共同為國(guó)防和航空航天領(lǐng)域開(kāi)發(fā)了基于PXI的產(chǎn)品。測(cè)試系統(tǒng)集成領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者Astronics與PXI自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的領(lǐng)導(dǎo)者NI強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合，為軍用自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備（ATE）應(yīng)用提供了業(yè)界一流的產(chǎn)品。
2015-11-06 11:17:06
2879 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE)對(duì)PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）中的重要性。
2023-11-01 15:43:104648 
大功率自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備 (ATE) 系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)為測(cè)試工程師帶來(lái)了眾多挑戰(zhàn)。但測(cè)試是必要的，它能夠確保產(chǎn)品的安全性以及產(chǎn)品達(dá)到所發(fā)布的性能規(guī)格。
2025-03-31 11:05:011414 
的 NIWeek 上揭開(kāi)了 NI LabVIEW 2011的面紗 -- 備受贊譽(yù)的 LabVIEW 軟件迎來(lái)了25周年。LabVIEW 將加速提升工程師與科學(xué)家研發(fā)和部署測(cè)試測(cè)量和控制系統(tǒng)的效率，以應(yīng)對(duì)和解
2011-08-02 11:46:13
對(duì)于負(fù)責(zé)為5G無(wú)線系統(tǒng)量身打造下一代測(cè)試設(shè)備的測(cè)試和測(cè)量（T&M）供應(yīng)商而言，方法十分重要。與早期的3G和4G LTE部署相比，5G增加了架構(gòu)方面的復(fù)雜性，主要原因在于MIMO天線配置。面對(duì)
2018-07-04 10:20:48
）與待測(cè)芯片（DUT）的物理 “神經(jīng)中樞”，ATE 測(cè)試板（涵蓋負(fù)載板、探針卡 PCB 等核心品類）的性能表現(xiàn)，直接左右著測(cè)試數(shù)據(jù)的真?zhèn)巍?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試效率的高低，更深刻影響著芯片的最終量產(chǎn)良率。它早已超越傳統(tǒng)
2025-12-15 15:09:09
的一款功能強(qiáng)大、可立即執(zhí)行的測(cè)試管理軟件，用于開(kāi)發(fā)、部署及執(zhí)行測(cè)試系統(tǒng)軟件（如圖2所示）。其核心在于NI TestStand是一個(gè)測(cè)試執(zhí)行程序，允許測(cè)試人員按照序列調(diào)用測(cè)試代碼，而且該代碼可以由任何編程
2019-04-15 09:40:01
工廠日均數(shù)千臺(tái)產(chǎn)能，避免拖慢生產(chǎn)。
測(cè)試成本顯著降低： 吞吐量測(cè)試需屏蔽箱/ 微波暗室及高價(jià)測(cè)試終端，RF 耦合僅需簡(jiǎn)單半屏蔽組件，支持 2.4G/5G/6G 多頻段，可集成自動(dòng)化系統(tǒng)，減少設(shè)備與人
2025-12-01 10:40:40
從自動(dòng)化測(cè)試到嵌入式設(shè)計(jì)，數(shù)據(jù)采集(DAQ)技術(shù)已經(jīng)幫助全世界的工程師與科學(xué)家們實(shí)現(xiàn)了他們各自的項(xiàng)目應(yīng)用。作為全球DAQ技術(shù)的領(lǐng)先者，NI公司最新推出了中文版的《NI數(shù)據(jù)采集技術(shù)文摘》，包括《入門(mén)篇
2009-04-22 15:48:16
工具平臺(tái)，并對(duì)測(cè)試工具平臺(tái)進(jìn)行維護(hù)和升級(jí)；5. 開(kāi)展技術(shù)創(chuàng)新，提升測(cè)試水平和測(cè)試效率，降低測(cè)試成本；6. 追蹤最新工具和技術(shù)，以改善自動(dòng)化測(cè)試質(zhì)量和效率。崗位要求：1. 本科及以上學(xué)歷，儀器測(cè)控、自動(dòng)化
2014-09-19 23:01:02
對(duì)測(cè)試工具平臺(tái)進(jìn)行維護(hù)和升級(jí)；5. 開(kāi)展技術(shù)創(chuàng)新，提升測(cè)試水平和測(cè)試效率，降低測(cè)試成本；6. 追蹤最新工具和技術(shù)，以改善自動(dòng)化測(cè)試質(zhì)量和效率。崗位要求：1. 本科及以上學(xué)歷，儀器測(cè)控、自動(dòng)化控制
2014-10-09 23:14:25
的特性。美國(guó)國(guó)家儀器公司的即成可用硬件和功能強(qiáng)大的軟件工具，LabVIEW 和NI TestStand，幫助我們?cè)诓坏絻芍軆?nèi)為客戶搭建了測(cè)試系統(tǒng)。
系統(tǒng)簡(jiǎn)介
基于PXI的測(cè)試系統(tǒng)包括一個(gè)NI
2019-07-22 07:02:13
使用NI VeriStand 在Windows操作系統(tǒng)中配置和部署自定義設(shè)備時(shí)的常見(jiàn)問(wèn)題說(shuō)明
2018-01-24 11:04:57
%）。因此，節(jié)省搭建和配置的時(shí)間也可以大大降低總的應(yīng)用成本。因?yàn)榻Y(jié)合了現(xiàn)成即用的商業(yè)科技與智能的開(kāi)發(fā)軟件，虛擬儀器再次為您減少在系統(tǒng)搭建和配置部分的成本投入。例如，NI 的許多數(shù)據(jù)采集設(shè)備都使用了
2018-03-12 09:55:11
進(jìn)行監(jiān)視、測(cè)試或仿真。本白皮書(shū)詳細(xì)介紹了如何創(chuàng)建可擴(kuò)展、分布式的同步系統(tǒng)，滿足大型硬件在環(huán)（HIL）或?qū)崟r(shí)測(cè)試系統(tǒng)的需求。NI VeriStand 2010是用于配置包括HIL測(cè)試系統(tǒng)在內(nèi)的實(shí)時(shí)測(cè)試
2019-04-08 09:42:13
在全球競(jìng)爭(zhēng)和經(jīng)濟(jì)因素環(huán)境下，當(dāng)今高技術(shù)產(chǎn)品利潤(rùn)和銷售在不斷下滑，工程設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)在向市場(chǎng)推出低成本產(chǎn)品方面承受了很大的壓力。新產(chǎn)品研發(fā)面臨兩種不同的系統(tǒng)挑戰(zhàn)：利用最新的技術(shù)和功能開(kāi)發(fā)全新的產(chǎn)品，或者采用
2019-08-09 07:41:27
的性能，MIMO測(cè)試在進(jìn)行多信道測(cè)試時(shí)的要求更復(fù)雜、規(guī)范更嚴(yán)格、測(cè)試成本更高，所需要的測(cè)試時(shí)間也更長(zhǎng)。 本文提供一些MIMO功率測(cè)量的要點(diǎn)及建議，能夠降低測(cè)試成本、縮短測(cè)試時(shí)間，以及提高測(cè)試精度
2019-06-03 06:44:36
作者： Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一，因?yàn)樽詣?dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)是一項(xiàng)重大的資本支出。那么，有沒(méi)有能夠降低每片晶圓的成本，從而提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的方法呢？有，答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12
，如 非線性均衡和信號(hào)跟 蹤等，并且降低了采 樣速率，以簡(jiǎn)化運(yùn)行測(cè)試臺(tái)的計(jì)算要求。我們將系統(tǒng)升級(jí)到NI PXI- 8106 嵌入式控 制器，該控制器包含了 2.2GHz的 Intel雙核處理 器，并與
2019-04-29 09:40:02
我們使用NI PXI和LabVIEW減小特征化系統(tǒng)的尺寸、成本和功率消耗，并縮短總特征化時(shí)間?！ ∽髡? Gary Shipley - TriQuint Semiconductor 行業(yè)
2019-07-24 06:08:50
的解決方案，以應(yīng)對(duì)當(dāng)前市場(chǎng)中的挑戰(zhàn)。使用NI TestS測(cè)試管理軟件和LabVIEW圖形化編程語(yǔ)言構(gòu)建的模塊化測(cè)試軟件架構(gòu)被證證明能夠優(yōu)化測(cè)試系統(tǒng)并降低成本，其應(yīng)用領(lǐng)域中既有最新的智能手機(jī)、 3D電視，也有極其關(guān)鍵的下一代的國(guó)防系統(tǒng)和醫(yī)療設(shè)備。來(lái)源：C114中國(guó)通信網(wǎng)
2019-04-08 09:42:12
HIL測(cè)試控制面板 用戶可以使用現(xiàn)有的方法和臺(tái)架測(cè)試模式著重驗(yàn)證所有ECU的軟件和硬件功能。使用和配置非常方便，用戶可以直接進(jìn)行系統(tǒng)重新配置而不需要請(qǐng)求客戶支持。NI PXI平臺(tái)適合與第三方的定制開(kāi)發(fā)板
2019-04-08 09:40:07
的測(cè)試工程師面臨的挑戰(zhàn)是創(chuàng)建新的測(cè)試方法和系統(tǒng)，可以提供顯著降低的測(cè)試成本，以及解決對(duì)可配置，靈活的測(cè)試解決方案的需求。 COTS（現(xiàn)成商業(yè)）硬件在半導(dǎo)體ATE解決方案中總是扮演一些角色 - 有時(shí)擴(kuò)充
2017-04-13 15:40:01
已將微波傳輸能力提高到前所未有的數(shù)千兆位/每秒（Gb/s）的容量水平，使系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員能以更具成本效益的微波方案取代昂貴的光纖建置。多核心技術(shù)不僅增加了容量，同時(shí)也延長(zhǎng)了傳輸距離，同時(shí)還降低功耗與縮小
2019-06-17 06:42:29
高峰和負(fù)載波動(dòng)，但又不要過(guò)多，以避免他們過(guò)度使用了不必要的資源。容量規(guī)劃可以幫助降低總體云計(jì)算成本。 自動(dòng)擴(kuò)展資源可以幫助組織確保不為未使用的云容量付費(fèi)。云計(jì)算提供商提供具有自動(dòng)擴(kuò)展功能的原生服務(wù)
2020-06-23 10:45:14
求助各位大神如何使用ATE對(duì)CPLD進(jìn)行測(cè)試？？？對(duì)CPLD進(jìn)行測(cè)試的思路與流程是怎樣的？
2013-02-17 16:14:53
如何使用NI LabVIEW對(duì)手機(jī)LCD組件進(jìn)行靈活可靠的自動(dòng)化測(cè)試？
2021-05-06 08:04:17
操作系統(tǒng)中配置和部署自定義設(shè)備，涉及軟件操作、文件配置、驅(qū)動(dòng)安裝等。其中Pickering 的PXI程控電阻板卡40-197-050作為自定義設(shè)備。1.軟硬件要求已安裝Windows操作系統(tǒng)的電腦
2018-01-22 14:11:36
有什么方法可以提高片上系統(tǒng)級(jí)集成嗎？有什么方法可以降低物料成本嗎？
2021-05-14 06:20:23
數(shù)十億臺(tái)5G設(shè)備將面世，如何有效降低5G測(cè)試成本？
2021-02-22 08:15:00
，封裝和測(cè)試占產(chǎn)品總成本的 50% 到 70% 之間。降低測(cè)試成本降低測(cè)試成本的一個(gè)明顯方法是采用更高的并行度并同時(shí)測(cè)試多個(gè)部分。每當(dāng) ATE 系統(tǒng)并行測(cè)試更多部件時(shí)，吞吐量就會(huì)提高。例如，如果之前
2022-03-15 11:30:40
迭代更新速度日新月異，如何更靈活并高效地獲得產(chǎn)品創(chuàng)新支持？......國(guó)家儀器 （NI）旨在幫助全球的工程師借用PXI來(lái)加快測(cè)試執(zhí)行時(shí)間、提高軟件開(kāi)發(fā)效率，提高處理能力并增強(qiáng)可擴(kuò)展性，從而極大地縮減總
2017-05-03 09:45:38
如何降低測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)關(guān)噪聲？
2021-04-14 06:06:47
多年來(lái)，大量工廠、綜合軍用和航空航天測(cè)試系統(tǒng)都要求高端的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備（ATE）。傳統(tǒng)上，一套完整的ATE 系統(tǒng)需要集成適合的軟件和硬件來(lái)搭建—這通常需要幾個(gè)月的時(shí)間來(lái)
2009-07-25 10:32:59
37 基于NI PXI平臺(tái)的汽車電子測(cè)試系統(tǒng)
本系統(tǒng)采用NI PXI 硬件平臺(tái)，使用LABVIEW，NI SWITCH EXECUITEIVE，CVI等軟件編寫(xiě)程序?qū)崿F(xiàn)了這一系統(tǒng)。使用了以下NI的硬件和軟件產(chǎn)
2010-03-26 17:23:2829 并行測(cè)試技術(shù)已成為一種比較流行的測(cè)試模式,將ATE集成技術(shù)引入并行測(cè)試對(duì)其系統(tǒng)有著很重要的優(yōu)化作用。文章中介紹了并行測(cè)試系統(tǒng)中COTS儀器和開(kāi)關(guān)選型,開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)、PTUA設(shè)計(jì)
2010-07-15 16:28:2517 NI:2009年測(cè)試與測(cè)量發(fā)展趨勢(shì)
軟件定義的儀器系統(tǒng)將是本年度最重要的儀器發(fā)展趨勢(shì)，用以提升性能和降低成本
如今全球經(jīng)濟(jì)現(xiàn)狀對(duì)于預(yù)算成本有著嚴(yán)格的限
2009-02-09 11:22:00804 NI推出最新高性能軟件和硬件組件，構(gòu)建完整的測(cè)試系統(tǒng)
美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（NI）近日宣布在NI AudioMASTER套件上推出其最新的高性能軟件和硬件組件。該模擬和數(shù)字
2010-01-13 08:32:08936 越來(lái)越小的利潤(rùn)空間正驅(qū)使元器件制造商降低生產(chǎn)成本，包括測(cè)試成本在內(nèi)。采用具有嵌入式測(cè)試排序器的儀器會(huì)起到作用。為了采取更有效的測(cè)試手段來(lái)提高利潤(rùn)空間，制造商要考慮
2012-04-26 10:22:312485 
6000 ATE系列電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)效率測(cè)到100%
2012-10-10 12:05:471243 NI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）憑借其快速自動(dòng)化測(cè)量、功能強(qiáng)大的儀器結(jié)構(gòu)和經(jīng)簡(jiǎn)化的測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)過(guò)程，可降低測(cè)試成本。還集成了高級(jí)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量功能，形成基于PXI的測(cè)試系統(tǒng)
2012-12-04 13:47:131748 2013 年 9月 —— 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments， 簡(jiǎn)稱NI）- NIWeek - 近日發(fā)布了數(shù)款基于NI LabVIEW可重配置I/O（RIO）架構(gòu)的新產(chǎn)品，為用戶提供靈活性，幫助他們應(yīng)對(duì)現(xiàn)代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的挑戰(zhàn)并降低總測(cè)試成本。
2013-09-11 09:54:001093 本文首先介紹了芯片行業(yè)常用的測(cè)試方法和ATE（ Automatic Test Equipment)測(cè)試的一般原理。根據(jù)ADP2381穩(wěn)壓芯片的系統(tǒng)構(gòu)架和特點(diǎn)給出了該芯片的主要測(cè)試指標(biāo)。結(jié)合ATE測(cè)試
2016-01-04 15:10:4929 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)幫助他們應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，NI（美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）今日發(fā)布了《2017 NI自動(dòng)化測(cè)試趨勢(shì)
2017-02-13 13:58:431132 新聞發(fā)布– 2017年5月11日–NI（美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI） 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，今日宣布推出升級(jí)版無(wú)線測(cè)試系統(tǒng)（WTS），這是NI針對(duì)多站點(diǎn)無(wú)線設(shè)備自動(dòng)化測(cè)試推出的一個(gè)解決方案。
2017-05-12 14:39:031773 1.以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)架構(gòu)，
2.降低設(shè)備成本以及系統(tǒng)尺寸，
3.快速的測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)，
4.以更高的靈活性更快地執(zhí)行測(cè)試，
5.提高系統(tǒng)壽命和成功機(jī)會(huì)。
2017-08-30 08:25:388 自成立26年多以來(lái)，NI一直都致力于通過(guò)虛擬儀器技術(shù)不斷降低您測(cè)量應(yīng)用開(kāi)發(fā)的總成本。為了降低測(cè)量應(yīng)用開(kāi)發(fā)的各個(gè)階段的成本，虛擬儀器將開(kāi)發(fā)軟件和最新的硬件技術(shù)相結(jié)合，在PC的高性能和靈活性之間找到了最佳的平衡點(diǎn)。
2017-09-05 15:38:081 基于ATE的DSP測(cè)試方法
2017-10-20 08:31:5529 問(wèn)題。首先是測(cè)量應(yīng)用開(kāi)發(fā)過(guò)程中涉及的五種成本（請(qǐng)看下面表 1 中的成本欄）。您將會(huì)了解到虛擬儀器技術(shù)是如何幫助您降低每一種費(fèi)用，從而降低了總體測(cè)量成本的。 測(cè)量應(yīng)用的成本 考慮一下在您最近的測(cè)量系統(tǒng)上所花費(fèi)的時(shí)間。您可能在配置硬件和開(kāi)發(fā)應(yīng)用程序代碼上已花
2017-11-15 14:48:0013 VeriStand是一個(gè)基于配置的實(shí)時(shí)測(cè)試軟件，它擁有與labVIEW類似的前面板，但無(wú)需任何編程工作。用戶可以使用labVIEW、matlab等其他軟件生成的模型文件導(dǎo)入VeriStand，方便快捷的實(shí)現(xiàn)硬件在環(huán)等實(shí)時(shí)測(cè)試應(yīng)用。 在VeriStand系統(tǒng)瀏覽器中，可以對(duì)NI的硬件設(shè)備實(shí)現(xiàn)參數(shù)配置。
2017-11-18 06:36:485454 
了NIPXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。 該產(chǎn)品將射頻集成電路、電源管理IC、微機(jī)電（MEMS）系統(tǒng)設(shè)備以及混合信號(hào)IC的制造商從傳統(tǒng)半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)的封閉式架構(gòu)中解放出來(lái)。 傳統(tǒng)ATE的測(cè)試覆蓋率通常無(wú)法滿足最新半導(dǎo)體設(shè)備的要求。通過(guò)將半導(dǎo)體行業(yè)成熟的數(shù)字測(cè)試
2018-01-20 03:32:11579 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，N(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)今日宣布為半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS)增加了全新
2018-07-11 10:13:001430 管理的應(yīng)用軟件SystemLink。SystemLink為軟件部署、遠(yuǎn)程設(shè)備配置和系統(tǒng)健康性能監(jiān)控等自動(dòng)化任務(wù)提供了一個(gè)集中界面，有助于提高運(yùn)營(yíng)效率并降低維護(hù)成本。 工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)、5G和車輛電氣化等趨勢(shì)，加上需要維護(hù)分布式傳統(tǒng)系統(tǒng)等當(dāng)前需求。
2018-05-26 01:39:005998 本文首先介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展線路，其次闡述了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的作用及原理、特點(diǎn)、優(yōu)勢(shì)，最后介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的功能、功能平臺(tái)及使用領(lǐng)域。
2018-05-23 16:47:4033194 NI CompactRIO是一款高級(jí)嵌入式控制和采集系統(tǒng)，基于NI可重新配置I/O（RIO）技術(shù)。控制和采集系統(tǒng)廠商廣泛使用現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列 （FPGA）設(shè)備，因?yàn)槠渚哂行阅軆?yōu)良、可重新配置、規(guī)格小巧和工程開(kāi)發(fā)成本低等特點(diǎn)。
2018-07-30 10:44:002824 馬自達(dá)使用軟件定義的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，推進(jìn)汽車的電氣化，并且降低了90%的測(cè)試成本
2018-10-11 19:37:314753 也許你聽(tīng)過(guò)斯巴魯借助NI軟硬件平臺(tái)，將總測(cè)試時(shí)間減少了94%的成功案例。在汽車智能化、電氣化與網(wǎng)聯(lián)化發(fā)展的浪潮下，系統(tǒng)復(fù)雜性日益增長(zhǎng)導(dǎo)致測(cè)試難度加大，NI幫助很多廠商降低了測(cè)試成本。
2019-01-30 16:04:584268 也許你聽(tīng)過(guò)斯巴魯借助NI軟硬件平臺(tái)，將總測(cè)試時(shí)間減少了94%的成功案例。在汽車智能化、電氣化與網(wǎng)聯(lián)化發(fā)展的浪潮下，系統(tǒng)復(fù)雜性日益增長(zhǎng)導(dǎo)致測(cè)試難度加大，NI幫助很多廠商降低了測(cè)試成本。今天小編就為大家揭秘NI汽車測(cè)試解決方案的核心競(jìng)爭(zhēng)力。
2019-02-18 15:57:244643 NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)是一家軟件定義平臺(tái)供應(yīng)商，致力于幫助用戶加快自動(dòng)化測(cè)試和自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)速度并提高其性能。該公司今天宣布推出全新4 GHz車載雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)(VRTS)。
2019-11-21 11:46:453658 ATE-8602開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于AC/DC或DC/DC之電源供應(yīng)器、適配器、電池充電器等開(kāi)關(guān)電源的特性測(cè)試，量身訂作并優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試效能佳，符合大量生產(chǎn)測(cè)試要求。 2
2020-04-14 17:16:291001 1、ATE-8600電源PCBA連板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于電源供應(yīng)器、適配器、電池充電器等開(kāi)關(guān)電源的PCBA連板的特性測(cè)試，量身訂作并優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試效能佳，符合大量生產(chǎn)測(cè)試要求。 2
2020-05-15 10:25:031608 ATE核心配置提供了構(gòu)建更智能的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)所需的儀器，機(jī)械，安全和電源基礎(chǔ)架構(gòu)
2020-07-27 16:13:031319 Express RIO 中頻收發(fā)器。RIO技術(shù)不僅用于控制應(yīng)用，強(qiáng)大的FPGA功能大大提高了測(cè)試吞吐量，使新的測(cè)試成為可能，從而增強(qiáng)了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。同時(shí)，現(xiàn)成可用的商業(yè)硬件平臺(tái)以及LabVIEW為FPGA編程帶來(lái)的簡(jiǎn)化，也大大降低了系統(tǒng)開(kāi)發(fā)難度和成本。
2020-08-18 09:35:394391 
AN-0972：AD7329如何幫助降低成本
2021-04-25 09:17:044 基于ATE的集成電路測(cè)試原理和方法綜述
2021-06-17 09:34:44128 基于NI USB 6251的128路應(yīng)變測(cè)試系統(tǒng)
2021-10-08 15:09:1416 源儀電子ATE測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)適配器/手機(jī)充電器等小功率低價(jià)值電源產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試而設(shè)計(jì)的經(jīng)濟(jì)型自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，主要由電子負(fù)載，功率表和一臺(tái)變頻電源組成，實(shí)現(xiàn)過(guò)流、短路、功率等多機(jī)并行測(cè)試，平均單機(jī)測(cè)試時(shí)間3~5秒，最大滿足產(chǎn)能需求。
2022-05-13 16:51:224615 不同ATE電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用的場(chǎng)合是不同，用戶在選擇的時(shí)候根據(jù)自己的工作需求進(jìn)行選擇。 ATE電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)采用靈活的硬件框架結(jié)構(gòu)，可以根據(jù)客戶的產(chǎn)品測(cè)試要求增加硬件配置，還有一些檢測(cè)功能，客戶可以根據(jù)工作需求進(jìn)行選擇，這樣方便客戶設(shè)備的成本控制
2022-06-27 15:55:362125 
當(dāng)您設(shè)計(jì)和生產(chǎn)產(chǎn)品時(shí)，PCB很容易成為整個(gè)產(chǎn)品中成本最高的組件之一，因此降低PCB成本可能是被證明有利于降低整體生產(chǎn)成本的主要因素之一。主要是通過(guò)減小PCB尺寸、選擇合適的組件和引入合適的設(shè)計(jì)技術(shù)來(lái)
2022-07-06 16:56:014627 
1、 系統(tǒng)優(yōu)勢(shì) ◆系統(tǒng)可集成用戶原有測(cè)試儀器，測(cè)試成本更低，系統(tǒng)兼容多廠家品牌儀器型號(hào)； ◆根據(jù)用戶的需求和測(cè)試環(huán)境定制化開(kāi)發(fā)，系統(tǒng)具有很強(qiáng)的兼容性和可擴(kuò)展性； ◆智能匹配儀器型號(hào)，操作方便簡(jiǎn)單
2022-08-04 10:21:463861 測(cè)試是任何衛(wèi)星計(jì)劃的重要組成部分。提高總程序成本的一種方法是降低測(cè)試成本。取消測(cè)試似乎很誘人，但設(shè)備故障的風(fēng)險(xiǎn)會(huì)顯著增加。保持儀器和系統(tǒng)的準(zhǔn)確性可降低測(cè)試成本，并以多種方式縮短程序進(jìn)度。例如，衛(wèi)星
2022-11-16 15:31:071355 
單插入測(cè)試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試，從而降低測(cè)試成本，簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)（SoC）的測(cè)試流程。
2022-11-30 09:39:211510 光伏并網(wǎng)逆變器（以下簡(jiǎn)稱“逆變器”）是光伏發(fā)電系統(tǒng)的核心部件之一，其主要功能是將光伏陣列的直流逆變?yōu)榉想娋W(wǎng)接入要求的交流電并入電網(wǎng)。并網(wǎng)逆變器ATE測(cè)試平臺(tái)，主要是模擬光伏陣列特性輸入的直流電源
2023-01-13 10:09:092552 
單插入測(cè)試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試，從而降低測(cè)試成本，簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測(cè)試流程。
2023-06-14 15:04:511133 
虹科電源測(cè)試系統(tǒng)ATE升級(jí)實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試密度和更低的測(cè)試成本01高密度精度測(cè)量單元HK-HDPMU在單板上提供多達(dá)192個(gè)額外的獨(dú)立參數(shù)測(cè)量單元(PMU)通道。虹科解決方案將增加并行測(cè)試，而無(wú)需創(chuàng)建
2023-09-04 16:22:231123 
電源ATE測(cè)試在短路保護(hù)測(cè)試中不僅可以提高測(cè)試效率，而且還提供智能數(shù)據(jù)分析，幫助短路測(cè)試實(shí)現(xiàn)高精準(zhǔn)度，也為企業(yè)降低了測(cè)試成本。
2023-09-11 18:21:191410 
ate測(cè)試系統(tǒng)是什么？為什么要選擇ate電源測(cè)試系統(tǒng)？ ATE測(cè)試系統(tǒng)是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（Automatic Test Equipment）的縮寫(xiě)。它是一種用于對(duì)電子、電氣和機(jī)械產(chǎn)品進(jìn)行功能和性能測(cè)試
2023-11-07 10:01:413471 ate測(cè)試系統(tǒng)一般由哪些電源測(cè)試設(shè)備組成？ ATE（Automated Test Equipment）測(cè)試系統(tǒng)一般由以下幾種電源測(cè)試設(shè)備組成： 1. 直流電源（DC Power Supply
2023-11-07 10:01:431978 作為一名測(cè)試工程師，你的工作并不容易。降低成本和提高系統(tǒng)吞吐量的壓力一直存在。本文中，我們將討論影響系統(tǒng)吞吐量的關(guān)鍵因素以及如何降低ATE測(cè)試成本。
2023-11-08 14:59:511312 
在ATE測(cè)試中，需要注意哪些事項(xiàng)呢？ ATE（Automated Test Equipment，自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備）測(cè)試在現(xiàn)代電子制造業(yè)中扮演著重要的角色。它能夠快速、高效地對(duì)電子器件、模塊或系統(tǒng)進(jìn)行
2023-11-09 15:30:411745 什么是開(kāi)關(guān)電源效率？開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)ate如何測(cè)試？ 開(kāi)關(guān)電源效率是指開(kāi)關(guān)電源將輸入電能轉(zhuǎn)換為輸出電能的能力，通常以百分比的形式表示。效率越高，說(shuō)明開(kāi)關(guān)電源的能量轉(zhuǎn)換效率越高，能夠更有
2023-11-10 15:29:152636 ATE測(cè)試需要根據(jù)測(cè)試目標(biāo)和項(xiàng)目設(shè)計(jì)測(cè)試程序，并且準(zhǔn)備測(cè)試用到的測(cè)試儀器，比如示波器、萬(wàn)用表、頻譜分析儀等，連接測(cè)試儀器和待測(cè)品，通過(guò)ate測(cè)試設(shè)備控制并進(jìn)行測(cè)試，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析，生成數(shù)據(jù)報(bào)告。
2023-11-24 14:51:281997 
納米軟件ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包含軟件ATE測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試中需要的硬件設(shè)備，軟硬件會(huì)集成在一個(gè)機(jī)柜中，方便測(cè)試。ATE測(cè)試系統(tǒng)采取B/S架構(gòu)，無(wú)代碼開(kāi)發(fā)，對(duì)操作人員沒(méi)有高技術(shù)要求，可快速上手測(cè)試。自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試過(guò)程中實(shí)時(shí)自動(dòng)采集記錄數(shù)據(jù)，并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析，快速定位問(wèn)題。
2023-12-28 15:55:301935 隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展，芯片作為現(xiàn)代電子設(shè)備的核心組件，其性能和質(zhì)量對(duì)于整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性具有至關(guān)重要的影響。因此，在芯片生產(chǎn)過(guò)程中，出廠測(cè)試和ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）測(cè)試成為了確保芯片質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文將詳細(xì)介紹芯片的出廠測(cè)試和ATE測(cè)試是如何進(jìn)行的。
2024-04-19 10:31:454339 
電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、研發(fā)和制造過(guò)程中，ATE的作用不可或缺，通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試，ATE能夠快速、準(zhǔn)確地將實(shí)際測(cè)試結(jié)果與設(shè)計(jì)規(guī)格進(jìn)行比較，幫助企業(yè)提高產(chǎn)品的性能和質(zhì)量，同時(shí)降低測(cè)試成本。 ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的原理 ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，是一種綜合軟
2024-07-09 16:47:393674 
在使用NSAT-8000電源ATE測(cè)試系統(tǒng)后，鑒于不同型號(hào)的VPX電源生產(chǎn)工藝、參數(shù)有所不同，工程師可根據(jù)電源型號(hào)搭建相應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目和方案，一套系統(tǒng)便完成了該公司多型號(hào)的電源模塊測(cè)試，減少了測(cè)試成本。
2024-09-18 18:20:02961 
在現(xiàn)代光伏發(fā)電系統(tǒng)中，逆變器作為核心組件，承擔(dān)著將太陽(yáng)能電池板產(chǎn)生的直流電轉(zhuǎn)換為交流電的重要任務(wù)。因此，確保逆變器的性能和質(zhì)量顯得尤為重要。逆變器ATE（Automatic Test
2025-01-16 16:29:541088 01項(xiàng)目概述為海軍ATE測(cè)試設(shè)備開(kāi)發(fā)海量互連V25通用測(cè)試接口，提升測(cè)試系統(tǒng)的通用性、可移植性和維護(hù)效率。核心思想：從“面向儀器”轉(zhuǎn)向“面向信號(hào)”，通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化信號(hào)鏈路實(shí)現(xiàn)硬件與軟件解耦。02傳統(tǒng)測(cè)試
2025-03-21 16:37:58659 
電源模塊作為電子設(shè)備的關(guān)鍵部件，其性能直接影響整體系統(tǒng)的穩(wěn)定性。源儀電子作為該行業(yè)20年經(jīng)驗(yàn)的ATE測(cè)試系統(tǒng)解決方案提供商，可完成電源模塊從研發(fā)驗(yàn)證到量產(chǎn)測(cè)試的全流程檢測(cè)，測(cè)試項(xiàng)目覆蓋100%行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求。以下是電源模塊ATE測(cè)試項(xiàng)目的主要內(nèi)容。
2025-04-01 18:21:091416 系統(tǒng)如何搭建？先從它的構(gòu)成開(kāi)始了解 ATE測(cè)試系統(tǒng)主要由軟件和硬件兩部份組成。硬件主要是指測(cè)試中用到的測(cè)試夾具（探針卡、轉(zhuǎn)接板等）、測(cè)試接口（CMV海量互連接口）、測(cè)試設(shè)備(如示波器、萬(wàn)用表、程控電源)等，軟件主要包括測(cè)試程序集、驅(qū)動(dòng)程序、算法、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等
2025-04-01 16:57:48951 
在光伏逆變器研發(fā)中，測(cè)試環(huán)節(jié)直接決定產(chǎn)品可靠性和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。然而，許多團(tuán)隊(duì)在ATE（自動(dòng)化測(cè)試）系統(tǒng)選型時(shí)踩過(guò)坑——有的系統(tǒng)號(hào)稱“全自動(dòng)”，實(shí)際仍需人工干預(yù)；有的數(shù)據(jù)孤立，無(wú)法與MES對(duì)接；更有的連
2025-07-07 11:22:421458 在電子制造領(lǐng)域，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）系統(tǒng)扮演著至關(guān)重要的角色，尤其是在電源產(chǎn)品的測(cè)試中，它的作用不可或缺。ATE系統(tǒng)通過(guò)精確的測(cè)試和分析，確保電源產(chǎn)品的能效和性能達(dá)到行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。本文將深入解析ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的重要技術(shù)，揭示其如何成為電源產(chǎn)品的“能效判官”。
2025-10-25 16:27:241311 
在當(dāng)今電子設(shè)備無(wú)處不在的時(shí)代，電源的質(zhì)量和可靠性直接影響著終端產(chǎn)品的性能與壽命。而確保電源質(zhì)量的關(guān)鍵工具——ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，已成為電源設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中不可或缺的一環(huán)。本文將和大家介紹一下源儀電子的ATE測(cè)試系統(tǒng)能夠兼容的電源測(cè)試類型，幫助您了解這一高效、精確的測(cè)試解決方案。
2025-10-29 14:42:23548 
，且研發(fā)與生產(chǎn)兩地測(cè)試數(shù)據(jù)不互通，數(shù)據(jù)分析統(tǒng)計(jì)耗時(shí)耗力。通過(guò)部署 ATE測(cè)試系統(tǒng)，企業(yè)實(shí)現(xiàn)了測(cè)試方案的靈活適配與跨地?cái)?shù)據(jù)統(tǒng)一管理，徹底解決手動(dòng)測(cè)試瓶頸與數(shù)據(jù)割裂問(wèn)題，顯著提升測(cè)試效率與管理水平。 二、客戶背景與核心挑戰(zhàn) 客
2025-12-19 19:22:052815 
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