RFID標簽芯片的靈敏度是芯片剛剛被激活所需的最小能量。靈敏度是標簽芯片最重要的性能指標，它的大小直接影響RFID標簽的性能，例如標簽讀／寫距離等。因此標簽芯片靈敏度準確測試是芯片測試的重要內(nèi)容之一。在某一頻段內(nèi)，絕大多數(shù)芯片廠商僅僅給出芯片一個靈敏度值，而沒有標識出芯片靈敏度隨頻率的變化情況。利用本文所描述的靈敏度測試方法測試芯片的靈敏度，可以獲得芯片在800～1000MHz頻段內(nèi)的靈敏度變化曲線，對于實際應(yīng)用更有參考價值。準確測試芯片靈敏度隨著頻率的變化情況對于芯片開發(fā)人員和芯片的實際應(yīng)用都具有重要的意義。

　　1 芯片靈敏度測試原理

　　將經(jīng)過封裝的芯片引腳焊接到阻抗為50 Ω的SMA連接器，將SMA頭通過特征阻抗為50 Ω的同軸線連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀或者RFID標簽測試儀的輸出口，不需要進行特殊的匹配電路。測試設(shè)備需要標簽測試儀和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。標簽測試儀可采用Voyantic公司研發(fā)的Tagformance標簽測試儀，該測試儀是帶有一個輸入天線和輸出天線接口的專用RFID 讀寫器。天線接口中一個用來向標簽傳輸信號，另一個接收標簽的反向散射信號，軟件會對該信號進行分析，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)如圖 1所示。從圖1可以看出，標簽測試儀的內(nèi)部結(jié)構(gòu)相當于一個輸出頻率、功率可調(diào)可標定，接收信號可解調(diào)可解碼的寬頻帶 RFID讀寫器。實際測試時，為了使得讀數(shù)方便，在RFID標簽測試儀的衰減器輸出端口再串接一個20 dB衰減器，然后用同軸線將衰減器和裝有芯片的SMA頭相連。利用標簽測試儀可以掃描出芯片在不匹配的情況下，芯片正常工作所需要的最小工作能量Pmin隨頻率的變化情況。