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電子發(fā)燒友網(wǎng)>測(cè)量?jī)x表>設(shè)計(jì)測(cè)試>

設(shè)計(jì)測(cè)試

電子發(fā)燒友網(wǎng)的設(shè)計(jì)測(cè)試包括示波器、數(shù)字萬用表、信號(hào)發(fā)生器、眼圖等知識(shí),有最新的新聞和新產(chǎn)品、技術(shù)趨勢(shì)、設(shè)計(jì)方案和應(yīng)用解決方案等知識(shí),是測(cè)試工程師學(xué)習(xí)的便捷平臺(tái)。
簡(jiǎn)易LED光電特性測(cè)試裝置設(shè)計(jì)

簡(jiǎn)易LED光電特性測(cè)試裝置設(shè)計(jì)

以基于Cortex-M3內(nèi)核的32位STM32微處理器為控制核心,外接可控恒流源電路和顏色傳感器等部件,組成了簡(jiǎn)易的LED光電特性測(cè)試裝置,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔,成本低廉,在LED特性的研究上有較高的實(shí)用價(jià)值。...

2013-06-05 標(biāo)簽:LED測(cè)試顏色傳感器光電特性STM32微處理器 4627

安捷倫發(fā)布業(yè)界領(lǐng)先新版SPICE模型提取和模型驗(yàn)證工具

安捷倫科技日前發(fā)布業(yè)界領(lǐng)先的 SPICE 模型提取工具M(jìn)odel Builder Program和SPICE 模型驗(yàn)證工具M(jìn)odel Quality Assurance 的最新版本。...

2013-03-18 標(biāo)簽:IC設(shè)計(jì)安捷倫SPICE模型驗(yàn)證MQAMBP 2742

基于PCI-9846的電子時(shí)間引信通用測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

電子時(shí)間引信是一種使用比較廣泛的引信產(chǎn)品,用來為子母式彈藥的母彈開艙提供控制信號(hào),是遠(yuǎn)程壓制武器系統(tǒng)的主要裝備。電子時(shí)間引信作為一種高度集成的電子引信,其工作性能...

2012-12-27 標(biāo)簽:電源虛擬儀器操作系統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng) 3910

新一代智能計(jì)量?jī)x表炫酷出爐

新一代智能計(jì)量?jī)x表炫酷出爐

本文介紹了最佳超低功耗 MCU、最高性能 RF 收發(fā)器(適合低于 1GHz 的通信)與高級(jí)電源系統(tǒng)解決方案的強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手如何能助推新一代智能計(jì)量?jī)x表走紅歐洲內(nèi)外。...

2012-10-23 標(biāo)簽:msp430德州儀器智能計(jì)量?jī)x表 5462

CompactRIO測(cè)試技術(shù)在油泵功能測(cè)試線中的應(yīng)用

油泵功能測(cè)試需要對(duì)油泵支架的各項(xiàng)性能進(jìn)行測(cè)試,要求測(cè)試系統(tǒng)具備良好的可靠性與時(shí)實(shí)性。測(cè)試的過程不僅包括多種儀器的控制還包括數(shù)據(jù)采集及運(yùn)動(dòng)控制的內(nèi)容。因此,需要建立...

2012-09-11 標(biāo)簽:LabVIEWNICompactRIO測(cè)試技術(shù) 1946

基于CompactRIO的發(fā)動(dòng)機(jī)連桿疲勞試驗(yàn)系統(tǒng)研究

基于CompactRIO的發(fā)動(dòng)機(jī)連桿疲勞試驗(yàn)系統(tǒng)研究

如何根據(jù)發(fā)動(dòng)機(jī)及連桿的參數(shù)確定加載載荷和加載頻率?如何控制液壓系統(tǒng)按照設(shè)定的加載載荷和頻率進(jìn)行加載?如何實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)試驗(yàn)狀態(tài),判斷連桿發(fā)生疲勞破壞?如何采集、存儲(chǔ)、分析相...

2012-09-11 標(biāo)簽:發(fā)動(dòng)機(jī)LabVIEWNICompactRIO連桿 2885

機(jī)器視覺車流量檢測(cè)技術(shù),智能交通的最好體現(xiàn)

車流量檢測(cè)一直是交通領(lǐng)域比較關(guān)注的項(xiàng)目,既可以保障道路行駛安全,也可以達(dá)到宏觀調(diào)控的目的。上篇我們說到,如今已經(jīng)是智能交通時(shí)代了,也介紹了基于機(jī)器視覺的車牌識(shí)別技...

2012-09-07 標(biāo)簽:智能交通機(jī)器視覺 1581

集成式比特誤碼率測(cè)試儀在FPGA中的應(yīng)用

集成式比特誤碼率測(cè)試儀在FPGA中的應(yīng)用

本文介紹IBTERT基本功能、實(shí)現(xiàn)原理,并結(jié)合實(shí)例闡述用IBTERT調(diào)試FPGA時(shí)的具體方法和調(diào)試步驟。...

2012-09-03 標(biāo)簽:眼圖誤碼率測(cè)試儀高速串行接口 6444

組建基于LXI總線的高效鋰離子電池測(cè)試系統(tǒng)

組建基于LXI總線的高效鋰離子電池測(cè)試系統(tǒng)

手機(jī)鋰電池測(cè)試主要針對(duì)經(jīng)過封裝后的電池保護(hù)電路進(jìn)行功能檢測(cè),利用電源、電子負(fù)載、多路開關(guān)和數(shù)字萬用表等儀器仿真各種充放電時(shí)的極限過壓、過流情況,檢測(cè)電池保護(hù)電路是...

2012-08-29 標(biāo)簽:鋰離子電池LXI總線34980A 1394

軟件無線電的電磁兼容分析

軟件無線電是1992年由MIL TRE公司首次提出的,它的中心思想是。構(gòu)造一個(gè)具有開放性、標(biāo)準(zhǔn)化、模塊化的通用硬件平臺(tái),將各種功能 如工作頻段,調(diào)制解調(diào)類型,數(shù)據(jù)格式、加密模式、...

2012-08-28 標(biāo)簽:電磁兼容軟件無線電 1088

基帶衰落仿真在手機(jī)綜合測(cè)試方面的應(yīng)用

基帶衰落仿真在手機(jī)綜合測(cè)試方面的應(yīng)用

 衰落從范圍上來講,大體分為三種情況:大區(qū)域衰落,小區(qū)域衰落和室內(nèi)衰落。如圖1所示,大區(qū)域衰落指的是信號(hào)在長(zhǎng)距離(幾百個(gè)波長(zhǎng)以上)傳播時(shí)的平均衰減,主要由大氣損耗,...

2012-08-28 標(biāo)簽:基帶手機(jī)測(cè)試衰落仿真 1191

鼎陽示波器在高頻機(jī)械上的應(yīng)用

鼎陽示波器在高頻機(jī)械上的應(yīng)用

什么是高頻波?很多人存在疑問,并且不知道怎么回答這個(gè)問題。 其實(shí) 高頻波 是超聲波的一種,他們的區(qū)分標(biāo)準(zhǔn)是頻率。當(dāng)超聲波的頻率大于100KHz時(shí),我們就稱之為高頻波。高頻波利...

2012-08-28 標(biāo)簽:高頻 920

嵌入式軟件測(cè)試

嵌入式軟件測(cè)試

目前在嵌入式領(lǐng)域,目標(biāo)系統(tǒng)的應(yīng)用系統(tǒng)日趨復(fù)雜,而由于競(jìng)爭(zhēng)要求產(chǎn)品快速上市,開發(fā)技術(shù)日新月異,同時(shí)硬件發(fā)展的日益穩(wěn)定,造成了軟件故障日益突出。由此,軟件的重要性越來...

2012-08-16 標(biāo)簽:嵌入式軟件測(cè)試 3027

大容量高速率FPGA產(chǎn)品測(cè)試綜合方案

現(xiàn)在FPGA的一個(gè)發(fā)展趨勢(shì)是把CPU、MCU集成進(jìn)來,這些變化對(duì)測(cè)試企業(yè)也是一種潛在的挑戰(zhàn)。...

2012-08-15 標(biāo)簽:FPGA泰克邏輯分析儀混合信號(hào)示波器 1122

小模擬信號(hào)的精確度測(cè)量的設(shè)計(jì)解析

小模擬信號(hào)的精確度測(cè)量的設(shè)計(jì)解析

一個(gè)量程10千克的秤若能分辨出1克的重量變化,那么這個(gè)秤的主要組件常常是增量累加模數(shù)轉(zhuǎn)換器。設(shè)計(jì)師需要溫度測(cè)量的精確度達(dá)到0.01度時(shí),增量累加ADC也常常成為首選方案。增量累...

2012-08-03 標(biāo)簽:模擬信號(hào)測(cè)量 1183

機(jī)器視覺識(shí)別在紡織工業(yè)的應(yīng)用實(shí)現(xiàn)方法

一般布匹檢測(cè)(自動(dòng)識(shí)別)先利用高清晰度、高速攝像鏡頭拍攝標(biāo)準(zhǔn)圖像,在此基礎(chǔ)上設(shè)定一定標(biāo)準(zhǔn);然后拍攝被檢測(cè)的圖像,再將兩者進(jìn)行對(duì)比。但是在布匹質(zhì)量檢測(cè)工程中要復(fù)雜一...

2012-08-03 標(biāo)簽:機(jī)器視覺機(jī)器視覺識(shí)別 1005

一種LED芯片非接觸式在線檢測(cè)方法

一種LED芯片非接觸式在線檢測(cè)方法

基于pn結(jié)的光生伏特效應(yīng),本文研究了一種非接觸式LED芯片在線檢測(cè)方法。通過測(cè)量pn結(jié)光生伏特效應(yīng)在引線支架中產(chǎn)生的光生電流,檢測(cè)LED封裝過程中芯片質(zhì)鍍及芯片與支架之間的電氣...

2012-07-31 標(biāo)簽:非接觸式PN結(jié)光生伏特效應(yīng)led芯片檢測(cè) 3582

芯片設(shè)計(jì)中必不可少的調(diào)試設(shè)計(jì)

芯片設(shè)計(jì)中必不可少的調(diào)試設(shè)計(jì)

在測(cè)試中,目的是要盡快確定芯片是否以較高的穩(wěn)定性正常工作,而不是絕對(duì)的穩(wěn)定性。現(xiàn)在芯片設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)普遍認(rèn)識(shí)到,這需要在芯片上添加DFT(可測(cè)試設(shè)計(jì))電路。第三方工具和IP (...

2012-07-31 標(biāo)簽:芯片芯片設(shè)計(jì)調(diào)試 4246

大功率LED路燈的光生物安全測(cè)試與分析

大功率LED路燈的光生物安全測(cè)試與分析

1 引言 隨著LED 技術(shù)的不斷進(jìn)步,LED 功效不斷增大,亮度不斷提高,過去LED 出射光不會(huì)對(duì)人體造成危害的時(shí)代已經(jīng)一去不復(fù)返,歐洲、北美等發(fā)達(dá)國家和地區(qū)都開始密切關(guān)注LED 產(chǎn)品的光...

2012-07-30 標(biāo)簽:LED路燈輻射照度輻射亮度表觀光源光生物安全性 4620

消費(fèi)類音視頻SoC系統(tǒng)ATE測(cè)試要求

消費(fèi)類音視頻SoC系統(tǒng)ATE測(cè)試要求

隨著大批量消費(fèi)類行業(yè)中SoC與SIP日趨復(fù)雜化,低成本與高器件壽命周期這兩個(gè)基本要求的矛盾更加突出。消費(fèi)者要求在相同或更低成本基礎(chǔ)上提高性能,同時(shí)還常常提出新的改進(jìn)。因此...

2012-07-25 標(biāo)簽:SoC系統(tǒng)SOC測(cè)試ATE測(cè)試 3449

電子及電工測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)分析

導(dǎo)讀:這些年來,由于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)的高精度和高性能產(chǎn)品對(duì)元器件的質(zhì)量有比較高的要求,因此元器件等產(chǎn)品的高可靠性就成為人們考考慮的主要問題,處于對(duì)這種情況的考慮,基于目...

2012-07-25 標(biāo)簽:電子電工測(cè)試 1240

基于DSP和CPLD的金屬磁記憶檢測(cè)儀的設(shè)計(jì)方案

基于DSP和CPLD的金屬磁記憶檢測(cè)儀的設(shè)計(jì)方案

金屬磁記憶作為一項(xiàng)新的無損檢測(cè)技術(shù),已在石油化工管道、發(fā)電站汽輪機(jī)、工程機(jī)械裝備等領(lǐng)域得到越來越廣泛的應(yīng)用。采用DSP和CPLD組合設(shè)計(jì)的檢測(cè)儀,不僅能保證高速的信號(hào)采集處...

2012-07-19 標(biāo)簽:dspcpld檢測(cè)儀 1926

AC/DC的電源測(cè)試解決方案

AC/DC的電源測(cè)試解決方案

電源發(fā)展概述 電源行業(yè)是整個(gè)電子產(chǎn)業(yè)的能源基礎(chǔ)行業(yè),隨著電力電子設(shè)備的多樣化及人們節(jié)能環(huán)保意識(shí)的增強(qiáng),電源市場(chǎng)也隨之繁榮活躍起來,競(jìng)爭(zhēng)預(yù)演愈烈。 電源種類尤其復(fù)雜多...

2012-07-04 標(biāo)簽:電源電源測(cè)試 2237

基于運(yùn)算放大器的性能測(cè)試儀設(shè)計(jì)

基于運(yùn)算放大器的性能測(cè)試儀設(shè)計(jì)

利用運(yùn)算放大器輸入的比較特性設(shè)計(jì),制作運(yùn)算放大器速測(cè)儀能夠進(jìn)行快速、準(zhǔn)確地判測(cè)所測(cè)運(yùn)放的好壞,在元器件選擇中十分有用。...

2012-07-04 標(biāo)簽:運(yùn)算放大器性能測(cè)試儀 1500

新型電路通斷檢測(cè)器設(shè)計(jì)方案

新型電路通斷檢測(cè)器設(shè)計(jì)方案

在實(shí)際生產(chǎn)生活當(dāng)中,經(jīng)常需要對(duì)線路的通斷進(jìn)行檢測(cè)。針對(duì)上述問題,設(shè)計(jì)出了這款新型的電路通斷檢測(cè)器...

2012-07-04 標(biāo)簽:電路檢測(cè)電路通斷 4660

便攜式PXI總線數(shù)字電路板測(cè)試診斷系統(tǒng)

便攜式PXI總線數(shù)字電路板測(cè)試診斷系統(tǒng)

自上世紀(jì)50年代以來,隨著微電子技術(shù)、通信技術(shù)及計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的發(fā)展和大規(guī)模集成電路的廣泛應(yīng)用,電子設(shè)備數(shù)字電路故障維修越來越復(fù)雜,測(cè)試難度越來越大。與此同時(shí),數(shù)字電...

2012-06-29 標(biāo)簽:數(shù)字示波器PXI總線電路板測(cè)試 1547

設(shè)定相位同調(diào)RF量測(cè)系統(tǒng):從MIMO到波束賦形

設(shè)定相位同調(diào)RF量測(cè)系統(tǒng):從MIMO到波束賦形

當(dāng) MIMO 與波束賦形技術(shù)正蓬勃發(fā)展時(shí),亦對(duì)測(cè)試工程師帶來新的挑戰(zhàn);而模塊化的 RF 儀控功能更可提供高成本效益且精確的量測(cè)解決方案。...

2012-06-20 標(biāo)簽:MIMORF量測(cè)系統(tǒng)波束賦形 1274

汽車應(yīng)用中的EMI兼容性測(cè)試

汽車應(yīng)用中的EMI兼容性測(cè)試

集成電路的EMI兼容性是電子設(shè)計(jì)能否成功的關(guān)鍵所在。本文僅從放大器是否內(nèi)置EMI濾波器出發(fā),介紹了兩款非常類似的放大器執(zhí)行直流測(cè)量時(shí),在RF環(huán)境中的直流性能有何顯著差別。...

2012-06-13 標(biāo)簽:emi汽車應(yīng)用兼容性測(cè)試 1392

鉑電阻溫度檢測(cè)器(PRTD)和ADC應(yīng)用

高精度溫度測(cè)量帶動(dòng)鉑電阻溫度檢測(cè)器(PRTD)和Σ-ΔADC應(yīng)用,高端工業(yè)和醫(yī)學(xué)應(yīng)用需要在整個(gè)溫度范圍提供±1°C至±0.1°C,甚至更高精度的溫度測(cè)量,并且價(jià)格合理、功耗較低...

2012-06-11 標(biāo)簽:溫度測(cè)量adc鉑電阻PRTD 14277

UPS電源的穩(wěn)態(tài)和動(dòng)態(tài)測(cè)試方法

UPS電源的測(cè)試一般包括穩(wěn)態(tài)測(cè)試和動(dòng)態(tài)測(cè)試兩類。耗、功率因數(shù)、效率、輸出電壓波形、失真度及輸出電壓的頻率等。...

2012-06-07 標(biāo)簽:UPS電源動(dòng)態(tài)測(cè)試穩(wěn)態(tài)測(cè)試 1826

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