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      SN54BCT8373A,SN74BCT8373A,pdf(

      2010-08-18 | rar | 530 | 次下載 | 2積分

      資料介紹

      The 'BCT8373A scan test devices with octal D-type latches are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-
      circuit family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit board assemblies. Scan access to the test circuitry is accomplished via the 4-wire test access port (TAP) interface.

      In the normal mode, these devices are functionally equivalent to the 'F373 and 'BCT373 octal D-type latches. The test circuitry can be activated by the TAP to take snapshot samples of the data appearing at the device terminals or to perform a self test on the boundary test cells. Activating the TAP in normal mode does not affect the functional operation of the SCOPETM octal latches.

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