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基于火花塞離子電流檢測技術(shù)設(shè)計(jì)應(yīng)用 - 全文

來源:電子技術(shù)網(wǎng) 作者:秩名2014年04月02日 11:31
[導(dǎo)讀] 本文基于火花塞離子電流檢測技術(shù)設(shè)計(jì)了發(fā)動機(jī)點(diǎn)火控制電路和發(fā)動機(jī)離子電流檢測電路。點(diǎn)火控制電路主要通過編程模擬發(fā)動機(jī)的點(diǎn)火過程,離子電流檢測電路主要完成對火花塞兩極之間離子電流信號進(jìn)行采集放大的工作,以便處理和分析。該檢測儀的最大特點(diǎn)是在不需要特殊的傳感器的情況下進(jìn)行能夠方便的進(jìn)行檢測。
關(guān)鍵詞:檢測技術(shù)MCU電源

  1.引言

  在最近的實(shí)驗(yàn)研究中,一種新的發(fā)動機(jī)工作情況檢測方法--離子電流檢測法得到國內(nèi)外研究人員的密切關(guān)注。當(dāng)發(fā)動機(jī)工作室,由于工況不同,燃?xì)饷芏炔煌ㄟ^火花塞離子電流的大小及變化也不同,因此利用火花塞電極作為信號感受器可以檢測各種不同發(fā)動機(jī)信號。離子電流檢測法主要有兩大優(yōu)點(diǎn):首先是便于安裝,直接用火花塞作為傳感器,結(jié)構(gòu)簡單對發(fā)動機(jī)結(jié)構(gòu)無損壞,測試原理比較簡單,電路易實(shí)現(xiàn),可以用在工程測量方面;其次是價格較低,可以大范圍運(yùn)用。

  本文所介紹的點(diǎn)火測試系統(tǒng)主要是模擬四缸發(fā)動機(jī)的運(yùn)轉(zhuǎn),通過MCU發(fā)出四路相位差為90度的脈沖信號來模擬,同時脈沖信號的占空比可以根據(jù)點(diǎn)火能量實(shí)時調(diào)整。而離子電流檢測部分則主要對火花塞產(chǎn)生的離子電流信號的提取并進(jìn)行放大處理高壓隔離后進(jìn)行檢測。該檢測儀的最大特點(diǎn)是在不需要特殊的傳感器的情況下進(jìn)行能夠方便的進(jìn)行檢測。

  2.發(fā)動機(jī)點(diǎn)火系統(tǒng)和離子電流檢測電路

  2.1 點(diǎn)火系統(tǒng)的工作原理

  圖2-1為初級電路等效電路圖,由電源(蓄電池),電阻,點(diǎn)火線圈的初級繞組,觸點(diǎn)和電容組成。具體工作過程為:當(dāng)觸點(diǎn)閉合時,初級電流通過電源,附加電阻,再流過點(diǎn)火線圈的初級繞組,其中初級電流的增長方式是按照指數(shù)規(guī)律而增長的,并且初級電流存在極限值,這個極限值約為UB/R.在初級電流不斷增長的同時,初級繞組中產(chǎn)生自感電勢,次級繞組相應(yīng)產(chǎn)生電勢,大小為1.5KV到2KV,但是這個電勢不足以擊穿火花塞的間隙。

  初級電路等效電路圖

  2.2 離子電流電測法的原理

  離子電流檢測法就是根據(jù)外加偏置電壓后,發(fā)動機(jī)燃燒室內(nèi)火花塞兩電極之間產(chǎn)生的離子電流進(jìn)行分析檢測,從而得知發(fā)動機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)情況的方法。由于火花塞離子電流信號中包含大量發(fā)動機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)和燃燒的相關(guān)信息,因此我們可以通過對離子電流信號的采集及處理,提取出我們所需要的發(fā)動機(jī)運(yùn)行參數(shù),以保證發(fā)動機(jī)時刻保持在最佳運(yùn)行狀態(tài)。應(yīng)用這些運(yùn)行參數(shù),我們也可以完成對發(fā)動機(jī)的運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)實(shí)時監(jiān)控,同時可以處理反饋的信息完成相應(yīng)的控制,也可以對發(fā)動機(jī)進(jìn)行故障檢測。

  3.發(fā)動機(jī)離子電流檢測儀的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)

  3.1 MCU控制部分電路設(shè)計(jì)

  動電路部分將MCU發(fā)出的脈沖信號放大直接與點(diǎn)火線圈相連,另外設(shè)置了保護(hù)電路將信號反饋給MCU部分保護(hù)整個測試系統(tǒng)。兩部分之間采用光電耦合器進(jìn)行光電隔離。MCU整體的原理圖設(shè)計(jì)如圖3-1所示,晶振為12M。

  3.2 驅(qū)動部分電路設(shè)計(jì)

  為了使整個點(diǎn)火測試系統(tǒng)比較安全可靠,MCU部分和驅(qū)動部分分別設(shè)計(jì)成兩塊PCB板,MCU完成控制顯示功能,驅(qū)動部分則與點(diǎn)火線圈相連,根據(jù)MCU發(fā)出的控制信號控制點(diǎn)火線圈的充放電。兩部分之間用光電耦合器隔離開。一路驅(qū)動電路的設(shè)計(jì)如圖3-2所示。

  MCU部分電路原理圖

  一路驅(qū)動電路部分原理圖

  離子電流檢測原理圖

  3.3 離子電流檢測部分電路設(shè)計(jì)

  離子電流檢測部分的作用主要是將離子電流信號從發(fā)動機(jī)中取出并且轉(zhuǎn)變?yōu)殡妷盒盘枺撾妷盒盘柦?jīng)過儀表放大器的放大處理后,通過隔離放大器和A/D轉(zhuǎn)換后即可送入單片機(jī)進(jìn)行處理。由于發(fā)動機(jī)點(diǎn)火時火花塞兩端有很高的電壓,達(dá)到上萬伏,因此不能夠直接加400V的偏置電壓,必須要采取隔離措施,這里在設(shè)計(jì)時采取的是用高壓硅堆進(jìn)行隔離的方法,即在400V偏置電壓和高壓線圈之間串入高壓硅堆。加400V的偏置電壓的目的是為了將離子電流信號取出,同時通過電阻R2轉(zhuǎn)變?yōu)殡妷盒盘?。離子電流檢測的原理圖如圖3-3所示。

  3.4 主程序結(jié)構(gòu)框架

  主程序的總體結(jié)構(gòu)比較簡單,首先是開機(jī)歡迎界面的顯示,這是通過調(diào)用相應(yīng)的顯示子程序?qū)崿F(xiàn)的,同時要加2秒的延遲。接著就進(jìn)入循環(huán)部分,這部分首先進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換相應(yīng)子程序的調(diào)用,完成A/D轉(zhuǎn)換同時顯示在液晶屏上,這樣就可以實(shí)時觀察電池電壓,然后就不斷判斷四個按鍵哪個鍵被按下,若被按下則執(zhí)行相應(yīng)的功能,執(zhí)行結(jié)束后返回循環(huán),繼續(xù)判斷,若沒有鍵被按下,則重新開始循環(huán)檢測。

  具體的流程圖3-5所示。

  主程序流程圖

  4.結(jié)論

  本文以火花塞離子電流法采集火花塞點(diǎn)火時形成的離子電流信號作為開發(fā)目標(biāo),對所涉及的基本理論知識、硬件電路的設(shè)計(jì)和軟件程序的編寫作了較為詳細(xì)的介紹?;鸹ㄈx子電流檢測技術(shù)是一項(xiàng)新興的發(fā)動機(jī)燃燒狀態(tài)檢測技術(shù),由于自身存在很多優(yōu)勢,因此它受到了研究者的廣泛關(guān)注。雖然目前由于技術(shù)的局限的適用范圍還比較有限,但是我相信隨著研究者的不斷深入研究,離子電流檢測技術(shù)會進(jìn)一步發(fā)展,這項(xiàng)技術(shù)一定會在未來得到廣泛的應(yīng)用,在檢測發(fā)動機(jī)工作情況的領(lǐng)域中一定會占據(jù)主導(dǎo)地位。

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