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標(biāo)簽 > 電子顯微鏡
電子顯微鏡,簡(jiǎn)稱電鏡,英文名Electron Microscope(簡(jiǎn)稱EM),經(jīng)過(guò)五十多年的發(fā)展已成為現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)中不可缺少的重要工具。電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。
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錫須現(xiàn)象:晶粒邊界的移動(dòng)特點(diǎn)
如果晶粒的邊界不移動(dòng),就不能生長(zhǎng)成晶粒,但是,晶粒邊界的運(yùn)動(dòng)很難預(yù)測(cè)。因此,晶粒邊界(g.b.)是關(guān)鍵問(wèn)題,但是就小編的了解,很難根據(jù)晶體材料的表現(xiàn)判斷...
pcb設(shè)計(jì)中常見(jiàn)的十大故障分析技術(shù)
外觀檢查是通過(guò)目視檢查或使用某些簡(jiǎn)單的儀器(例如,體視顯微鏡,金相顯微鏡甚至放大鏡)來(lái)檢查PCB的外觀,以找到 零件故障和相關(guān)的物理證據(jù)。
常見(jiàn)的鋰電等儲(chǔ)能材料的機(jī)理研究方法
原位XRD技術(shù)是當(dāng)前儲(chǔ)能領(lǐng)域研究中重要的分析手段,它不僅可排除外界因素對(duì)電極材料產(chǎn)生的影響,提高數(shù)據(jù)的真實(shí)性和可靠性,還可對(duì)電極材料的電化學(xué)過(guò)程進(jìn)行實(shí)時(shí)...
各種顯微分析設(shè)備(SEM, TEM, AFM, STM)分享!
入射電子與樣品中原子的價(jià)電子發(fā)生非彈性散射作用而損失的那部分能量(30~50eV)激發(fā)核外電子脫離原子,能量大于材料逸出功的價(jià)電子從樣品表面逸出成為真空...
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