AT256全品種集成電路測(cè)試儀測(cè)試適用范圍：

元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試

電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)（附加測(cè)試電纜線和各種封裝的測(cè)試夾）

測(cè)試原理（v-i曲線測(cè)試）：

對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖，以備對(duì)比和存儲(chǔ)。

被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫(kù)中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì)，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。

測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括： 電壓、波形、源電阻、頻率?？筛鶕?jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。

集成電路測(cè)試操作如此簡(jiǎn)單：

1.從數(shù)據(jù)庫(kù)選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào)。

2.將集成電路插入測(cè)試座。

3.執(zhí)行測(cè)試

4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果。

商品輸入檢驗(yàn)

不需要電子專業(yè)知識(shí)。

適用于所有集成電路/封裝件。及各種類型電路板

靈活、好安裝、宜操作。

測(cè)試結(jié)果直接： PASS或FAIL.

軟件可設(shè)定各種測(cè)試條件。

可提供完整的元件測(cè)試分析報(bào)告。

適合不同封裝形式的元件：

-雙列插腳（DIL）

-小型封裝集成集成電路（SOIC）

-小型封裝（SSOP， TSOP）

-塑料無(wú)引線芯片載體封裝（PLCC）

-四方扁平封裝（TQFP， PQFP， LQFP）

-球門陣列封裝（BGA）

注意：AT系列不受限于只能測(cè)試電子集成電路， 也可用于整個(gè)模塊。

測(cè)試通道

標(biāo)準(zhǔn)提供多達(dá)128個(gè)測(cè)試通道， 可設(shè)定用于不同的元器件封裝。

升級(jí)模塊：64通道

可擴(kuò)充到192/256個(gè)測(cè)試通道。

用兩種模式掃瞄：

?一般模式： 掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn)， 測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上。

?矩陣模式： 掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn)， 測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上。

數(shù)據(jù)庫(kù)

用戶可根據(jù)自己的需要，用性能完好的器件創(chuàng)建ic的測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)，以備日后測(cè)試使用。創(chuàng)建一個(gè)測(cè)試庫(kù)僅需要數(shù)秒的操作時(shí)間，操作十分簡(jiǎn)單容易。

結(jié)果比較型式：

將數(shù)據(jù)庫(kù)中的IC與待測(cè)ic的V-I曲線相比較， 即可判定被測(cè)IC的好壞，提供兩種比較型式：

?與數(shù)據(jù)庫(kù)中元件比較： 被測(cè)IC的V-I曲線與數(shù)據(jù)庫(kù)中的相同型號(hào)的IC比較

? 被測(cè)IC之間比較比較： 多個(gè)集成電路的之間的V-I曲線相比較。

軟件- 靈活性

1）軟件提供測(cè)試庫(kù)圖形化修改功能，以方便用戶制作不同新封裝形式器件的測(cè)試庫(kù)，

2）軟件可以自定義各個(gè)通道的使用，一臺(tái)機(jī)器可以同時(shí)檢測(cè)多個(gè)器件

報(bào)告

1）軟件可產(chǎn)生一詳細(xì)的測(cè)量報(bào)告， 包含集成電路相片。這份報(bào)告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。

2）用戶可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動(dòng)態(tài)阻抗圖可儲(chǔ)存在pc中，并可隨時(shí)讀出， 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。

3）為了今后使用方便， 可在集成電路的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)文件夾內(nèi)增加其它信息， 包括：相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。

針?。?a href="http://www.brongaenegriffin.com/tags/pi/" target="_blank">PinPrint）動(dòng)態(tài)阻抗詳細(xì)分析元件的管腳。

定制化的報(bào)告（PinPrint）。

轉(zhuǎn)接器

1）標(biāo)準(zhǔn)型：

用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封裝; 也有提供AT系列校正工具組。

標(biāo)準(zhǔn)SOIC轉(zhuǎn)接器

通用型：

用于SOIC及PLCC封裝; 一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于各種芯片尺寸， 測(cè)試有20、28、32、44、52、68、84腳的集成電路。

一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于測(cè)試寬0.15”～0.6”達(dá)44腳的集成電路。

客制型：

可訂制各種封裝的轉(zhuǎn)接器， 包括： BGA、QFP; 請(qǐng)進(jìn)一步洽詢， 以設(shè)計(jì)符合您需求的轉(zhuǎn)接器。

BGA插座轉(zhuǎn)接器

技術(shù)規(guī)格

技術(shù)參數(shù)：AT256

儀器用途一

翻新及二手器件檢測(cè)

? 可由倉(cāng)庫(kù)部門在收到集成電路時(shí)進(jìn)行檢查， 以確保收到的集成電路是真品; 商品輸入部門的員工不需要電子知識(shí)即可操作這個(gè)系統(tǒng)。

? 檢查可能偽造的集成電路， 并分析供貨商的測(cè)試數(shù)據(jù)。用戶可應(yīng)用完整的報(bào)告， 確定問(wèn)題的來(lái)源。

翻新及二手器件檢測(cè)儀

能快速簡(jiǎn)單檢測(cè)出翻新IC及集成電路測(cè)試的解決方案。

透過(guò)精密的PinPrint（針?。y(cè)試算法則，能夠辨識(shí)出有不同內(nèi)部結(jié)構(gòu)或根本沒(méi)有結(jié)構(gòu)， 甚至是由不同廠家所制造的集成電路。

他就像您的電子守衛(wèi)， 守衛(wèi)在您生產(chǎn)設(shè)備之入口， 不受偽造元器件之滲透?jìng)Α?/p>

何謂偽造翻新集成電路

Counterfeit ［koun-ter-fit］（形容詞）： 意思是仿造， 以便虛偽不實(shí)地假裝是真品。

制造膺品（仿冒品）集成電路是非法的， 會(huì)出現(xiàn)（仿冒品）是因?yàn)殡娮恿慵目赊D(zhuǎn)讓。全球任何需要制造PCB集成電路的公司都在承擔(dān)這個(gè)風(fēng)險(xiǎn)， 也或許曾經(jīng)收到過(guò)大批的”不良”元器件。

仿冒可透過(guò)各種過(guò)程達(dá)成： 在極不可靠的過(guò)程里， 把集成電路從報(bào)廢/棄置的電路板中取出， 接著作表面處理維修; 再加上偽相關(guān)信息于集成電路上， 包括制造廠商標(biāo)， 然后拿來(lái)當(dāng)作真品賣給粗心的買家。另一個(gè)方法則是真的憑正規(guī)的制造能力， 在標(biāo)準(zhǔn)工時(shí)以外的大夜班（ghost shift）生產(chǎn)集成電路， 然而， 以那種方式生產(chǎn)的芯片含有許多制造上的瑕疵， 有些甚至沒(méi)有硅片（silicon die）。

很不幸地， 得一直等到把它們放在PCB上， 在生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)對(duì)完整的組裝進(jìn)行第一次測(cè)試時(shí)， 才可能鑒別到仿造的集成電路。如此將導(dǎo)致昂貴的過(guò)程－辨識(shí)問(wèn)題集成電路、再把它們從生產(chǎn)中的所有電路板上拿掉。在某些情況下， 甚至得把整批成品回收回工廠。

5年來(lái)， 仿冒集成電路的舉發(fā)呈倍數(shù)地增加; 2008年， 仿冒IC的出口量占全球貿(mào)易總額的8%以上， 相當(dāng)于損失60億的銷售額。

責(zé)任編輯：gt