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SPEA

SPEA成立于1976年，注于于電路板和電路模塊檢測，為半導(dǎo)體IC和 MEMS傳感器設(shè)計并制造自動測試設(shè)備，提供標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)品和定制化服務(wù)方案

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STU200-高G慣性測試設(shè)備-mems測試設(shè)備|SPEA

型號： STU200

--- 產(chǎn)品參數(shù) ---

  • 加速度 -28~+28g
  • 溫度范圍 -50℃~150℃
  • 頻率范圍 80~120Hz

--- 產(chǎn)品詳情 ---

 

 

 

STU 200 高 G 測試裝置專門用于高加速度 MEMS 慣性傳感器的最佳性能生產(chǎn)測試。該裝置集成有裝貼操作機(jī)和測試系統(tǒng)，提供高效率的交鑰匙解決方案，可以降低測試成本，同時滿足不斷變化的測試需求。

 

本裝置集成了器件電氣和功能測試所需的各種元件，包括為了檢驗(yàn)傳感器是否正常工作而需要的設(shè)備。

 

MEMS 器件可以同時在 XYZ 三個方向上刺激，節(jié)約了測試周期數(shù)，有助于減小測試時間（尤其是需要在相應(yīng)溫度下提供多個測試通道時）和器件損壞風(fēng)險。

 

本裝置具有一流的性能，受到 28g/90 Hz 刺激時的諧波失真小于 1.5%。

5000 個生產(chǎn)周期中的諧波失真趨勢：性能非常穩(wěn)定、可靠

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