測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為，一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。

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全部技術(shù) 資訊資料帖子視頻產(chǎn)品方案企業(yè) 測(cè)試選型

測(cè)試資訊

PDMA在測(cè)試SDRAM控制器中的應(yīng)用

我們?cè)O(shè)計(jì)了一個(gè)PDMA（Programmable Direct Mem o ry Access）用于測(cè)試SDRAM控制器的性能。在SoC中，SDRAM控...

2010-07-02 標(biāo)簽：測(cè)試 PDMA 1861 0

新款EMC測(cè)試用放大器

該產(chǎn)品主要針對(duì)商用EMC測(cè)試IEC 61000-4-3 標(biāo)準(zhǔn)（覆蓋頻率范圍為80MHz至1GHz）。據(jù)悉，新產(chǎn)品放大器采用了第三代寬帶隙GaN晶體管技術(shù)...

2010-06-28 標(biāo)簽：放大器測(cè)試 EMC 763 0

手動(dòng)電路板測(cè)試原理

　1、印制電路板手動(dòng)測(cè)試治具介紹：　　手動(dòng)電路板測(cè)試治具是指：通過(guò)針床、手動(dòng)測(cè)試治具、印制板插腳、輸入/輸出接口

2010-06-25 標(biāo)簽：測(cè)試電路板 1118 0

光纖測(cè)試安裝的注意事項(xiàng)

一方面企業(yè)對(duì)于網(wǎng)絡(luò)的性能要求越來(lái)越高，另一方面光纖的成本也越來(lái)越底。故通過(guò)光纖來(lái)實(shí)現(xiàn)高帶寬(如在兩幢辦公樓之間通過(guò)光纖來(lái)連接，以前直接是通過(guò)網(wǎng)線連接)現(xiàn)...

2010-06-23 標(biāo)簽：測(cè)試光纖安裝 3232 0

如何在PADS中添加表面型測(cè)試點(diǎn)

在PCB 設(shè)計(jì)中，我們經(jīng)常需要對(duì)某些信號(hào)線增加一些測(cè)試點(diǎn)，以便在產(chǎn)品調(diào)試中對(duì)其信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。在PADS Layout（POWERPCB）中添

2010-06-21 標(biāo)簽：測(cè)試 PADS 7923 3

硬件在環(huán)（HIL）測(cè)試系統(tǒng)對(duì)I/O接口的選擇

　本教程討論了多種I/O接口選項(xiàng)，能夠用于實(shí)時(shí)處理器創(chuàng)建您的硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)。高性能模塊化的I/O接口是構(gòu)建成功硬件在環(huán)

2010-06-19 標(biāo)簽：測(cè)試 HIL 3774 0

EMC測(cè)試用放大器

2010-06-17 標(biāo)簽：放大器測(cè)試 EMC 1254 0

基于軟件的靈活LTE測(cè)試環(huán)境技術(shù)

基于軟件的靈活LTE測(cè)試環(huán)境技術(shù) 長(zhǎng)期演進(jìn)(LTE)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)給測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商提出了若干挑戰(zhàn)。3GPP定義的LTE空中接口，在下行采用正交頻分多址(OF...

2010-05-25 標(biāo)簽：測(cè)試 LTE 403 0

用信道仿真器全面測(cè)試LTE系統(tǒng)

用信道仿真器全面測(cè)試LTE系統(tǒng) 短短幾年間，移動(dòng)數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)就已從開始時(shí)的緩慢不堪以致沒(méi)法實(shí)用，發(fā)展到現(xiàn)今如像Wi–Fi一樣好用。隨著消費(fèi)者

2010-05-25 標(biāo)簽：測(cè)試仿真器 1138 0

新型雷達(dá)數(shù)字電路便攜式自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

新型雷達(dá)數(shù)字電路便攜式自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì) 　基于對(duì)ICT測(cè)試、功能測(cè)試局限性的深入探討，以及對(duì)邊界掃描測(cè)試技術(shù)的研究與實(shí)踐，本文提出了“ME

2010-05-19 標(biāo)簽：測(cè)試雷達(dá)數(shù)字電路 775 0

PIC單片機(jī)設(shè)計(jì)的便攜式測(cè)試記錄儀

PIC單片機(jī)設(shè)計(jì)的便攜式測(cè)試記錄儀以追求高可靠、低功耗、小體積設(shè)計(jì)思想的本記錄儀具有如下功能:對(duì)現(xiàn)場(chǎng)物理量進(jìn)行實(shí)時(shí)采集、保存、處理

2010-05-17 標(biāo)簽：單片機(jī)測(cè)試 PIC 765 0

Windows 7系統(tǒng)在測(cè)試測(cè)量的應(yīng)用

Windows 7系統(tǒng)在測(cè)試測(cè)量的應(yīng)用目前，基于計(jì)算機(jī)的測(cè)試測(cè)量與自動(dòng)化應(yīng)用成為工程的主流趨勢(shì)，Windows 7，這樣一個(gè)全新的計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)，又會(huì)為

2010-04-26 標(biāo)簽：測(cè)試 Windows 456 0

采用CPLD的多次重觸發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)

采用CPLD的多次重觸發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn) 1 引言　　多次重觸發(fā)技術(shù)應(yīng)用于多種場(chǎng)合，如一個(gè)30齒的齒輪，設(shè)齒輪嚙臺(tái)系數(shù)為1．2，若測(cè)量其中1齒多次嚙合

2010-03-25 標(biāo)簽：測(cè)試 CPLD 存儲(chǔ) 825 0

采用CPLD的多次重觸發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)解決方案

采用CPLD的多次重觸發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)解決方案概述：提出一種基于CPLD的多次重觸發(fā)存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案，詳細(xì)介紹系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)以及CPLD內(nèi)部控制

2010-03-17 標(biāo)簽：測(cè)試 CPLD 743 0

ECU試驗(yàn)測(cè)試環(huán)境搭建和支持服務(wù)

ECU試驗(yàn)測(cè)試環(huán)境搭建和支持服務(wù) 隨著電子技術(shù)在汽車行業(yè)中的應(yīng)用不斷增長(zhǎng)，汽車電子產(chǎn)品系統(tǒng)日益復(fù)雜，如何保證汽車電子產(chǎn)品的質(zhì)量也越

2010-03-11 標(biāo)簽：測(cè)試 ECU 1701 0

電路板測(cè)試、檢驗(yàn)及規(guī)范術(shù)語(yǔ)手冊(cè)

電路板測(cè)試、檢驗(yàn)及規(guī)范術(shù)語(yǔ)手冊(cè) 1、Acceptability，acceptance 允收性，允收前者是指在對(duì)半成品或成品進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí)，所應(yīng)遵守的各種作...

2010-02-21 標(biāo)簽：測(cè)試電路板檢驗(yàn) 5202 0

BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電路最優(yōu)測(cè)試集的生成設(shè)計(jì)

BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的電路最優(yōu)測(cè)試集的生成設(shè)計(jì) 1 引言　　人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)是基于模仿生物大腦的結(jié)構(gòu)和功能而構(gòu)成的一種信息處理系統(tǒng)。國(guó)際著名的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)專家...

2010-02-02 標(biāo)簽：測(cè)試 BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 1411 0

羅德與施瓦茨北京開放實(shí)驗(yàn)室正式對(duì)外開放

羅德與施瓦茨北京開放實(shí)驗(yàn)室正式對(duì)外開放為了更好地服務(wù)用戶，羅德與施瓦茨公司北京開放實(shí)驗(yàn)室于2010年1月正式對(duì)外開放。實(shí)驗(yàn)室面向R&S公司的...

2010-01-26 標(biāo)簽：測(cè)試無(wú)線通信 1042 0

電路板改板技術(shù)之光板測(cè)試工藝指導(dǎo)

電路板改板技術(shù)之光板測(cè)試工藝指導(dǎo) 光板工藝測(cè)試技術(shù)是電路板抄板改板過(guò)程中常用到的一種制板工藝技術(shù)，目的是為了能確保最后成品電路板的品質(zhì)。以下我們提供

2010-01-23 標(biāo)簽：測(cè)試 1097 0

電路板改板設(shè)計(jì)中的可測(cè)試性技術(shù)

電路板改板設(shè)計(jì)中的可測(cè)試性技術(shù) 電路板制板可測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為：電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單的方法來(lái)測(cè)試，以確定

2010-01-23 標(biāo)簽：測(cè)試 525 0

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Proteus軟件是英國(guó)Lab Center Electronics公司出版的EDA工具軟件（該軟件中國(guó)總代理為廣州風(fēng)標(biāo)電子技術(shù)有限公司）。它不僅具有其它EDA工具軟件的仿真功能，還能仿真單片機(jī)及外圍器件。
靜電防護(hù)

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為防止靜電積累所引起的人身電擊、火災(zāi)和爆炸、電子器件失效和損壞，以及對(duì)生產(chǎn)的不良影響而采取的防范措施。其防范原則主要是抑制靜電的產(chǎn)生，加速靜電泄漏，進(jìn)行靜電中和等。
Altium Designer

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ArduBlock

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ArduBlock軟件是Arduino官方編程環(huán)境的第三方軟件，目前必須依附于Arduino軟件下運(yùn)行，區(qū)別于Arduino文本式編程環(huán)境，ArduBlock是以圖形化積木搭建的方式編程的，這樣的方式會(huì)使編程的可視化和交互性加強(qiáng)，編程門檻降低，即使沒(méi)有編程經(jīng)驗(yàn)的人也可以嘗試給Arduino控制器編寫程序。
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PCB封裝

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pcb封裝就是把實(shí)際的電子元器件，芯片等的各種參數(shù)（比如元器件的大小，長(zhǎng)寬，直插，貼片，焊盤的大小，管腳的長(zhǎng)寬，管腳的間距等）用圖形方式表現(xiàn)出來(lái)，以便可以在畫pcb圖時(shí)進(jìn)行調(diào)用。
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面包板

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面包板是由于板子上有很多小插孔，專為電子電路的無(wú)焊接實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)制造的。由于各種電子元器件可根據(jù)需要隨意插入或拔出，免去了焊接，節(jié)省了電路的組裝時(shí)間，而且元件可以重復(fù)使用，所以非常適合電子電路的組裝、調(diào)試和訓(xùn)練。
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特性阻抗又稱特征阻抗，它不是直流電阻，屬于長(zhǎng)線傳輸中的概念。特性阻抗是射頻傳輸線影響無(wú)線電波電壓、電流的幅值和相位變化的固有特性，等于各處的電壓與電流的比值，用V/I表示。在射頻電路中，電阻、電容、電感都會(huì)阻礙交變電流的流動(dòng)，合稱阻抗。電阻是吸收電磁能量的，理想電容和電感不消耗電磁能量。
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庫(kù)文件是計(jì)算機(jī)上的一類文件，提供給使用者一些開箱即用的變量、函數(shù)或類。庫(kù)文件分為靜態(tài)庫(kù)和動(dòng)態(tài)庫(kù)，靜態(tài)庫(kù)和動(dòng)態(tài)庫(kù)的區(qū)別體現(xiàn)在程序的鏈接階段：靜態(tài)庫(kù)在程序的鏈接階段被復(fù)制到了程序中；動(dòng)態(tài)庫(kù)在鏈接階段沒(méi)有被復(fù)制到程序中，而是程序在運(yùn)行時(shí)由系統(tǒng)動(dòng)態(tài)加載到內(nèi)存中供程序調(diào)用。使用動(dòng)態(tài)庫(kù)系統(tǒng)只需載入一次，不同的程序可以得到內(nèi)存中相同的動(dòng)態(tài)庫(kù)的副本，因此節(jié)省了很多內(nèi)存，而且使用動(dòng)態(tài)庫(kù)也便于模塊化更新程序。
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Altium Designer 是原Protel軟件開發(fā)商Altium公司推出的一體化的電子產(chǎn)品開發(fā)系統(tǒng)，主要運(yùn)行在Windows操作系統(tǒng)。這套軟件通過(guò)把原理圖設(shè)計(jì)、電路仿真、PCB繪制編輯、拓?fù)溥壿嬜詣?dòng)布線、信號(hào)完整性分析和設(shè)計(jì)輸出等技術(shù)的完美融合
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感應(yīng)式

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貼片磁珠

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導(dǎo)熱硅脂

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導(dǎo)熱硅脂俗稱散熱膏，導(dǎo)熱硅脂以有機(jī)硅酮為主要原料，添加耐熱、導(dǎo)熱性能優(yōu)異的材料，制成的導(dǎo)熱型有機(jī)硅脂狀復(fù)合物，用于功率放大器、晶體管、電子管、CPU等電子元器件的導(dǎo)熱及散熱，從而保證電子儀器、儀表等的電氣性能的穩(wěn)定。

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