電子元器件在使用過(guò)程中，常常會(huì)出現(xiàn)失效和故障，從而影響設(shè)備的正常工作。文本分析了常見(jiàn)元器件的失效原因和常見(jiàn)故障。

　　電子設(shè)備中絕大部分故障最終都是由于電子元器件故障引起的。如果熟悉了元器件的故障類(lèi)型，有時(shí)通過(guò)直覺(jué)就可迅速的找出故障元件，有時(shí)只要通過(guò)簡(jiǎn)單的電阻、電壓測(cè)量即可找出故障。

　　1 電阻器類(lèi)

　　電阻器類(lèi)元件包括電阻元件和可變電阻元件，固定電阻通常稱(chēng)為電阻，可變電阻通常稱(chēng)為電位器。電阻器類(lèi)元件在電子設(shè)備中使用的數(shù)量很大，并且是一種消耗功率的元件，由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高，據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15% 。電阻器的失效模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)、使用條件等有密切關(guān)系。電阻器失效可分為兩大類(lèi)，即致命失效和參數(shù)漂移失效?，F(xiàn)場(chǎng)使用統(tǒng)計(jì)表明，電阻器失效的85%~90% 屬于致命失效，如斷路、機(jī)械損傷、接觸損壞、短路、絕緣、擊穿等，只有1 0 % 左右的是由阻值漂移導(dǎo)致失效。

　　電阻器電位器失效機(jī)理視類(lèi)型不同而不同。非線(xiàn)形電阻器和電位器主要失效模式為開(kāi)路、阻值漂移、引線(xiàn)機(jī)械損傷和接觸損壞；線(xiàn)繞電阻器和電位器主要失效模式為開(kāi)路、引線(xiàn)機(jī)械損傷和接觸損壞。主要有以下四類(lèi)：

　?。? ）碳膜電阻器。引線(xiàn)斷裂、基體缺陷、膜層均勻性差、膜層刻槽缺陷、膜材料與引線(xiàn)端接觸不良、膜與基體污染等。

　?。?2 ）金屬膜電阻器。電阻膜不均勻、電阻膜破裂、引線(xiàn)不牢、電阻膜分解、銀遷移、電阻膜氧化物還原、靜電荷作用、引線(xiàn)斷裂、電暈放電等。

　?。? ）線(xiàn)繞電阻器。接觸不良、電流腐蝕、引線(xiàn)不牢、線(xiàn)材絕緣不好、焊點(diǎn)熔解等。

　　（4 ）可變電阻器。接觸不良、焊接不良、接觸簧片破裂或引線(xiàn)脫落、雜質(zhì)污染、環(huán)氧膠不好、軸傾斜等。

　　電阻容易產(chǎn)生變質(zhì)和開(kāi)路故障。電阻變質(zhì)后往往是阻值變大的漂移。電阻一般不進(jìn)行修理，而直接更換新電阻。線(xiàn)繞電阻當(dāng)電阻絲燒斷時(shí)，某些情況下可將燒斷處理重新焊接后使用。

　　電阻變質(zhì)多是由于散熱不良，過(guò)分潮濕或制造時(shí)產(chǎn)生缺陷等原因造成的，而燒壞則是因電路不正常，如短路、過(guò)載等原因所引起。電阻燒壞常見(jiàn)有兩種現(xiàn)象，一種是電流過(guò)大使電阻發(fā)熱引起電阻燒壞，此時(shí)電阻表面可見(jiàn)焦糊狀，很易發(fā)現(xiàn)。另一種情況是由于瞬間高壓加到電阻上引起電阻開(kāi)路或阻值變大，這種情況，電阻表面一般沒(méi)有明顯改變，在高壓電路經(jīng)常可發(fā)現(xiàn)這種故障現(xiàn)象的電阻。

　　可變電阻器或電位器主要有線(xiàn)繞和非線(xiàn)繞兩種。它們共同的失效模式有：參數(shù)漂移、開(kāi)路、短路、接觸不良、動(dòng)噪聲大，機(jī)械損傷等。但是實(shí)際數(shù)據(jù)表明：實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)與現(xiàn)場(chǎng)使用之間主要的失效模式差異較大，實(shí)驗(yàn)室故障以參數(shù)漂移居多，而現(xiàn)場(chǎng)以接觸不良、開(kāi)路居多。

　　電位器接觸不良的故障，在現(xiàn)場(chǎng)使用中普遍存在。如在電信設(shè)備中達(dá)9 0 % ，在電視機(jī)中約占8 7 %，故接觸不良對(duì)電位器是致命的薄弱環(huán)節(jié)。造成接觸不良的主要原因如下：

　?。?1 ）接觸壓力太小、簧片應(yīng)力松弛、滑動(dòng)接點(diǎn)偏離軌道或?qū)щ妼?、機(jī)械裝配不當(dāng)，又或很大的機(jī)械負(fù)荷（如碰撞、跌落等）導(dǎo)致接觸簧片變形等。

　　（2 ）導(dǎo)電層或接觸軌道因氧化、污染，而在接觸處形成各種不導(dǎo)電的膜層。

　　（3 ）導(dǎo)電層或電阻合金線(xiàn)磨損或燒毀，致使滑動(dòng)點(diǎn)接觸不良。

　　電位器開(kāi)路失效主要是由局部過(guò)熱或機(jī)械損傷造成的。例如，電位器的導(dǎo)電層或電阻合金線(xiàn)氧化、腐蝕、污染或者由于工藝不當(dāng)（如繞線(xiàn)不均勻，導(dǎo)電膜層厚薄不均勻等）所引起的過(guò)負(fù)荷，產(chǎn)生局部過(guò)熱，使電位器燒壞而開(kāi)路；滑動(dòng)觸點(diǎn)表面不光滑，接觸壓力又過(guò)大，將使繞線(xiàn)嚴(yán)重磨損而斷開(kāi)，導(dǎo)致開(kāi)路；電位器選擇與使用不當(dāng)，或電子設(shè)備的故障危及電位器，使其處于過(guò)負(fù)荷或在較大的負(fù)荷下工作。這些都將加速電位器的損傷。

　　2 電容器類(lèi)

　　電容器常見(jiàn)的故障現(xiàn)象主要有擊穿、開(kāi)路、電參數(shù)退化、電解液泄漏及機(jī)械損壞等。導(dǎo)致這些故障的主要原因如下：

　?。? ）擊穿。介質(zhì)中存在疵點(diǎn)、缺陷、雜質(zhì)或?qū)щ婋x子；介質(zhì)材料的老化；電介質(zhì)的電化學(xué)擊穿；在高濕度或低氣壓環(huán)境下極間邊緣飛??；在機(jī)械應(yīng)力作用下電介質(zhì)瞬時(shí)短路；金屬離子遷移形成導(dǎo)電溝道或邊緣飛弧放電；介質(zhì)材料內(nèi)部氣隙擊穿造成介質(zhì)電擊穿；介質(zhì)在制造過(guò)程中機(jī)械損傷；介質(zhì)材料分子結(jié)構(gòu)的改變以及外加電壓高于額定值等。

　?。? ）開(kāi)路。擊穿引起電極和引線(xiàn)絕緣；電解電容器陽(yáng)極引出箔被腐蝕斷（或機(jī)械折斷）；引出線(xiàn)與電極接觸點(diǎn)氧化層而造成低電平開(kāi)路；引出線(xiàn)與電極接觸不良或絕緣；電解電容器陽(yáng)極引出金屬箔因腐蝕而導(dǎo)致開(kāi)路；工作電解質(zhì)的干涸或凍結(jié)；在機(jī)械應(yīng)力作用下電解質(zhì)和電介質(zhì)之間的瞬時(shí)開(kāi)路等。

　?。? ）電參數(shù)退化。潮濕與電介質(zhì)老化與熱分解；電極材料的金屬離子遷移；殘余應(yīng)力存在和變化；表面污染；材料的金屬化電極的自愈效應(yīng)；工作電解質(zhì)的揮發(fā)和變稠；電極的電解腐蝕或化學(xué)腐蝕；引線(xiàn)和電極接觸電阻增加；雜質(zhì)和有害離子的影響。

　　由于實(shí)際電容器是在工作應(yīng)力和環(huán)境應(yīng)力的綜合作用下工作的，因而會(huì)產(chǎn)生一種或幾種失效模式和失效機(jī)理，還會(huì)有一種失效模式導(dǎo)致另外失效模式或失效機(jī)理的發(fā)生。例如，溫度應(yīng)力既可以促使表面氧化、加快老化的影響程度、加速電參數(shù)退化，又會(huì)促使電場(chǎng)強(qiáng)度下降，加速介質(zhì)擊穿的早日到來(lái)，而且這些應(yīng)力的影響程度還是時(shí)間的函數(shù)。因此，電容器的失效機(jī)理與產(chǎn)品的類(lèi)型、材料的種類(lèi)、結(jié)構(gòu)的差異、制造工藝及環(huán)境條件、工作應(yīng)力等諸因素等有密切關(guān)系。

　　電容器出現(xiàn)擊穿故障非常容易發(fā)現(xiàn)，但對(duì)于有多個(gè)元件并聯(lián)的情況，要確定具體的故障元件卻較為困難。電容器開(kāi)路故障的確定可通過(guò)將相同型號(hào)和容量的電容與被檢測(cè)電容并聯(lián)，觀(guān)察電路功能是否恢復(fù)來(lái)實(shí)現(xiàn)。電容電參數(shù)變化的檢查較為麻煩，一般可按照下面方法進(jìn)行。

　　首先應(yīng)將電容器的其中一條引線(xiàn)從電路板上燙下來(lái)，以避免周?chē)挠绊?。其次根?jù)電容器的不同情況用不同的方法進(jìn)行檢查。

　　（1 ）電解電容器的檢查。將萬(wàn)用表置于電阻擋，量程視被測(cè)電解電容的容量及耐壓大小而定。測(cè)量容量小、耐壓高的電解電容，量程應(yīng)位于R ×10kW 擋；測(cè)量容量大、耐壓低的電解電容，量程應(yīng)位于R × 1 k W 擋。觀(guān)察充電電流的大小、放電時(shí)間長(zhǎng)短（表針退回的速度）及表針最后指示的阻值。

　　電解電容器質(zhì)量好壞的鑒別方法如下：

　?、俪潆婋娏鞔螅磲樕仙俣瓤?，放電時(shí)間長(zhǎng)，表針的退回速度慢，說(shuō)明容量足。

　?、诔潆婋娏餍?，表針上升速度慢，放電時(shí)間短，表針的退回速度快，說(shuō)明容量小、質(zhì)量差。

　　③充電電流為零，表針不動(dòng)，說(shuō)明電解電容器已經(jīng)失效。

　　④放電到最后，表針退回到終了時(shí)指示的阻值大，說(shuō)明絕緣性能好，漏電小。

　　⑤放電到最后，表針退回到終了時(shí)指示的阻值小，說(shuō)明絕緣性能差，漏電嚴(yán)重。

　?。? ）容量為1 mF 以上的一般電容器檢查?？捎萌f(wàn)用表電阻擋（R × 1 0 k W）同極性多次測(cè)量法來(lái)檢查漏電程度及是否擊穿。將萬(wàn)用表的兩根表筆與被測(cè)電容的兩根引線(xiàn)碰一下，觀(guān)察表針是否有輕微的擺動(dòng)。對(duì)容量大的電容，表針擺動(dòng)明顯；對(duì)容量小的電容，表針擺動(dòng)不明顯。緊接著用表筆再次、三次、四次碰電容器的引線(xiàn)（表筆不對(duì)調(diào)），每碰一次都要觀(guān)察針是否有輕微的擺動(dòng)。如從第二次起每碰一次表針都擺動(dòng)一下，則說(shuō)明此電容器有漏電。如接連幾次碰時(shí)表針均不動(dòng)，則說(shuō)明電容器是好的。如果第一次相碰時(shí)表針就擺到終點(diǎn)，則說(shuō)明電容器已經(jīng)被擊穿。另外，對(duì)于容量為1mF~20mF的電容器，有的數(shù)字萬(wàn)用表可以測(cè)量。

　?。? ）容量為1 mF 以下的電容器檢查。可以使用數(shù)字萬(wàn)用表的電容測(cè)量擋較為準(zhǔn)確地測(cè)得電容器的實(shí)際數(shù)值。若沒(méi)有帶電容測(cè)量功能的數(shù)字萬(wàn)用表，只能用歐姆擋檢查它是否擊穿短路。用好的相同容量的電容器與被懷疑的電容器并聯(lián)，檢查它是否開(kāi)路。

　?。? ）電容器參數(shù)的精確測(cè)量。單個(gè)電容器容量的精確測(cè)量可使用LCR 電橋，耐壓值的測(cè)量可采用晶體管特性測(cè)試儀。