資料介紹
頻率特性是一個網(wǎng)絡(luò)性能最直觀的反映。頻率特性測試儀用于測量網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性和相頻特性,是根據(jù)掃頻法的測量原理設(shè)計,是一種快速、簡便、實時、動態(tài)、多參數(shù)、直觀的測量儀器,可廣泛應(yīng)用于電子工程等領(lǐng)域。由于模擬式掃頻儀價格昂貴,不能直接得到相頻特性,更不能打印網(wǎng)絡(luò)的頻率響應(yīng)曲線,給使用帶來諸多不便。為此,設(shè)計了低頻段數(shù)字式頻率特性測試儀。該測試儀采用數(shù)字直接頻率合成技術(shù)專用的集成電路 AD985l 產(chǎn)生掃頻信號,以單片機(jī)和 FPGA 為控制核心,通過 A/D 和 D/A 轉(zhuǎn)換器等接口電路,實現(xiàn)掃頻信號頻率的步進(jìn)調(diào)整、數(shù)字顯示及被測網(wǎng)絡(luò)幅頻特性與相頻特性的數(shù)顯等。該系統(tǒng)成本低廉,掃頻范圍較寬(10 Hz~1MHz),可方便地與打印機(jī)連接,實現(xiàn)頻率特性曲線的打印。
幅頻和相頻特性測量方案
方案 1:利用公式 H(s)=R(s)/E(s),以沖擊函數(shù)為激勵,則輸出信號的拉氏變換與系統(tǒng)函數(shù)相等。但是產(chǎn)生性能很好的沖擊函數(shù)比較困難,需要對采集的數(shù)據(jù)做 FFT 變換,需要占用大量的硬件和軟件資源,且精度也受到限制。
方案 2:掃頻測試法。當(dāng)系統(tǒng)在正弦信號的激勵下,穩(wěn)態(tài)時,響應(yīng)信號與輸入激勵信號頻率相同,其幅值比即為該頻率的幅頻響應(yīng)值,而兩者的相位差即為相頻特性值。采用頻率逐點步進(jìn)的測試方法。無需對信號進(jìn)行時域與頻域的變換計算,通過對模擬量的測量與計算完成,且精度較高。
該系統(tǒng)以單片機(jī)和 FPGA 為控制核心,用 DDFS 技術(shù)產(chǎn)生頻率掃描信號,采用真有效值檢測器件 AD637 測量信號幅度。在 FPGA 中,采用高頻脈沖計數(shù)的方法測量相位差,經(jīng)過單片機(jī)運算,可得到 100 Hz~100 kHz 中任意頻率的幅頻特性和相頻特性數(shù)據(jù),實現(xiàn)在該頻段的自動掃描,并在示波器上同時顯示幅頻和相頻特性曲線。用鍵盤控制系統(tǒng)實現(xiàn)各種功能,并且在 LCD 同步顯示相應(yīng)的功能和數(shù)據(jù),人機(jī)交互界面友好。圖 1 給出系統(tǒng)總體設(shè)計框圖。
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