TCR+TSF混合無功補償應用方案設計

針對目前煤礦供電系統(tǒng)中非線性負荷無功消耗大，諧波污染嚴重的問題，該文介紹了一種混合型無功補償及濾波方案TCR+TSF，分析了該方案的原理結構、工作方式和...

2015-03-03 標簽：數(shù)據(jù)采集LTE測試TLC5510 4081 1

太陽能環(huán)境參數(shù)測試儀的系統(tǒng)電路設計

本文介紹了一種基于單片機的太陽能參數(shù)測試儀，提供了3種參數(shù)的測量功能和通信接口，以及2種供電方式，既可作為手持設備使用，又能安裝在發(fā)電系統(tǒng)中，具有較高的...

2014-12-11 標簽：單片機LTE測試智能硬件 2583 0

MSP430單片機熱敏電阻溫度測量系統(tǒng)電路設計

測量溫度一般采用熱敏電阻做傳感器，測量的方法有R—V 轉換電壓測量法和R—F 轉換頻率測量法。這兩種方法的電路復雜且成本高，電路中很多元器件直接影響測量精度

2014-12-11 標簽：MSP430LTE測試低功耗 2762 0

采用TLC5510數(shù)據(jù)采集整形觸發(fā)電路設計

TLC5510的基準電源有多種接法，根據(jù)不同場合選擇適當基準電源，利用內部基準源，TLC5510典型應用電路如圖所示。由于其測量范圍為0．6 V～2．6 V。

2014-12-11 標簽：數(shù)據(jù)采集LTE測試TLC5510 6251 0

LTE終端功率放大器的技術演進與包絡跟蹤測試

隨著 4G LTE 的應用，移動通信實現(xiàn)了數(shù)據(jù)吞吐量的空前增長。然而，移動終端對電池性能的要求也將隨之提升。LTE 上行鏈路信號采用 SC-FDMA 調...

2014-12-11 標簽：LTE測試是德科技4G/LTE 2850 0

AT89S52單片機超聲波測距系統(tǒng)電路設計

超聲波是一種頻率在20KHz 以上的機械波，在空氣中的傳播速度約為340 m／s（20°C時）。超聲波可由超聲波傳感器產(chǎn)生，常用的超聲波傳感器兩大類：一...

2014-12-11 標簽：LTE測試AT89S52接收電路 1.0萬 1

采用加速度傳感器的角度測量儀系統(tǒng)硬件電路設計

在現(xiàn)代控制系統(tǒng)中，角度測量裝置是非常關鍵的需要高精度的部件，其測量精度直接影響著整個系統(tǒng)的性能和精度。目前已有的利用的加速度傳感器實現(xiàn)高精度角度測量的研...

2014-12-11 標簽：傳感器LTE測試智能硬件 7417 0

是德科技TD-LTE基站性能測試方案

LTE（Long Term Evolution長期演進）技術是第三代移動通信演進的主要方向。作為一種先進的技術，LTE系統(tǒng)在提高峰值數(shù)據(jù)速率、小區(qū)邊緣速...

2014-12-11 標簽：LTE測試是德科技4G/LTE 3858 0

運用C8051F340的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)電路設計

本文以帶有片上USB 控制器和D／A 轉換器的高度集成處理器C8051F340為核心器件，采用SD 卡存儲技術利用USB 總線、虛擬儀器實現(xiàn)軟件LabV...

2014-12-11 標簽：單片機數(shù)據(jù)采集LTE測試 4694 1

Aeroflex應用于LTE基帶、RF和協(xié)議的測試解決方案

要想徹底和高效地測試LTE設備，就需要進行包括RF、基帶和協(xié)議在內的全面測試。Aeroflex通過提供不斷增加的產(chǎn)品系列幫助應對這些挑戰(zhàn)。

2014-12-11 標簽：LTE測試Aeroflex4G/LTE 1864 0

采用AT89C51多氣體檢測系統(tǒng)電路設計

氣體傳感器是一種能將氣體種類及其與濃度有關的信息轉換成電氣信號的裝置。根據(jù)這些電氣信號的強弱就可以獲得與待測氣體在環(huán)境中存在情況有關的信息，從而可以進行...

2014-12-11 標簽：LTE測試顯示電路AT89C51 3117 2

抗干擾定型機數(shù)據(jù)采集器系統(tǒng)電路設計 —電路圖天天讀（64）

定型機數(shù)據(jù)采集器工作在電磁環(huán)境非常惡劣的場所，良好的抗干擾技術是數(shù)據(jù)采集器可靠工作的基本保證。本文分析了定型機數(shù)據(jù)采集器的干擾信號的主要來源，從硬件技術...

2014-12-10 標簽：數(shù)據(jù)采集LTE測試智能硬件 7132 0

溫控開關壽命測試儀系統(tǒng)電路設計

溫控開關主要是是采用碟形的雙金屬片作為溫度傳感部件，溫控開關的工作原理為：當溫度升高時，碟形片將產(chǎn)生相應的變形，而當溫度達到碟形片產(chǎn)生變形的值時，碟形片...

2014-12-09 標簽：MCU開關電路LTE測試 2331 0