NI成功舉辦NIWeek 2008 ——共同關注綠色工程、新產品及未來技術發(fā)展

在第14屆NIWeek圖形化系統設計年會上，美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）多位資深專家與眾多在座工程師和科學就如何使用NI產品及技術來改善日常生活的主題進行了探討。在對超過2,800名在座工程師及科學家的演講中，NI工程師介紹了眾多用戶的成功綠色工程應用，演示了具備更高性能和更高效率的新產品及對未來技術的展望。

NI公司總裁、CEO兼創(chuàng)始人之一James Truchard博士，在NIWeek 2008主題演講上首先向大家介紹了如何讓用戶通過NI 產品來改善各類應用中的環(huán)境，包括從提高柴油發(fā)動機效率到開發(fā)可再生能源并降低工業(yè)設備的故障時間。Truchard博士向大家介紹了通過采用NI LabVIEW圖形化編程工具和硬件（如NI CompactRIO）來識別及測量實際問題，同時設計更高效及環(huán)境友好的應用，從而解決上述問題。

“NI的工具可以幫助工程師更好地進行測量設計，” Truchard博士表示：“用戶通過LabVIEW及 NI硬件解決實際問題，并針對提高能源有效性及環(huán)境敏感性提出新思路，適用從風車到軋鋼廠的各類應用?！?

之后，NI 資深研發(fā)部副主席Tim Dehne演示了包括LabVIEW 8.6、Wi-Fi 及以太網數據采集設備、NI Single-Board RIO發(fā)布平臺、及基于PXI Express 6.6 GHz RF設備等NI新產品的最新特性。這些最新產品提高了在復雜測試測量應用中的測試能力，并針對工業(yè)及嵌入式應用的發(fā)布提供了廣泛的功能選項。Dehne先生還著重提到了采用圖形化系統設計方法所帶來的益處：在一項運輸機的控制系統案例中，有效降低了空調系統及滅火系統的電力消耗。

NI商業(yè)與技術研究員Mike Santori先生在NIWeek 第二天會議中首先向在座工程師介紹了LabVIEW軟件是如何發(fā)展為圖形化系統設計工具，并不斷提高性能，幫助工程師開發(fā)出更高級的測試、測量、數據采集及嵌入式設計應用。Santori先生演示了LabVIEW在當前開發(fā)中的新特性，包括為LabVIEW MathScript優(yōu)化多核性能、基于配置的動態(tài)測試、更高層抽象的系統框圖工具以及用于創(chuàng)建環(huán)境監(jiān)測中自定義測量的無線傳感器網絡方案。

另外，NI共同創(chuàng)始人之一、被尊稱為“LabVIEW之父”的Jeff Kodosky先生在第二天日程的結束發(fā)言中強調了構架改變所帶來的挑戰(zhàn)，包括多核處理器及現場可編程門陣列 (FPGA) 。Kodosky先生指出目前的應用變得越來越復雜，需要采集、挖掘和分析PB級數據量。隨著工業(yè)趨于高并行化設備及不斷增大的分布式數據集，他認為LabVIEW圖形化數據流編程模式將是這類高級應用中最理想的軟件。

“當您采用LabVIEW進行設計時，您的未來就有了權威保障，” Kodosky先生表示：“無論計算機構架如何更新，更多核的處理器或超級FPGA到自定時FPGA，圖形化數據流編程都能適用。”

此外，院校關系部門副主席Ray Almgren先生在NIWeek閉幕演講中，強調了讓各年齡學生對科學、技術、工程及數學產生興趣的重要性。Almgren先生著重提到了NI 與樂高教育在樂高WeDo教育機器人平臺上的協作，共同舉辦了FIRST(For Inspiration and Recognition of Science and Technology)機器人競賽，以此作為行業(yè)與院校的合作典范，培養(yǎng)未來具有創(chuàng)新意識的工程師。