AUKOM 一級課程通過系統(tǒng)的分析測量誤差，即工件、環(huán)境、測量機、操作人員、測量策略，五個方面分析誤差因子，保證策量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

AUKOM 二級課程是在AUKOM 一級的基礎(chǔ)上，更深入的展開講解人機料法環(huán)對測量結(jié)果準(zhǔn)確性的影響。

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AUKOM 一級/二級課程學(xué)習(xí)目的

通過AUKOM理論的系統(tǒng)學(xué)習(xí)，可以提高CMM操作人員對測量結(jié)果的更加自信的把控，可以為工藝改進提供準(zhǔn)確的分析和原因查找，可以防止誤判錯判造成的成本浪費，幫助公司提高生產(chǎn)效率，提高利潤率。

精密檢測環(huán)境要求

環(huán)境對測量結(jié)果的影響是非常嚴(yán)重的，環(huán)境是滿足測量的最基本的要求。CMM在安裝之前對溫度、濕度、震動都有明確的要求，以保證設(shè)備精度穩(wěn)定。精度等級越高的設(shè)備，對安裝的環(huán)境要求也會越高。CMM和工件都會受到檢測環(huán)境的影響。

測量策略的制定

閱讀和理解圖紙，確定測量任務(wù)，編寫檢測計劃書。

確定工件放置姿態(tài)以及在機器上的放置位置。

選擇傳感器，確定合適的測量模式。

確定基準(zhǔn)，選擇坐標(biāo)系的建立方式。

使用元素列表確定恰當(dāng)?shù)囊丶瓣P(guān)聯(lián)要素。

確定評定策略。

確定探測策略（測點數(shù)量及分布）。

確定傳感器參數(shù)（光照、放大倍率、測力、掃描速度等）。

選擇合適的附件。

基準(zhǔn)對測量的影響

設(shè)計基準(zhǔn)的合理定義，會直接影響加工成本的增加，同時也會造成檢測數(shù)據(jù)的不穩(wěn)定?；鶞?zhǔn)測量的好壞會直接影響到測量結(jié)果的質(zhì)量。下面的例子說明了較長的被測要素和短基準(zhǔn)之間產(chǎn)生的問題，由于杠桿效應(yīng)，短基準(zhǔn)上的形狀偏差對被測要素的位置和方向測量產(chǎn)生的影響是不穩(wěn)定的。

測點的數(shù)量和分布

測量點應(yīng)能更后的表達(dá)被測表面的形狀。測點的數(shù)量越多越好，但無數(shù)個點也是不現(xiàn)實的，根據(jù)被測要素的輸出特性，選取合理的點數(shù)，均勻分布在整個被測元素表面。既滿足特性評價，也滿足數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。

下圖是三葉形的圓，當(dāng)測點數(shù)目不足時，測得圓的直徑和位置會不穩(wěn)定。

▲ 3點均勻分布：直徑變化，圓心穩(wěn)定

▲ 4點均勻分布：直徑穩(wěn)定，圓心變化

▲ 7點均勻分布：直徑和圓心都穩(wěn)定

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圖像處理

影像測量可以用輪廓濾波減少污染和毛邊的影響。

異常值濾波用理想幾何要素信息作為異常值計算的基礎(chǔ)，異常值濾波也會濾波輪廓的形狀。

▲ 輪廓濾波

▲ 異常值濾波

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計算機斷層攝影原理

X射線管發(fā)出的錐形光束穿透工件，工件在掃描期間旋轉(zhuǎn)，記錄下許多二維射線圖像。例如，一臺二維X射線檢測器記錄下400、800、或1600張在各種旋轉(zhuǎn)位置的射線圖像，并保存用于進一步處理。通過數(shù)學(xué)算法，利用總的2D射線圖像重構(gòu)被測物體的記錄體積。

自由曲面測量

空間點測量，空間點的方向與表面法向相反。

測針半徑的方向與表面法向相反。

通常會評價法向方向上的三維距離。

評價過程包括

檢測結(jié)果的合理性

驗證評價方法

考慮擬合方法

考慮濾波

考慮異常值

創(chuàng)建必要的構(gòu)造

結(jié)構(gòu)對三坐標(biāo)精度的影響

設(shè)備制造商無論多么努力，所有測量機都有自身結(jié)構(gòu)造成的固有測量不確定度。

CMM的精度會受下列因素的影響

導(dǎo)軌、軸承和驅(qū)動

光柵尺

傳感器和附件

工件裝夾

當(dāng)一個程序要被用于生產(chǎn)測量時，每次測量時都使工件位于相同的位置以防止碰撞是非常重要的。這可以用夾具來實現(xiàn)。必須記錄下列信息：

夾具（識別）

工件在夾具中的定位

工件上的定位點

夾具在測量范圍中的位置