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測(cè)試

測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。

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測(cè)試資訊

LED光電特性的測(cè)試方案

LED光電特性的測(cè)試方案

LED光電測(cè)試是檢驗(yàn)LED光電性能的重要而且唯一的手段,本文結(jié)合最新的LED測(cè)試方法的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),介紹了LED的光電性能測(cè)試的幾個(gè)主要方面

2011-04-25 標(biāo)簽:LED測(cè)試光電特性 9.3k 0

信號(hào)完整性的測(cè)試方法

信號(hào)完整性的測(cè)試方法

信號(hào)完整性的測(cè)試手段很多,涉及的儀器也很多,因此熟悉各種測(cè)試手段的特點(diǎn),以及根據(jù)測(cè)試對(duì)象的特性和要求,選用適當(dāng)?shù)臏y(cè)試手段,對(duì)于選擇方案、驗(yàn)證效果、解決問(wèn)...

2011-04-21 標(biāo)簽:測(cè)試信號(hào)完整性 1.0萬(wàn) 0

摩爾定律在測(cè)試領(lǐng)域的應(yīng)用

摩爾定律在測(cè)試領(lǐng)域的應(yīng)用

摩爾定律,它以預(yù)測(cè)元件數(shù)每18個(gè)月翻一番而聞名。在長(zhǎng)達(dá)半個(gè)世紀(jì)的時(shí)間里這個(gè)定律在每個(gè)工業(yè)領(lǐng)域給電子器件帶來(lái)了巨大的性能提升和成本降低

2011-03-31 標(biāo)簽:測(cè)試摩爾定律 2k 0

阿爾卡特朗訊完成TD-LTE規(guī)模外場(chǎng)準(zhǔn)入測(cè)試

阿爾卡特朗訊今天早間宣布,該公司的中國(guó)旗艦公司——上海貝爾已完成了TD-LTE規(guī)模外場(chǎng)準(zhǔn)入測(cè)試

2011-03-26 標(biāo)簽:測(cè)試TD-LTE阿爾卡特朗訊 838 0

力科示波器高速串行數(shù)據(jù)全方位測(cè)試方案

力科示波器高速串行數(shù)據(jù)全方位測(cè)試方案

對(duì)于現(xiàn)代的高速串行系統(tǒng),系統(tǒng)之間的協(xié)調(diào)工作顯得更為突出,協(xié)議間的任何沖突也會(huì)導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)出現(xiàn)問(wèn)題,本文將為大家重點(diǎn)介紹力科示波器針對(duì)高速串行信號(hào)物理層、...

2011-03-16 標(biāo)簽:測(cè)試示波器力科 2.1k 1

LTE手機(jī)射頻信道衰落測(cè)試方案

本文將介紹一種創(chuàng)新的全數(shù)字衰落模擬方法,這種方法可極大減少增加貴重設(shè)備所產(chǎn)生的成本,同時(shí)提高測(cè)量精度并縮短測(cè)試時(shí)間。

2011-03-16 標(biāo)簽:測(cè)試射頻手機(jī) 1.5k 0

地海雜波測(cè)試控制平臺(tái)的設(shè)計(jì)

地海雜波測(cè)試控制平臺(tái)的設(shè)計(jì)

采用地海雜波測(cè)試控制平臺(tái)來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)地海雜波的檢測(cè)。這樣可以有效檢測(cè)地海雜波信號(hào),從而掌握各種條件下地海雜波的分部,以便消除或者減小雜波的影響。

2011-03-12 標(biāo)簽:測(cè)試控制平臺(tái)地海雜波 1.6k 0

電子負(fù)載在檢測(cè)設(shè)備測(cè)試中的應(yīng)用

電子負(fù)載在檢測(cè)設(shè)備測(cè)試中的應(yīng)用

隨著科學(xué)技術(shù)的不斷進(jìn)步,并伴隨著電子制造與應(yīng)用領(lǐng)域的發(fā)展,人們對(duì)電子負(fù)載的各種性能要求也在不斷的增加,同時(shí)也希望電子負(fù)載在電子領(lǐng)域?qū)τ谔岣咂洚a(chǎn)品品質(zhì)能夠...

2011-03-11 標(biāo)簽:測(cè)試電子負(fù)載檢測(cè)設(shè)備 1.9k 0

Alpha和Beta測(cè)試簡(jiǎn)介

由于Alpha和Beta測(cè)試的組織難度大,測(cè)試費(fèi)用高,測(cè)試的隨機(jī)性強(qiáng)、測(cè)試周期跨度較長(zhǎng),測(cè)試質(zhì)量和測(cè)試效率難于保證,所以,很多專業(yè)軟件可能不再進(jìn)行Bet...

2011-03-08 標(biāo)簽:測(cè)試Alpha 2.8k 0

TOP三端開(kāi)關(guān)器件簡(jiǎn)單測(cè)試

 TOP三端離線式脈寬調(diào)制開(kāi)關(guān)器件已在50W以下開(kāi)關(guān)電源中廣泛使用,它只有三個(gè)引腳,外圍元件少,其內(nèi)部把低電平永寬調(diào)制電路和大電流高耐壓開(kāi)關(guān)功率管以單片...

2011-03-01 標(biāo)簽:測(cè)試三端TOP 2.5k 2

局域網(wǎng)交換機(jī)的能源效率測(cè)試

在本文中,我們將討論局域網(wǎng)交換機(jī)的功耗測(cè)試、測(cè)量的方法。 在談到局域網(wǎng)能耗效率和能耗時(shí),我們可以考慮下面的一些測(cè)量方法:

2011-02-19 標(biāo)簽:測(cè)試交換機(jī)局域網(wǎng) 971 0

LED行業(yè)常用測(cè)試方法詳解

一、高溫高壓及其沖擊測(cè)試;二、低溫低壓及其沖擊測(cè)試:三、常溫常壓沖擊測(cè)試:四、溫度循環(huán)測(cè)試

2011-02-16 標(biāo)簽:LED測(cè)試 670 0

無(wú)線話筒的實(shí)用測(cè)試方法

無(wú)線話筒的實(shí)用測(cè)試方法

最近一些影視聲音工作者就日常工作中常用的幾種無(wú)線話筒進(jìn)行了詳盡的實(shí)用測(cè)試。無(wú)線話筒的拾音不僅牽涉到距離問(wèn)題,而且牽涉到聲音質(zhì)量問(wèn)題,包括失真、噪聲、干擾...

2011-02-14 標(biāo)簽:測(cè)試無(wú)線話筒 9.5k 0

電阻或電阻率測(cè)試的因素影響

影響電阻或電阻率測(cè)試的主要因素有:a.環(huán)境溫濕度b.測(cè)試電壓(電場(chǎng)強(qiáng)度)c.測(cè)試時(shí)間d.測(cè)試設(shè)備的泄漏e.外界干擾

2011-02-14 標(biāo)簽:電阻測(cè)試電阻率 1.6k 2

匝數(shù)對(duì)磁導(dǎo)率測(cè)試的影響

研究在磁導(dǎo)率u的測(cè)量過(guò)程中,測(cè)試線圈匝數(shù)N對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,關(guān)于測(cè)試樣環(huán)上測(cè)試磁場(chǎng)H徑向不均勻的影響,用積分法解決。指出環(huán)磁導(dǎo)率與材料真實(shí)磁導(dǎo)率之間的差異。

2011-01-29 標(biāo)簽:測(cè)試匝數(shù)磁導(dǎo)率 2.3k 0

聚星RFID測(cè)試系統(tǒng)獲得Dash7聯(lián)盟認(rèn)可

基于NI軟硬件平臺(tái),由NI系統(tǒng)聯(lián)盟商上海聚星儀器有限公司研發(fā)的RFID測(cè)試系統(tǒng)近日通過(guò)Dash7聯(lián)盟及第三方實(shí)驗(yàn)室MET Lab的獨(dú)立認(rèn)證,成為世界首套...

2010-12-25 標(biāo)簽:測(cè)試RFID聚星 752 0

2011年測(cè)試市場(chǎng)機(jī)遇無(wú)限

  與2010年相比,2011年經(jīng)濟(jì)負(fù)面因素不會(huì)加劇,中國(guó)經(jīng)濟(jì)將相對(duì)比較穩(wěn)定,電子測(cè)試測(cè)量行業(yè)的市場(chǎng)需求也會(huì)如是,例如,電子元件制造行業(yè)出現(xiàn)了一些供不應(yīng)...

2010-12-23 標(biāo)簽:測(cè)試 373 0

嵌入式軟件軟硬件集成測(cè)試過(guò)程研究

嵌入式軟件軟硬件集成測(cè)試過(guò)程研究

  引言   軟件質(zhì)量即業(yè)務(wù)生命。軟件測(cè)試項(xiàng)目已經(jīng)變得比以往任何時(shí)候都復(fù)雜和困難。1979年,Glenford Myers在《The Art of S...

2010-12-09 標(biāo)簽:測(cè)試嵌入式軟件 2k 0

中國(guó)移動(dòng)推出全系列TD-LTE測(cè)試終端

  11月18日消息,包括上網(wǎng)卡、上網(wǎng)本、PAD等在內(nèi)的全系列TD-LTE測(cè)試終端昨天在香港同時(shí)亮相。   作為T(mén)D的演

2010-11-18 標(biāo)簽:測(cè)試TD-LTE 789 0

進(jìn)行電路設(shè)計(jì)與測(cè)試的十條建議

1對(duì)所要設(shè)計(jì)的電路有清晰的思路。 2與同伴一起設(shè)計(jì)和測(cè)試電路時(shí),分工要明確,最好每個(gè)人都有機(jī)會(huì)輪換到不同的職責(zé)。

2010-09-07 標(biāo)簽:測(cè)試電路設(shè)計(jì) 1.3k 1

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    Altium_Designer
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    Altium Designer 是原Protel軟件開(kāi)發(fā)商Altium公司推出的一體化的電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)系統(tǒng),主要運(yùn)行在Windows操作系統(tǒng)。這套軟件通過(guò)把原理圖設(shè)計(jì)、電路仿真、PCB繪制編輯、拓?fù)溥壿嬜詣?dòng)布線、信號(hào)完整性分析和設(shè)計(jì)輸出等技術(shù)的完美融合
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    PCB制板
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  • 敷銅板
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    封裝設(shè)計(jì)
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瑞薩 沁恒股份 全志 國(guó)民技術(shù) 瑞芯微 兆易創(chuàng)新 芯??萍?/a> Altium
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adi Cypress Littelfuse Avago FTDI Cirrus LogIC Intersil Qualcomm
st Murata Panasonic Altera Bourns 矽力杰 Samtec 揚(yáng)興科技
microchip TDK Rohm Silicon Labs 圣邦微電子 安費(fèi)諾工業(yè) ixys Isocom Compo
安森美 DIODES Nidec Intel EPSON 樂(lè)鑫 Realtek ERNI電子
TE Connectivity Toshiba OMRON Sensirion Broadcom Semtech 旺宏 英飛凌
Nexperia Lattice KEMET 順絡(luò)電子 霍尼韋爾 pulse ISSI NXP
Xilinx 廣瀨電機(jī) 金升陽(yáng) 君耀電子 聚洵 Liteon 新潔能 Maxim
MPS 億光 Exar 菲尼克斯 CUI WIZnet Molex Yageo
Samsung 風(fēng)華高科 WINBOND 長(zhǎng)晶科技 晶導(dǎo)微電子 上海貝嶺 KOA Echelon
Coilcraft LRC trinamic
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