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標(biāo)簽 > emc
電磁兼容性EMC(Electro Magnetic Compatibility),是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾的能力。因此,EMC包括兩個(gè)方面的要求:一方面是指設(shè)備在正常運(yùn)行過(guò)程中對(duì)所在環(huán)境產(chǎn)生的電磁干擾不能超過(guò)一定的限值;另一方面是指器具對(duì)所在環(huán)境中存在的電磁干擾具有一定程度的抗擾度,即電磁敏感性。
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鋪銅的一大好處是降低地線阻抗(所謂抗干擾也有很大一部分是地線阻抗降低帶來(lái)的)數(shù)字電路中存在大量尖峰脈沖電流,因此降低地線阻抗顯得更有必要一些,普遍認(rèn)為對(duì)...
如何延長(zhǎng)iot設(shè)備的工作壽命和提高設(shè)備的EMI抗擾性
TI的LPV811系列納米功率放大器消耗低至320nA的靜態(tài)電流,以最大限度延長(zhǎng)電池壽命,并且內(nèi)部免受EMI干擾。然而,這些設(shè)備并不包括在許多最近發(fā)布的...
2019-08-14 標(biāo)簽:emiemciot設(shè)備 1118 0
所謂EMC(Electromagnetic Compatibility;電磁共容)實(shí)際上包含EMI(Electromagnetic Interferen...
抑制電磁輻射干擾的最有效方法是對(duì)電磁場(chǎng)進(jìn)行屏蔽,用導(dǎo)體把兩個(gè)帶電體之間的電力線截?cái)啵蛴酶邔?dǎo)磁率的磁性材料把產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)的物體進(jìn)行屏蔽。但用于電場(chǎng)屏蔽的...
共模例子:如果在計(jì)算機(jī)常用的扁平饋線中抽取相鄰的兩根導(dǎo)線,線長(zhǎng)1米,導(dǎo)線對(duì)上分別加以共模和差模電流,在離導(dǎo)線對(duì)3米處按GB9254規(guī)定測(cè)量騷擾場(chǎng)強(qiáng)。實(shí)驗(yàn)...
EMC輻射測(cè)試中,一致性分析是一個(gè)很困難的任務(wù)
EMC輻射測(cè)試中,比對(duì)測(cè)試一致性是非常令工程師頭痛的,特別是近場(chǎng)輻射場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試,保證測(cè)試一致性是一個(gè)困難的任務(wù)。
作者:嵌入式視覺(jué)聯(lián)盟 BDTI創(chuàng)始人兼總裁Jeff Bier隨著功能越來(lái)越強(qiáng)大的處理器、圖像傳感器、存儲(chǔ)器和其他半導(dǎo)體器件以及相關(guān)算法的出現(xiàn),可以在多種...
LNK系列單片開關(guān)電源集成電路的EMC與EMI設(shè)計(jì)
開關(guān)電源產(chǎn)生電磁干擾最根本的原因,就是其在工作過(guò)程中產(chǎn)生的高di/dt與高dv/dt,它們產(chǎn)生的浪涌電流和尖峰電壓形成了干擾源。開關(guān)管的驅(qū)動(dòng)波形、MOS...
2019-07-31 標(biāo)簽:集成電路開關(guān)電源emi 4722 0
基于一款開關(guān)電源設(shè)備的EMI設(shè)計(jì)
在Simplorer中搭建用于傳導(dǎo)干擾仿真的虛擬測(cè)試平臺(tái)。圖10實(shí)物部分為實(shí)際測(cè)量開關(guān)電源傳導(dǎo)發(fā)射時(shí)采用的電路,包括直流電源、線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)(LISN...
2019-07-30 標(biāo)簽:開關(guān)電源emiemc 1162 0
隨著電子技術(shù)的迅速發(fā)展,現(xiàn)代的電子設(shè)備已廣泛地應(yīng)用于人類生活的各個(gè)領(lǐng)域。當(dāng)前,電子設(shè)備已處于飛速發(fā)展的時(shí)期,并且這個(gè)發(fā)展過(guò)程仍以日益增長(zhǎng)的速度持續(xù)著。電...
電子產(chǎn)品中的電磁發(fā)射和磁場(chǎng)干擾的產(chǎn)生機(jī)理分析
本文將分析電子產(chǎn)品中的電磁發(fā)射和磁場(chǎng)干擾的產(chǎn)生機(jī)理,并介紹了有效抑制和防止干擾的各種技術(shù)措施。
EMC測(cè)試產(chǎn)品的輻射發(fā)射測(cè)量對(duì)測(cè)試環(huán)境和設(shè)備的要求尤為重要
本文主要討論一些關(guān)于輻射發(fā)射測(cè)試的場(chǎng)地設(shè)計(jì)問(wèn)題。開闊場(chǎng)為優(yōu)選的測(cè)試場(chǎng)地。然而,由于日益嚴(yán)重的電磁“污染”和開闊場(chǎng)對(duì)氣候的依賴性,半電波暗室已成為經(jīng)濟(jì)適用...
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