完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>
標(biāo)簽 > 試驗(yàn)箱
文章:918個(gè) 瀏覽:16308次 帖子:18個(gè)
在眾多科研與工業(yè)生產(chǎn)場(chǎng)景中,恒溫恒濕試驗(yàn)箱是不可或缺的重要設(shè)備。它能夠精準(zhǔn)模擬各種復(fù)雜的環(huán)境條件,為材料及產(chǎn)品的性能檢測(cè)提供可靠依據(jù)。?上海和晟HS-2...
2025-04-14 標(biāo)簽:儀器試驗(yàn)箱恒溫恒濕試驗(yàn)箱 110 0
手動(dòng)整理GB 44240電能存儲(chǔ)系統(tǒng)用鋰蓄電池和電池組安全測(cè)試設(shè)備
?GB 44240-2024是國(guó)內(nèi)針對(duì)電能存儲(chǔ)系統(tǒng)用鋰蓄電池和電池組的強(qiáng)制性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),旨在規(guī)范電能存儲(chǔ)系統(tǒng)中鋰電池的安全要求。?該標(biāo)準(zhǔn)由工業(yè)和信息化部組...
2025-03-28 標(biāo)簽:測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)箱儲(chǔ)能電池 408 0
久濱儀器--鹽霧試驗(yàn)箱的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及應(yīng)用場(chǎng)景
在現(xiàn)代工業(yè)制造中,產(chǎn)品的耐久性和可靠性至關(guān)重要。無(wú)論是汽車零部件、電子設(shè)備還是建筑材料,都需要在各種惡劣環(huán)境下保持性能穩(wěn)定。而鹽霧試驗(yàn)箱,正是模擬極端腐...
臭氧老化試驗(yàn)箱:材料老化測(cè)試的關(guān)鍵設(shè)備
在材料科學(xué)領(lǐng)域,臭氧老化試驗(yàn)箱是一種至關(guān)重要的設(shè)備,用于評(píng)估材料在臭氧環(huán)境下的老化性能。臭氧作為一種強(qiáng)氧化劑,能與許多材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng),加速其老化過(guò)程,...
半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試中常見(jiàn)的測(cè)試方法有哪些?
半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試方法多樣,需根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景(如消費(fèi)級(jí)、工業(yè)級(jí)、車規(guī)級(jí))和器件類型(如IC、分立器件、MEMS)選擇合適的測(cè)試組合。測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(如JEDE...
2025-03-08 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試 458 0
從零到一:集成電路封裝測(cè)試實(shí)驗(yàn)室建設(shè)的關(guān)鍵要素
集成電路封裝測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的建設(shè)是一項(xiàng)涉及多學(xué)科、多環(huán)節(jié)的系統(tǒng)工程。從研發(fā)型實(shí)驗(yàn)室的精準(zhǔn)溫控需求到量產(chǎn)型實(shí)驗(yàn)室的高效動(dòng)線設(shè)計(jì),從設(shè)備選型到合規(guī)認(rèn)證,每個(gè)環(huán)節(jié)...
2025-03-08 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱產(chǎn)品測(cè)試模擬實(shí)驗(yàn)室 342 0
低氣壓試驗(yàn)箱:揭秘集成電路在高原與航空環(huán)境下的失效機(jī)制
廣東貝爾低氣壓試驗(yàn)箱憑借多物理場(chǎng)耦合控制、防爆安全設(shè)計(jì) 等核心技術(shù),已助力多家企業(yè)攻克高海拔與太空環(huán)境下的芯片失效難題,累計(jì)完成超10萬(wàn)小時(shí)嚴(yán)苛測(cè)試。無(wú)...
2025-03-08 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備低氣壓試驗(yàn)箱 272 0
快速溫變?cè)囼?yàn)箱:應(yīng)對(duì)5G芯片高頻熱沖擊測(cè)試的解決方案
隨著5G通信、人工智能和自動(dòng)駕駛技術(shù)的爆發(fā)式發(fā)展,芯片瞬時(shí)功耗從傳統(tǒng)制程的10W激增至300W以上(如數(shù)據(jù)中心GPU),導(dǎo)致局部溫度在毫秒級(jí)時(shí)間內(nèi)波動(dòng)超...
2025-03-08 標(biāo)簽:芯片測(cè)試試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備 355 0
老化試驗(yàn)箱:加速集成電路壽命評(píng)估的關(guān)鍵設(shè)備與技術(shù)全覽
在集成電路研發(fā)中,傳統(tǒng)自然老化測(cè)試需耗時(shí)數(shù)年,無(wú)法匹配產(chǎn)品快速迭代需求。老化試驗(yàn)箱通過(guò)模擬高溫、高濕、紫外輻照等極端環(huán)境,將數(shù)年老化過(guò)程壓縮至數(shù)百小時(shí),...
2025-03-08 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱老化測(cè)試試驗(yàn)設(shè)備 407 0
步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱:工業(yè)與科研的環(huán)境模擬利器
在工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究中,模擬各種復(fù)雜環(huán)境條件對(duì)產(chǎn)品或材料進(jìn)行測(cè)試至關(guān)重要,步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱正是這樣一款強(qiáng)大的設(shè)備。上海和晟HS系列步入式恒溫恒濕試驗(yàn)...
從-70℃到+150℃:高低溫試驗(yàn)箱如何護(hù)航無(wú)人機(jī)全場(chǎng)景安全飛行?
高低溫濕熱試驗(yàn)箱作為無(wú)人機(jī)研發(fā)中的重要測(cè)試工具,通過(guò)其寬溫區(qū)范圍(-70℃到+150℃),能夠全面模擬無(wú)人機(jī)在高空和地面作業(yè)環(huán)境中的復(fù)雜溫濕度條件,幫助...
2025-02-22 標(biāo)簽:無(wú)人機(jī)試驗(yàn)箱產(chǎn)品測(cè)試 369 0
無(wú)人機(jī)可靠性保障:高低溫濕熱試驗(yàn)箱如何破解復(fù)雜環(huán)境測(cè)試難題
高低溫濕熱試驗(yàn)箱作為模擬復(fù)雜環(huán)境的關(guān)鍵設(shè)備,在無(wú)人機(jī)的可靠性保障中扮演著不可或缺的角色。從設(shè)計(jì)驗(yàn)證到生產(chǎn)檢測(cè),再到維護(hù)評(píng)估,高低溫濕熱試驗(yàn)箱為無(wú)人機(jī)在各...
2025-02-22 標(biāo)簽:無(wú)人機(jī)試驗(yàn)箱濕熱試驗(yàn)箱 281 0
濕熱試驗(yàn)箱的環(huán)保技術(shù)如何為無(wú)人機(jī)行業(yè)“減負(fù)”
濕熱試驗(yàn)箱的環(huán)保技術(shù)革新,為無(wú)人機(jī)行業(yè)帶來(lái)了多重利好。通過(guò)降低能耗、減少污染和提升測(cè)試效率,環(huán)保型濕熱試驗(yàn)箱有效地為無(wú)人機(jī)行業(yè)“減負(fù)”,助力其實(shí)現(xiàn)可持續(xù)...
2025-02-22 標(biāo)簽:無(wú)人機(jī)試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱 261 0
復(fù)合材料在濕熱環(huán)境中可能發(fā)生形變,影響其力學(xué)性能和尺寸穩(wěn)定性。通過(guò)濕熱形變測(cè)試,可以評(píng)估材料在特定環(huán)境下的性能變化,為工程應(yīng)用提供可靠的數(shù)據(jù)支持。 在濕...
2025-02-22 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱濕熱試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備 209 0
紫外老化試驗(yàn)箱:模擬陽(yáng)光,預(yù)見(jiàn)未來(lái)
紫外老化試驗(yàn)箱是現(xiàn)代工業(yè)中不可或缺的環(huán)境測(cè)試設(shè)備,它通過(guò)模擬陽(yáng)光中的紫外輻射,對(duì)材料進(jìn)行加速老化試驗(yàn)。這種設(shè)備能夠精確控制紫外線強(qiáng)度、溫度、濕度等參數(shù),...
2025-02-19 標(biāo)簽:紫外試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備 239 0
精密制造的“環(huán)境魔法師”:恒溫恒濕試驗(yàn)箱
現(xiàn)代化實(shí)驗(yàn)室和檢測(cè)中心,恒溫恒濕試驗(yàn)箱猶如一位精準(zhǔn)的環(huán)境魔法師,通過(guò)精密的溫濕度控制系統(tǒng),為科研創(chuàng)新和工業(yè)品質(zhì)量把關(guān)。這種能夠模擬-70℃至+150℃溫...
溫度沖擊試驗(yàn):確保無(wú)人機(jī)符合認(rèn)證和標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)鍵步驟
通過(guò)嚴(yán)格的溫度沖擊試驗(yàn),無(wú)人機(jī)產(chǎn)品可以滿足GB、GB/T、ISO、MIL-STD、RTCA DO-160等行業(yè)認(rèn)證和標(biāo)準(zhǔn)的要求,確保其在各種環(huán)境條件下的...
2025-02-14 標(biāo)簽:無(wú)人機(jī)試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備 494 0
高低溫試驗(yàn)箱:產(chǎn)品質(zhì)量的守護(hù)者
高低溫試驗(yàn)箱是現(xiàn)代工業(yè)中不可或缺的環(huán)境測(cè)試設(shè)備,它通過(guò)模擬極端溫度環(huán)境,為產(chǎn)品質(zhì)量提供可靠保障。這種精密儀器能夠精確控制溫度范圍,通常在-70℃至150...
2025-02-13 標(biāo)簽:儀器試驗(yàn)箱測(cè)試設(shè)備 341 0
溫度沖擊和溫度循環(huán):哪種溫度變化對(duì)材料的影響更大?
試驗(yàn)原理與現(xiàn)象溫度沖擊試驗(yàn)的核心原理在于物體的膨脹與收縮特性。當(dāng)物體暴露于高溫環(huán)境時(shí),其內(nèi)部原子或分子間距增大,導(dǎo)致物體體積膨脹;而當(dāng)溫度驟降時(shí),物體又...
冷熱沖擊試驗(yàn)與快速溫變?cè)囼?yàn)的區(qū)別
在當(dāng)今快速發(fā)展的電子行業(yè),電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體器件以及其他敏感組件的可靠性測(cè)試變得尤為重要。在眾多環(huán)境測(cè)試方法中,冷熱沖擊試驗(yàn)和快速溫變?cè)囼?yàn)因其能夠有效模擬...
編輯推薦廠商產(chǎn)品技術(shù)軟件/工具OS/語(yǔ)言教程專題
電機(jī)控制 | DSP | 氮化鎵 | 功率放大器 | ChatGPT | 自動(dòng)駕駛 | TI | 瑞薩電子 |
BLDC | PLC | 碳化硅 | 二極管 | OpenAI | 元宇宙 | 安森美 | ADI |
無(wú)刷電機(jī) | FOC | IGBT | 逆變器 | 文心一言 | 5G | 英飛凌 | 羅姆 |
直流電機(jī) | PID | MOSFET | 傳感器 | 人工智能 | 物聯(lián)網(wǎng) | NXP | 賽靈思 |
步進(jìn)電機(jī) | SPWM | 充電樁 | IPM | 機(jī)器視覺(jué) | 無(wú)人機(jī) | 三菱電機(jī) | ST |
伺服電機(jī) | SVPWM | 光伏發(fā)電 | UPS | AR | 智能電網(wǎng) | 國(guó)民技術(shù) | Microchip |
Arduino | BeagleBone | 樹(shù)莓派 | STM32 | MSP430 | EFM32 | ARM mbed | EDA |
示波器 | LPC | imx8 | PSoC | Altium Designer | Allegro | Mentor | Pads |
OrCAD | Cadence | AutoCAD | 華秋DFM | Keil | MATLAB | MPLAB | Quartus |
C++ | Java | Python | JavaScript | node.js | RISC-V | verilog | Tensorflow |
Android | iOS | linux | RTOS | FreeRTOS | LiteOS | RT-THread | uCOS |
DuerOS | Brillo | Windows11 | HarmonyOS |