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      電子發(fā)燒友網(wǎng)>電子資料下載>IC datasheet pdf>SN54ABTH18504A,SN54ABTH182504A

      SN54ABTH18504A,SN54ABTH182504A

      2010-08-18 | rar | 603 | 次下載 | 2積分

      資料介紹

      The 'ABTH18504A and 'ABTH182504A scan test devices with 20-bit universal bus transceivers are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-circuit family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. Scan access to the test circuitry is accomplished via the 4-wire test access port (TAP) interface.

      In the normal mode, these devices are 20-bit universal bus transceivers that combine D-type latches and D-type flip-flops to allow data flow in transparent, latched, or clocked modes. The test circuitry can be activated by the TAP to take snapshot samples of the data appearing at the device pins or to perform a self test on the boundary-test cells.

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