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標(biāo)簽 > 測試芯片
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EMC測試人員反饋對USB端子的金屬外殼進(jìn)行±4KV接觸放電后系統(tǒng)無法開機(jī),分析確認(rèn)芯片已經(jīng)損壞,造成系統(tǒng)無法正常開機(jī)。實(shí)驗(yàn)室模擬對雙層USB端子進(jìn)行±...
IC設(shè)計(jì)流程相關(guān)名詞梳理(含各流程EDA工具梳理)
對設(shè)計(jì)的功能進(jìn)行仿真驗(yàn)證,需要激勵(lì)驅(qū)動,是動態(tài)仿真。仿真驗(yàn)證工具M(jìn)entor公司的 Modelsim, Synopsys的VCS,還有Cadence的N...
2023-05-09 標(biāo)簽:asicIC設(shè)計(jì)測試芯片 1192 0
在 電子小幫手電路中電源開關(guān)電路分析[1] 中介紹測量模塊電路實(shí)驗(yàn)原理的時(shí)候,對于ATmega系列的 單片機(jī)的輸出端口進(jìn)行了內(nèi)部描述[2]
磁帶中沒有有源器件,這只是金屬2和金屬3的后端圖案,以及它們之間的切口,鏈接和通孔結(jié)構(gòu)。目標(biāo)晶體管是FinFET,M2和M3信息來自完整的處理器設(shè)計(jì),盡...
2019-08-09 標(biāo)簽:PCB打樣測試芯片華強(qiáng)PCB 1798 0
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