單片機(jī)產(chǎn)品設(shè)計--功能評估

　　1，先得了 解MCU的功能及每一個管腳的做用（輸入口還是輸出口或雙向口或是其他特殊端口），確定用什么樣的電源輸入（變壓器或阻容降壓），有無大電流負(fù)載及一些安規(guī)方面的要求，體積封裝大小有無規(guī)定。

　　2， 采用電池供電時是否要考慮做-些省電低功耗線路。

　　3， 帶檢測功能的產(chǎn)品是否用到A/D功能，有無必要用到些精密參考源，主要針對測量及充電電路，或是可否直接采用RC充放電線路來做模擬量檢測，A/D通道轉(zhuǎn)換需要一定的穩(wěn)定時間，在軟件設(shè)計時需要作考量。為了保證每次A/D轉(zhuǎn)換的穩(wěn)定與正確，最好在每次A/D轉(zhuǎn)換前都重新確定A/D轉(zhuǎn)換通道、A/D轉(zhuǎn)換分辨率、A/D時鐘源選擇位，而且根據(jù)所應(yīng)用場合對所取得數(shù)據(jù)進(jìn)行合理的處理。A/D轉(zhuǎn)換在硬件設(shè)計方面的注意事項(xiàng)：信號源要盡量與A/D轉(zhuǎn)換輸入端接近，而且要視芯片輸入阻抗添加合適的電容并入信號源輸入端。此外需保證A/D轉(zhuǎn)換基準(zhǔn)電壓的穩(wěn)定，模擬地與數(shù)字地要分開或隔離。

　　4，操作時有多少個按鍵， 能否采用跟其他I/0口復(fù)用來節(jié)少I/0口資源，按鍵是否要采用喚醒功能，即采用帶有喚醒功能的I/0口，按鍵輸入可否采用矩陣掃描，以便節(jié)省單片機(jī)的1/0口。

　　5，輸出指示能否跟輸出控制 I/0口復(fù)用，這樣也可以節(jié)省I/0口，但要考慮到輸出電流的大小，不能影響負(fù)載的正常輸出控制。

　　6，有無精確度要 求較高的定時，用來確定采用什么樣的振蕩源（晶振，陶振，外部RC及MCU內(nèi)部RC）。

　　7， 復(fù)位電路的選取， I/0口不夠時能否采用內(nèi)部復(fù)位，芯片的上電復(fù)位時間與系統(tǒng)電壓上升速度，外部振蕩器頻率、種類及外部Reset電路造成的delay都有關(guān)聯(lián)。8，有無顯示電路， 是LED還是LCD，是否必要采用外掛驅(qū)動電路或直接采用I/0口推動，一般采用I/0口推動的LCD， com口都采用1/2偏壓。直接用兩電阻分壓。9，大電流負(fù)載輸出采用mos管，繼電器還是可控硅控制？當(dāng)輸出為可控硅時，是否采用共地或共電源控制，或是用直接耦合還是用光電耦合，同時得考慮是否要用到到同步信號做一些調(diào)速、 調(diào)光、調(diào)功率、調(diào)溫度等可調(diào)的控制功能（ 同時些交流同步信號也可以做一些定時產(chǎn)品的參考）。

　　10，輸入盡可 能放在同一1/0口，輸出放在同一I/0口，同時應(yīng)該考慮到PCB布線，輸入輸出保護(hù)電阻應(yīng)盡可能靠近I/0口。

　　11，確認(rèn) 1/0口內(nèi)部有無上拉電阻，有些I/0口只能做單-的輸入且無上拉電阻。

　　12，對空閑口的設(shè)置， 空閑口-般設(shè)定為輸入上拉或輸出低電平。對ADC I/0 通道， 應(yīng)用P4CON的設(shè)定，可以避免I/0口的漏電流。對于不同的外部硬件電路，考慮I/0的狀態(tài)設(shè)置，設(shè)定不當(dāng)，會有漏電流，特別注意上拉電阻的正確設(shè)定，若I/0在outputlow level， 又將pull-up enable 會造成漏電，例如： VDD=5V 會有約5V / 100K = 50uA漏電。一般采用內(nèi)部復(fù)位時，此端口直接接電源，可以減小MCU睡眠時的靜態(tài)電流。此端口無上拉電阻。

　　13，跟軟件確認(rèn)軟件 資源是否足夠。