SPEA-模擬混合信號(hào)測(cè)試-DOT400
SPEA的混合信號(hào)集成電路測(cè)試系統(tǒng)具有高數(shù)據(jù)速率、高定時(shí)準(zhǔn)確度、高通道數(shù)及高測(cè)試向量的數(shù)字測(cè)試能力。DOT400可以加入高電壓、大電流的儀器用來(lái)測(cè)試中/高功率器件，或加入皮安培計(jì)和毫微微法拉計(jì)用來(lái)測(cè)試MEMS器件。這款測(cè)試儀投資省、測(cè)速速度快，無(wú)需機(jī)械手。可滿足汽車(chē)、電源管理IC、MEME、照明、轉(zhuǎn)換器等多種類(lèi)型電路板測(cè)試。
插槽式的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，讓您在需要改變配置時(shí)能夠很容易的進(jìn)行板卡安裝與更換。
DYPE200
48混合信號(hào)通道@5MHz
數(shù)字部分
? 驅(qū)動(dòng)器/傳感器/無(wú)源負(fù)載/TMU
? -1.5/+10V; ±50mA
? 可編程邏輯單元
? 16線同步總線
模擬部分
? 驅(qū)動(dòng)器/傳感器/TMU
? -1.5/+10V; ±32mA - 成組高達(dá)768mA
? 可編程邏輯單元
? 16線同步總線
48混合信號(hào)通道@50MHz
數(shù)字部分
? 驅(qū)動(dòng)器/傳感器/TMU
? -1/+6.5V; ±40mA
? 可編程邏輯單元
? 16線同步總線
模擬部分 (多路復(fù)用 1:8)
? 4-象限電流電壓源
? 電流電壓回讀數(shù)字化儀
? -1.5/+10V; ±32mA
? 16線同步總線
DYPE300
32 混合信號(hào)通道 @200MHz
數(shù)字部分
? 驅(qū)動(dòng)器/傳感器/無(wú)源負(fù)載/TMU
? -2/+14V; ±35mA
? 可編程邏輯單元
? 32線同步總線
模擬部分
? 4Q 電流電壓/數(shù)字化儀/TMU
? -2.5/+14V; ±28mA
? 32線同步總線
數(shù)字時(shí)鐘通道
4 LVPECL @200MHz
數(shù)字部分
? 低抖動(dòng)1ps
? 電流 3.3V
? -1/+6.5V; ±40mA
16/32 LVDS/LVCMOS 通道
@200/100MHz
? 低抖動(dòng) 2.5ps/3.5ps
? 電流 LVDS 標(biāo)準(zhǔn); LVCMOS 3.3V
4 模擬通道
? 4Q 電流電壓/數(shù)字化儀/TMU/AWG
? 2/+20V; 0/+25V; ±500mA
? 斜坡電壓產(chǎn)生器 100us/100ms
? 32線同步總線
DYLPS100
電流電壓源
? ±10V ±500mA
? 電流電壓斜坡發(fā)生器
? 成組可高達(dá) 8A
? 層疊可高達(dá) 160V
? 同步總線單元
任意波發(fā)生器
? 200ksps
? 4 兆次采樣
? 同步總線單元
電壓讀回?cái)?shù)字化儀
? ±10V
? 數(shù)字化儀 200ksps
? 同步總線單元
電流讀回?cái)?shù)字化儀
? ±500mA
? 數(shù)字化儀 200ksps
? 同步總線單元
時(shí)間測(cè)量單元
? 電壓/電流 時(shí)間測(cè)量
? 周期、頻率、時(shí)間間隔
? 同步總線單元
DYDG100
8 AWG 通道
LF AWG
? 差分輸出 ±5.12V, 10mA
? 10Hz-90kHz 帶寬
? -120dB THD/SNR
? 4 低通濾波器
音頻發(fā)生器
? 差分輸出 ±5.12V, 10mA
? 可編程從 440kHz 到 470kHz
? -120dB THD/SNR
直流/斜坡發(fā)生器
? 差分輸出 ±5.12V
? 20 bit
8 通道數(shù)字化儀
LF 數(shù)字化儀
? 差分輸入 (直流和開(kāi)關(guān)式) ±5.12V
? DC ÷ 200kHz 帶寬
? 4 低通濾波器
數(shù)字信號(hào)處理器
? 800MHz 32 bit
? FFT, DFT, Min/Max, RMS, THDN, SNR, 直方圖...
8 參考電壓通道
? 差分輸出 10V, 10mA
簡(jiǎn)單和快速的改變配置
√ 針對(duì)板子的NIST可追蹤性
√ 嵌入在每塊器件電路板上的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器
√ 快速系統(tǒng)預(yù)熱：<30分鐘
√ 插接無(wú)需機(jī)械手
DOT400提供最簡(jiǎn)單和最快速的方式使系統(tǒng)配置來(lái)適應(yīng)測(cè)試要求的變化。
為了適應(yīng)一個(gè)具體產(chǎn)品的測(cè)試要求，您可以自主的改變系統(tǒng)配置，以避免任何無(wú)用且昂貴的冗余。相應(yīng)的，如果需要測(cè)試另外一個(gè)不同的產(chǎn)品，并且由此導(dǎo)致了生產(chǎn)高峰，根據(jù)需求，您可以很簡(jiǎn)單的重新配置并轉(zhuǎn)移空閑機(jī)器的資源：由于尺寸兼容，您可以在不需要借助任何機(jī)械工具輔助的情況下輕松的完成上述配置和轉(zhuǎn)移。
由于每一個(gè)儀器都自帶其專(zhuān)門(mén)的系統(tǒng)接口以及校準(zhǔn)數(shù)據(jù)和NIST追蹤的存儲(chǔ)器，所以更換儀器只需簡(jiǎn)單的插拔即可，無(wú)須重新校準(zhǔn)。能開(kāi)機(jī)，就能生產(chǎn)。
下面的例子展示了4個(gè)空閑系統(tǒng)的重新配置，為了應(yīng)對(duì)生產(chǎn)高峰，需要從B和C配置到A配置。
