3.1 正常波形分析

　　對于一個完好的光電倒置開關(guān)，不論是在常溫、高溫環(huán)境下，還是低溫環(huán)境下，所采集的波形應(yīng)是已知的，都是占空比是251.5/360 的波形，正常波形如圖7 所示。

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　　圖7 正常波形圖

　　分析波形圖可以得出：

　　占空比是Δx2/ Δx1 = 0.6961，和理論上的占空比251.5/360 = 0.6986 是相差很小，基本一致的。

　　根據(jù)TI 公司提供的ADC12 內(nèi)核的轉(zhuǎn)換公式：

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　　可得，電壓約為1.92V，和實際的2V 相差0.08V。

　　3.2 異常波形分析

　　在實際的開關(guān)檢測系統(tǒng)所得大量實驗數(shù)據(jù)中，不可能每一個開關(guān)的波形都和理想的波形一致，總會出現(xiàn)異常的數(shù)據(jù)，引起這些異常數(shù)據(jù)的原因也是多樣的。

　　1)異常波形如圖8，9 所示。

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　　圖8 異常波形1

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　　圖9 異常波形2

　　出現(xiàn)這種情況的原因可能是：對光孔和小錐度腔相貫處有毛刺。在相貫處有毛刺，就會在倒置過程中，對小鋼球有阻擋或者粘滯的影響。

　　2)開關(guān)的輸出信號一直為0，無輸出。

　　出現(xiàn)這種情況的原因可能是：(a)光電倒置開關(guān)和檢測系統(tǒng)未連接;(b)在長時間的低溫保持環(huán)境下，開關(guān)內(nèi)腔內(nèi)可能存在的水氣凝固在開關(guān)內(nèi)腔壁上，形成霜，在低溫下，把小鋼球和機械殼體粘結(jié)在一起，擋住了對光孔。

　　3.3 成功比率分析

　　檢測系統(tǒng)的軟件部分波形判斷窗口如圖10 所示。

　　依據(jù)成功比率，可以選出可靠性較高的光電倒置開關(guān)用于存儲測試裝置。

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　　圖10 檢測系統(tǒng)波形判斷窗口

　　4 結(jié)束語

　　光電倒置開關(guān)是新概念動態(tài)測試技術(shù)的基礎(chǔ)上的一種低電壓驅(qū)動、低功率損耗、微小體積開關(guān)器件，其中光電部分利用紅外系統(tǒng)，具有抗干擾性強，響應(yīng)速度快等特點。根據(jù)實際應(yīng)用中的倒置開關(guān)的可靠性的要求，通過檢測系統(tǒng)對開關(guān)的檢測，分析其可靠性，可靠性越高，開關(guān)工作的越穩(wěn)定，從而使應(yīng)用開關(guān)的系統(tǒng)或者設(shè)備性能更加穩(wěn)定。