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標(biāo)簽 > 缺陷檢測(cè)
缺陷檢測(cè)通常是指對(duì)物品表面缺陷的檢測(cè),表面缺陷檢測(cè)是采用先進(jìn)的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù),對(duì)工件表面的斑點(diǎn)、凹坑、劃痕、色差、缺損等缺陷進(jìn)行檢測(cè)。
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鋰電池外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)是什么
鋰電池外觀缺陷檢測(cè)產(chǎn)生原因: 鋰電池極片的生產(chǎn)過(guò)程中,會(huì)因?yàn)橥坎紮C(jī)、輥壓機(jī)的原因產(chǎn)生露箔、暗斑、亮斑、掉料、褶皺等缺陷。涂布對(duì)于電池的性能有著很大的影響...
2021-06-23 標(biāo)簽:檢測(cè)設(shè)備缺陷檢測(cè) 1.1k 0
簡(jiǎn)單的說(shuō)明一下機(jī)器在線檢測(cè)缺陷的難題
首先,以某一品牌手機(jī)的外觀缺陷檢測(cè),來(lái)通俗地說(shuō)明機(jī)器在線檢測(cè)缺陷的困難。 一、界定缺陷 A、劃傷:傷痕的長(zhǎng)度≤0.1mm、寬度≤0.05mm,這一尺寸,...
外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)相機(jī)、圖像處理算法等集成機(jī)器視覺(jué)技術(shù),能高效地實(shí)時(shí)檢測(cè)、顯示和識(shí)別被測(cè)物體常見(jiàn)的表面缺陷(如孔洞、破損、邊緣裂縫、刮痕、邊緣破損等)...
2021-06-23 標(biāo)簽:檢測(cè)系統(tǒng)缺陷檢測(cè) 2.1k 0
視覺(jué)檢測(cè)和實(shí)時(shí)圖像分析技術(shù)提供了缺陷檢測(cè)解決方案
在加工生產(chǎn)制造過(guò)程中,外觀缺陷檢測(cè)是非常重要的環(huán)節(jié)。一臺(tái)電腦從細(xì)小零部件到整機(jī),期間要經(jīng)過(guò)幾百種不同的外觀缺陷檢測(cè)。 外觀缺陷檢測(cè)需要高昂的人工成本,而...
2021-06-23 標(biāo)簽:檢測(cè)系統(tǒng)缺陷檢測(cè) 812 0
從視覺(jué)AI應(yīng)用案例,看AI落地的瓶頸在哪里?
視覺(jué)人工智能的應(yīng)用場(chǎng)景十分豐富,商業(yè)化價(jià)值巨大,全球40%的AI企業(yè)都集中在視覺(jué)AI領(lǐng)域。在視覺(jué)AI落地的這些項(xiàng)目過(guò)程中遇到了什么問(wèn)題,主要的瓶頸來(lái)自哪...
2019-06-25 標(biāo)簽:機(jī)器視覺(jué)AI人工智能 1.1萬(wàn) 1
機(jī)器視覺(jué)在光纖端面缺陷檢測(cè)中的應(yīng)用
本文介紹了如何利用機(jī)器視覺(jué)進(jìn)行光纖端面的缺陷檢測(cè),并使用美國(guó)國(guó)家儀器(NI)公司的VBAI視覺(jué)自動(dòng)檢測(cè)開(kāi)發(fā)環(huán)境完成了機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)。
2011-12-22 標(biāo)簽:機(jī)器視覺(jué)缺陷檢測(cè)光纖端面 3.4k 0
值此晶圓廠先進(jìn)制程邁入20奈米以下的世代交替之際,讓更高晶圓缺陷檢測(cè)精準(zhǔn)度與速度的電子束(e-beam)晶圓缺陷檢視設(shè)備重要性劇增。也因此,科磊(KLA...
基于SOPC技術(shù)的PET瓶缺陷檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)
闡述基于SOPC在圖像處理方面的設(shè)計(jì)方法。實(shí)際應(yīng)用證明了FPGA在圖像處理的可行性及在處理速度上的優(yōu)勢(shì)。
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