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標(biāo)簽 > 測(cè)試設(shè)備
測(cè)試設(shè)備,亦稱檢測(cè)設(shè)備。用來(lái)進(jìn)行測(cè)試的一切儀器、儀表、裝置、系統(tǒng)及其所需器件、元件、輔助設(shè)備等的統(tǒng)稱。檢測(cè)設(shè)備有很多種類,工廠常用的檢測(cè)設(shè)備有很多,包括測(cè)量設(shè)備卡尺、天平、打點(diǎn)機(jī)等,另外還有質(zhì)量檢測(cè)分析儀器,材質(zhì)檢測(cè)、包裝檢測(cè)設(shè)備等也是常見(jiàn)的檢測(cè)設(shè)備。在包裝環(huán)節(jié)中比較常見(jiàn)的有包裝材料檢測(cè)儀、金屬檢測(cè)設(shè)備、非金屬檢測(cè)設(shè)備以及無(wú)損檢測(cè)設(shè)備等。
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泰克致力高?;A(chǔ)實(shí)驗(yàn)室建設(shè):測(cè)試設(shè)備梯次需求的“及時(shí)雨”
眾所周知,實(shí)驗(yàn)室對(duì)電子工程教育的意義重大,學(xué)生動(dòng)手和實(shí)踐能力的培養(yǎng)往往不是來(lái)自課本,而是在實(shí)驗(yàn)室獲得。但事實(shí)上,中國(guó)高校實(shí)驗(yàn)室教育資源十分緊缺。過(guò)去十年...
2012-04-01 標(biāo)簽:泰克測(cè)試設(shè)備測(cè)量芯片 1393 0
消除測(cè)試設(shè)備對(duì)射頻器件測(cè)量影響
本文討論了兩種基于模型的校正,其增加了測(cè)量精度,并不再需要忽略由測(cè)試設(shè)備引入的測(cè)量誤差。
2011-12-09 標(biāo)簽:測(cè)試設(shè)備射頻器件 1955 0
電子封裝是一個(gè)富于挑戰(zhàn)、引人入勝的領(lǐng)域。它是集成電路芯片生產(chǎn)完成后不可缺少的一道工序,是器件到系統(tǒng)的橋梁
2011-10-26 標(biāo)簽:集成電路封裝測(cè)試設(shè)備 3381 0
空空導(dǎo)彈測(cè)試設(shè)備故障診斷儀器研究與開(kāi)發(fā)
空空導(dǎo)彈測(cè)試設(shè)備故障診斷儀器研究與開(kāi)發(fā) 摘要:空空導(dǎo)彈測(cè)試設(shè)備故障診斷主要是電子電路故障診斷,應(yīng)建立兩級(jí)診斷儀器體
2009-07-07 標(biāo)簽:導(dǎo)彈測(cè)試設(shè)備 1417 0
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