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隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展以及SOC 系統(tǒng)的出現(xiàn)，電路的測(cè)試難度在不斷增大，嚴(yán)重制約了SOC 技術(shù)的發(fā)展，文中從SOC 可測(cè)性設(shè)計(jì)出發(fā)全面介紹IEEE P1500，通過(guò)研究對(duì)比當(dāng)前適用于SOC 領(lǐng)域的測(cè)試方法，著重討論了其在SOC 測(cè)試方面應(yīng)用的優(yōu)點(diǎn)和不足。
關(guān)鍵詞：SOC 可測(cè)性設(shè)計(jì) IEEE P1500
Abstract: Along with the rapid development of IC’s technique and the emergence
of SOC system, the test of IC system becomes more difficult and restricts seriously
the development of SOC. In this paper, from the design for test of SOC, we fully
introduce IEEE P1500 and discuss its merit and disadvantage when it is used in testing
SOC system by researching and comparing some test methods.
Keywords: SOC, design for test, IEEE P1500
關(guān)鍵詞：SOC 可測(cè)性設(shè)計(jì) IEEE P1500
Abstract: Along with the rapid development of IC’s technique and the emergence
of SOC system, the test of IC system becomes more difficult and restricts seriously
the development of SOC. In this paper, from the design for test of SOC, we fully
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