為了對(duì)電路板級(jí)的邏輯和連接進(jìn)行測(cè)試，工業(yè)界和學(xué)術(shù)界提出了一種邊界掃描的設(shè)計(jì)，邊界掃描主要是指對(duì)芯片管腳與核心邏輯之間的連接進(jìn)行掃描。掃描路徑設(shè)計(jì)(Scan Design) 掃描路徑
2011-12-15 09:35:34
。如果不匹配，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試座損壞。
正確的連接：
在連接IC和測(cè)試座時(shí)，一定要確保它們之間的連接是緊密和穩(wěn)定的。任何松動(dòng)的連接都可能導(dǎo)致IC損壞或無(wú)法正常工作。
2023-08-12 16:56:58
本文詳細(xì)介紹了芯片開發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中的IC測(cè)試基本原理。
2021-05-08 07:33:52
萬(wàn)用電表有，其紅表筆所
連接的是表內(nèi)電池的負(fù)極，黑表筆則
連接著表內(nèi)電池的正極。假定我們并不知道被測(cè)三極管是NPN型還是PNP型，也分不清各
管腳是什么電極。
測(cè)試的 第一步是判斷哪個(gè)
管腳是基極。這時(shí)，我們?nèi)稳?/div>
2018-02-05 15:30:05
IC芯片測(cè)試專業(yè)研發(fā)各類BGA/QFN測(cè)試座、老化座(Burn-in & Test Socket)； &
2009-12-05 16:45:29
Flash連接到MCU的嵌入式系統(tǒng)，其約束是完全不同的。了解這些差異將幫助開發(fā)人員避免代價(jià)高昂且耗時(shí)的錯(cuò)誤。明確需求為了在面對(duì)NAND Flash的細(xì)微差別時(shí)，做出良好的設(shè)計(jì)決策，開發(fā)人員必須仔細(xì)確定系統(tǒng)
2020-09-04 13:51:34
求教 對(duì)ad8367進(jìn)行VGA測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)DETO 管腳為1.9V，完全按照手冊(cè)figure33圖連接，對(duì)DETO 進(jìn)行電壓測(cè)試時(shí)，DETO 管腳和7ICOM管腳是否需要連接接地，對(duì)輸入信號(hào)200MV，68.2HZ的正弦信號(hào)可以嗎？為什么輸出信號(hào)為雜波
2018-12-20 09:11:46
IC卡管腳的特性，進(jìn)行測(cè)試；5.LCD顯示二維碼做測(cè)試，測(cè)試主機(jī)掃碼判斷測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；6.蜂鳴器測(cè)試，測(cè)試主機(jī)用咪頭感應(yīng)測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；7.打印測(cè)試，打印二維碼做測(cè)試，測(cè)試主機(jī)掃碼判斷測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；...
2022-02-11 07:03:24
STM32參考例程，適用于需要大容量存儲(chǔ)但對(duì)穩(wěn)定性要求高的MCU項(xiàng)目。
[]()
芯片規(guī)格型號(hào)
CSNP32GCR01-AOW
[]()
轉(zhuǎn)接板型號(hào)
SD NAND測(cè)試板
適用產(chǎn)品
2025-02-12 15:05:50
。請(qǐng)幫我確認(rèn)一下。3、我們的PCB為了節(jié)省空間，只想用兩片16bit的內(nèi)存，也就是只連接DDRC0控制器，總?cè)萘繛?GB，另外一個(gè)DDRC1不連接，請(qǐng)問(wèn)將來(lái)跑linux系統(tǒng)和DSP算法同時(shí)運(yùn)行，這樣設(shè)計(jì)能否滿足要求？希望大家給予幫助，謝謝大家了。
2018-05-28 13:30:39
Device Tree是什么？
2022-03-02 10:15:01
如圖所示，這個(gè)IC 充電狀態(tài)管腳高低電平的狀態(tài)靠什么檢測(cè)？
2021-01-06 14:41:24
什么以獲得非 XIP 應(yīng)用程序？ 任何 mcubootutility 內(nèi)置示例現(xiàn)在得到的結(jié)果如下： SEMC NAND有沒有已經(jīng)做好的測(cè)試文件？
2023-03-29 07:39:05
在嵌入式系統(tǒng)領(lǐng)域，做為存儲(chǔ)設(shè)備的NOR flash和NAND flash，大家應(yīng)該不陌生。早期NOR flash的接口是并行口的形式，也就是把數(shù)據(jù)線，地址線并排設(shè)置與IC的管腳中。但是由于不同容量
2018-08-07 17:01:06
TSOP48測(cè)試機(jī)，BGA植球返修， IC測(cè)試架(BGA IC測(cè)試治具和BGA 測(cè)試座)。如QFP測(cè)試座，QFN測(cè)試座FPC測(cè)試架內(nèi)存條測(cè)試治具 手機(jī)測(cè)試治具 BGA植球 BGA燒錄座 ,U盤測(cè)試
2011-05-18 13:22:24
本公司長(zhǎng)年提供IC測(cè)試服務(wù) ，具體服務(wù)內(nèi)容如下： IC封裝測(cè)試服務(wù)：利用BOUNDARY SCAN（邊界掃描）測(cè)試設(shè)備提供FPGA、PLD、ARM、DSP等常見器件型號(hào)驗(yàn)證及管腳
2009-07-21 11:40:36
互連的開路與短路故障,可采用外部測(cè)試加以驗(yàn)證: ·測(cè)試PCB上總線的完整性,通過(guò)其測(cè)試可檢測(cè)與總線相連的IC芯片I/O管腳是否存在開路故障?！ ‰S著BST技術(shù)的不斷發(fā)展,PCB測(cè)試將逐步完善。由于
2018-09-10 16:50:00
，通過(guò)我們公司的"基于U盤測(cè)試夾具"測(cè)試后可以將閃存部分沒有損壞的eMMC IC用作U盤FLASH; C、我們最近推出一拖四、一拖八NAND Flash燒錄器，可以
2013-05-27 22:01:53
同步博客地址：從STM32開始的RoboMaster生活：進(jìn)階篇 V [Clock Tree]項(xiàng)目&教程倉(cāng)庫(kù)：-STM32-RoboMaster-1.0 什么是Clock Tree？1.1
2021-08-11 08:41:57
卡有著本質(zhì)上的區(qū)別。
SD NAND 與 TF卡的區(qū)別：（看圖表）
SD和TF區(qū)別
LGA-8封裝
什么是LGA-8封裝？
LGA-8封裝是一種將芯片引腳通過(guò)電路板的層間連接
2024-01-05 17:54:39
SD NAND是一種小型、可表面貼裝的存儲(chǔ)解決方案，適用于各種嵌入式系統(tǒng)和便攜式設(shè)備。SD NAND技術(shù)是近年來(lái)在存儲(chǔ)領(lǐng)域內(nèi)的一項(xiàng)創(chuàng)新，它結(jié)合了傳統(tǒng)SD/TF卡的功能與NAND閃存的持久性，以適應(yīng)
2024-12-06 11:22:41
剖析線纜與連接器技術(shù)的測(cè)試要點(diǎn)
2021-05-11 07:17:13
件（草稿件由客人確認(rèn)清楚）4.確認(rèn)OK后，我司會(huì)安排在IC防火測(cè)試報(bào)告電子檔正式文件給客戶5.寄出正本文件IC-4防火測(cè)試報(bào)告申請(qǐng)周期：5-7個(gè)工作日QQ3004686958電話（微信同號(hào)）***楊先生
2020-05-27 11:09:07
件（草稿件由客人確認(rèn)清楚）4.確認(rèn)OK后，我司會(huì)安排在IC防火測(cè)試報(bào)告電子檔正式文件給客戶5.寄出正本文件IC-4防火測(cè)試報(bào)告申請(qǐng)周期：5-7個(gè)工作日QQ3004686958電話（微信同號(hào)）***楊先生
2020-05-27 11:12:17
如何采用多功能混合信號(hào)管腳實(shí)現(xiàn)汽車IC的高效益低成本測(cè)試？
2021-05-12 07:00:42
求教 對(duì)ad8367進(jìn)行VGA測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)DETO 管腳為1.9V，完全按照手冊(cè)figure33圖連接，對(duì)DETO 進(jìn)行電壓測(cè)試時(shí)，DETO 管腳和7ICOM管腳是否需要連接接地，對(duì)輸入信號(hào)200MV，68.2HZ的正弦信號(hào)可以嗎？為什么輸出信號(hào)為雜波
2023-11-23 07:03:29
`需求IC與FPC貼片后的成品 測(cè)試軟件與工具,要求如下：因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">IC是舊IC，所以IC在貼片后需要對(duì)FPC成品進(jìn)行測(cè)試1.測(cè)試位置：FPC下面的一排金手指與IC四周的PIN角是否有開短路,如圖片2.要求測(cè)試工具1帶3，直接顯示PASS`
2020-03-23 09:44:03
1目的：[/td] 為了規(guī)范公司對(duì)于元器件的技術(shù)評(píng)定，確保元器件達(dá)到我司質(zhì)量要求，特制定本標(biāo)準(zhǔn)。 2適用范圍： 本標(biāo)準(zhǔn)用于公司工程對(duì)器件選型認(rèn)證測(cè)試。 3測(cè)試方法： 原則
2015-05-16 16:46:45
智能IC卡測(cè)試設(shè)備的技術(shù)原理和應(yīng)用場(chǎng)景，可以從以下幾個(gè)方面進(jìn)行闡述：技術(shù)原理智能IC卡測(cè)試設(shè)備的技術(shù)原理主要圍繞IC卡的通信和數(shù)據(jù)處理機(jī)制展開。IC卡（包括智能IC卡）通常內(nèi)置有微電子芯片，該芯片
2024-09-26 14:27:25
件（草稿件由客人確認(rèn)清楚）4.確認(rèn)OK后，我司會(huì)安排在IC防火測(cè)試報(bào)告電子檔正式文件給客戶5.寄出正本文件IC-4防火測(cè)試報(bào)告申請(qǐng)周期：5-7個(gè)工作日QQ3004686958電話（微信同號(hào)）***楊先生
2020-05-28 10:17:44
測(cè)試應(yīng)用范圍：8寸以內(nèi)Wafer，IC測(cè)試，IC設(shè)計(jì)等芯片失效分析探針臺(tái)測(cè)試probe測(cè)試內(nèi)容：1.微小連接點(diǎn)信號(hào)引出2.失效分析失效確認(rèn)3.FIB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)4.晶圓可靠性驗(yàn)證來(lái)源：知乎`
2020-10-16 16:05:57
Hi, Ti的技術(shù)支持
請(qǐng)幫忙確認(rèn)一下AM335x處理器的Timer7工作是否正常，分下面二種情況進(jìn)行測(cè)試：
1. 在cpsw驅(qū)動(dòng)中，將定時(shí)器改成Timer6和Timer7的組合，測(cè)試網(wǎng)絡(luò)功能是否
2018-06-04 02:30:19
rmii2_crs_dv只復(fù)用到這個(gè)管腳上，在其它管腳沒有復(fù)用。由am335x技術(shù)手冊(cè)可知從nand啟動(dòng)必須要使用gpmc_wait0這個(gè)管腳，這顯然與rmii2接口沖突了?，F(xiàn)在要求從nand啟動(dòng)且使用雙網(wǎng)卡(rmii接口)，該怎么辦
2018-06-20 06:56:29
前段時(shí)間收到了雷龍廠家郵寄的兩個(gè) SD NAND 樣片，說(shuō)要發(fā)文章的，一直擱置了，今天測(cè)試 esp32 的開發(fā)板的時(shí)候，發(fā)現(xiàn)之前的 SD 卡不識(shí)別了，好奇怪，對(duì)比之后發(fā)現(xiàn)卡在電腦上是正常的，不明所以
2025-01-31 15:41:00
的TF卡讀卡器： 將雷龍SD NAND測(cè)試板與讀卡器連接是這樣的：插入時(shí)方向?qū)托?。即使插錯(cuò)了，也無(wú)所謂，重新反向插入就好。插入電腦后，查看屬性： 拷貝一個(gè)mp4文件到K盤，速度最高可以達(dá)到5M/s
2025-02-08 14:12:24
提出了一種適合于數(shù)據(jù)遷移、又能保證分布并行特性的樹結(jié)構(gòu)DPB+-Tree，討論了基于DPB+-Tree的數(shù)據(jù)遷移策略，其中數(shù)據(jù)節(jié)點(diǎn)遷移采用分布式提交協(xié)議來(lái)保證原子性，索引重構(gòu)通過(guò)對(duì)
2009-03-10 20:57:04
8 時(shí)空數(shù)據(jù)的索引結(jié)構(gòu)中，HR-tree可以高效處理時(shí)間片查詢，但對(duì)時(shí)間段查詢效率低下，同時(shí)存在存儲(chǔ)冗余。3D-tree索引的效率較低，雙樹結(jié)構(gòu)使索引維護(hù)較為困難，且磁盤訪問(wèn)開銷大。
2009-04-06 08:57:1311
IC卡座與CPU連接的電路
2009-02-25 21:35:101553 
MAX9979管腳電子IC中PMU模式操作
Bernie Hyland
2009-03-31 10:35:421893 
NAND FLASH在儲(chǔ)存測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用
0 引言
計(jì)算機(jī)技術(shù)的高速發(fā)展，存儲(chǔ)系統(tǒng)容量從過(guò)去的幾KB存儲(chǔ)空間，到現(xiàn)在的T8；乃至不久的將來(lái)要達(dá)到的PB存儲(chǔ)空間，
2009-11-07 10:21:251184 IC測(cè)試常見問(wèn)答提供了IC測(cè)試中最常見到的一些問(wèn)題并給出了解決方法，希望對(duì)您有所幫助！
2012-02-03 16:40:384052 本文通過(guò)分析ZigBee協(xié)議中Cluster-Tree和AODVjr算法的優(yōu)缺點(diǎn)，提出一種基于Cluster-Tree+AODVjr的優(yōu)化路由算法。
2012-11-08 11:02:567333 近期在學(xué)校如何寫linux的設(shè)備驅(qū)動(dòng)，這片文章告訴我們?yōu)槭裁匆M(jìn)設(shè)備樹Device Tree，以及舉例說(shuō)明設(shè)備樹是怎樣寫的
2015-11-17 18:16:0822 IC測(cè)試技術(shù)--設(shè)計(jì)驗(yàn)證，可以下來(lái)看看。
2016-12-14 21:50:0353 集成電路測(cè)試（IC測(cè)試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來(lái)越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測(cè)試方法也變得
2017-10-20 09:57:4375 在IC的測(cè)試中，電壓的測(cè)試是所有測(cè)試參數(shù)中最為常見的一種參數(shù)，尤其是模擬芯片的測(cè)試，電壓測(cè)試更顯常見及重要，如：LDO、LED驅(qū)動(dòng)、音頻功放、運(yùn)放、馬達(dá)驅(qū)動(dòng)等很多類型的模擬芯片都含有電壓參數(shù)的測(cè)試，而且都是其主要性能參數(shù)。
2017-10-27 15:48:1219256 
集成電路（Integrated Circuit，IC）測(cè)試技術(shù)是集成電路產(chǎn)業(yè)中不可或缺的重要組成部分，而測(cè)試設(shè)備是IC測(cè)試技術(shù)的一種重要工具。模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)模擬IC直流參數(shù)和交流參數(shù)
2017-11-15 16:27:5215 一些背景知識(shí)（例如：為何要引入Device Tree，這個(gè)機(jī)制是用來(lái)解決什么問(wèn)題的）請(qǐng)參考引入Device Tree的原因，本文主要是介紹Device Tree的基礎(chǔ)概念。
2019-05-10 11:33:051483 
目前的kernel支持舊的tag list的方式，同時(shí)也支持device tree的方式。r2可能是device tree binary file的指針（bootloader要傳遞給內(nèi)核之前要copy到memory中），也可以能是tag list的指針。
2019-05-13 11:14:561346 
正如Android Police報(bào)道的那樣，Google已經(jīng)確認(rèn)將開始測(cè)試名為Play Pass的Android應(yīng)用和游戲訂閱服務(wù)。幸運(yùn)地參加測(cè)試的用戶分享了確認(rèn)姓名的截圖，同時(shí)還確認(rèn)了價(jià)格，該價(jià)格定為每月4.99美元。
2020-12-18 13:48:492394 DE 10 Nano Power Tree
2021-02-04 16:26:347 DE 10 Nano Power Tree
2021-03-06 10:42:373 HTG-K816 Power Tree
2021-03-10 14:13:400 Basys 3 Power Tree
2021-03-10 14:16:4014 HTG-830 Power Tree
2021-03-10 14:19:401 HTG-Z100 Power Tree
2021-03-10 14:20:414 HTG-K800 Power Tree
2021-03-10 14:28:411 HTG-9100 Power Tree
2021-03-10 14:44:423 i.MX7 96Board Power Tree
2021-03-11 08:55:091 QorIQ LS1088A-RDB Power Tree
2021-03-11 08:59:090 QorIQ LS1043A-RDB Power Tree
2021-03-11 09:01:093 NOVPEK i.MX6Q/D Power Tree
2021-03-11 09:02:091 介紹了開爾文（Kelvin）四線連接方式測(cè)試電阻的原理，針對(duì)復(fù)雜電阻網(wǎng)絡(luò)提出電阻隔離測(cè)試技術(shù)。分析了采用全開爾
2021-04-21 10:24:1319161 
EE-278：與ADSP-21161 SHARC?處理器連接NAND閃存
2021-05-19 11:41:491 LSM tree （log-structured merge-tree） 是一種對(duì)頻繁寫操作非常友好的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，同時(shí)兼顧了查詢效率。LSM tree 是許多 key-value 型或日志型數(shù)據(jù)庫(kù)所依
2021-09-30 14:19:293026 IC卡管腳的特性，進(jìn)行測(cè)試；5.LCD顯示二維碼做測(cè)試，測(cè)試主機(jī)掃碼判斷測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；6.蜂鳴器測(cè)試，測(cè)試主機(jī)用咪頭感應(yīng)測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)鍵告知結(jié)果；7.打印測(cè)試，打印二維碼做測(cè)試，測(cè)試主機(jī)掃碼判斷測(cè)試結(jié)果，并通過(guò)取消、確認(rèn)
2021-12-07 20:51:137 ? 今天邀請(qǐng)到賽靈思專家和大家分享下如何在?Petalinux?下定位?decice-tree?錯(cuò)誤的一些技巧。? 首先我們來(lái)了解下 Petalinux 工程中 device-tree 的文件位置
2022-07-21 09:16:083310 一．什么是軟件產(chǎn)品測(cè)試？ 確認(rèn)測(cè)試也稱有效性測(cè)試，即驗(yàn)證軟件的功能、性能及其它特性是否與用戶的要求一致。軟件確認(rèn)測(cè)試是在模擬的環(huán)境下，驗(yàn)證軟件是否滿足需求規(guī)格說(shuō)明書列出的需求。為此，需要首先制定測(cè)試
2022-10-22 22:52:301661 
大家應(yīng)該熟悉或了解 Linux 中的目錄結(jié)果，它就像樹的根。這正是 tree 命令的概念。它以樹狀方式顯示當(dāng)前目錄及其子目錄的內(nèi)容。
2023-01-04 16:59:562941 
IC測(cè)試座是一種專門用于測(cè)試集成電路（IC）的工具，也被稱為IC插座或者IC測(cè)試夾。
2023-06-19 15:07:231568 
IC測(cè)試座是一種用于測(cè)試集成電路（IC）和其他電子元件的工具，它將元件安裝在座上，可以用來(lái)連接電源和測(cè)試設(shè)備，并將測(cè)試結(jié)果反饋給用戶。
2023-06-29 13:50:051650 
芯片測(cè)試座又稱：IC Socket 、 IC 測(cè)試座、IC插座。
2023-07-08 15:13:183714 
測(cè)試插座的主要起著一個(gè)連接導(dǎo)通的作用，用于集成電路應(yīng)用功能驗(yàn)證。它是PCB與IC之間的靜態(tài)連接器，可以讓芯片的更換測(cè)試更方便，不用一直重復(fù)焊接和取下芯片，從而減少IC與PCB的損傷，以及達(dá)到快速高效的測(cè)試效果。
2023-07-11 10:11:321549 
它的主要作用是將待測(cè)的IC芯片插入其中，與測(cè)試儀器連接，進(jìn)行信號(hào)測(cè)試、功耗測(cè)試、溫度測(cè)試等多項(xiàng)測(cè)試。
2023-07-18 14:21:091053 在IC芯片測(cè)試中，芯片測(cè)試座起著至關(guān)重要的作用。它是連接芯片和測(cè)試設(shè)備的關(guān)鍵橋梁，為芯片提供測(cè)試所需的電流和信號(hào)。
2023-07-25 14:02:501543 ic封裝測(cè)試是做什么？ic封測(cè)是什么意思？芯片封測(cè)是什么？ IC封裝測(cè)試是指對(duì)芯片進(jìn)行封裝前、封裝過(guò)程中、封裝后的各種測(cè)試和質(zhì)量控制措施，以確保芯片的可靠性、穩(wěn)定性和耐用性。IC封裝測(cè)試是整個(gè)半導(dǎo)體
2023-08-24 10:41:537821 ic芯片電源管腳并聯(lián)小電容的作用? IC（Integrated Circuit）芯片是現(xiàn)代電子設(shè)備中不可或缺的重要組成部分，其能夠集成多個(gè)晶體管、電容、電阻等器件，從而實(shí)現(xiàn)各種復(fù)雜的電路功能。在IC
2023-09-05 14:41:163869 集成電路（Integrated Circuit，IC）是現(xiàn)代電子設(shè)備的核心組件之一，而為了確保IC的質(zhì)量和性能，需要進(jìn)行各種測(cè)試。IC測(cè)試是一個(gè)多層次、復(fù)雜而關(guān)鍵的過(guò)程，旨在檢測(cè)和驗(yàn)證IC是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。本文將介紹IC測(cè)試的分類，涵蓋了各種類型的測(cè)試，以及其在半導(dǎo)體制造和電子設(shè)備領(lǐng)域中的重要性。
2023-10-20 09:00:233112 
IC測(cè)試原理 IC 測(cè)試是指依據(jù)被測(cè)器件（DUT）特點(diǎn)和功能，給DUT提供測(cè)試激勵(lì)（X），通過(guò)測(cè)量DUT 輸出響應(yīng)（Y）與期望輸出做比較，從而判斷DUT是否符合格。圖1所示為IC測(cè)試的基本原理模型
2023-10-30 11:16:584376 
IC芯片測(cè)試基本原理是什么？ IC芯片測(cè)試是指對(duì)集成電路芯片進(jìn)行功能、可靠性等方面的驗(yàn)證和測(cè)試，以確保其正常工作和達(dá)到設(shè)計(jì)要求。IC芯片測(cè)試的基本原理是通過(guò)引入測(cè)試信號(hào)，檢測(cè)和分析芯片的響應(yīng)，以判斷
2023-11-09 09:18:373194 IC測(cè)試，即集成電路測(cè)試，是集成電路設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。它主要通過(guò)對(duì)集成電路的性能、功能和可靠性進(jìn)行測(cè)試，以確保集成電路在實(shí)際應(yīng)用中能夠滿足設(shè)計(jì)要求和性能指標(biāo)。 一、IC測(cè)試的定義 IC
2024-07-10 14:45:155465 SD NAND轉(zhuǎn)接板和燒錄座是一種專為工程師設(shè)計(jì)的輔助工具，它能夠?qū)⒉煌叽绲腟D NAND芯片轉(zhuǎn)換為通用TF接口封裝，從而方便地進(jìn)行性能測(cè)試和驗(yàn)證。這種配套測(cè)試工具不僅提高了工作效率，還大大降低了測(cè)試成本。
2024-08-13 09:44:271146 
IC測(cè)試原理和設(shè)備教程在內(nèi)容、目的和關(guān)注點(diǎn)上存在顯著的區(qū)別。 IC測(cè)試原理 內(nèi)容 ： IC測(cè)試原理主要探討的是對(duì)集成電路（Integrated Circuit，簡(jiǎn)稱IC）進(jìn)行測(cè)試的基本理論和方法。它
2024-09-24 09:51:48944 SD NAND是一種基于NAND Flash技術(shù)的嵌入式存儲(chǔ)解決方案，具備SD卡協(xié)議兼容性。它結(jié)合了NAND存儲(chǔ)的高密度特性和SD接口的易用性，是面向工業(yè)、車載和醫(yī)療等領(lǐng)域的理想存儲(chǔ)介質(zhì)。
2024-12-05 15:32:021148 
的連接可靠性是決定產(chǎn)品最終質(zhì)量與壽命的關(guān)鍵。其中，焊點(diǎn)或鍵合點(diǎn)的機(jī)械強(qiáng)度至關(guān)重要。如何精準(zhǔn)、定量地評(píng)估這一強(qiáng)度？IC管腳推力測(cè)試便是我們手中的一把“標(biāo)準(zhǔn)尺”。 本文將深入淺出地為您介紹IC管腳推力測(cè)試的基本原理、核心標(biāo)
2025-10-27 10:42:44339 
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