失效分析在產(chǎn)品的可靠性質(zhì)量保證和提高中發(fā)揮著重要作用，在產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)、使用中都需要引入失效分析工作。金鑒實(shí)驗(yàn)室提供電子元器件失效分析的檢測服務(wù)，金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有專業(yè)LED質(zhì)量工程師團(tuán)隊(duì)及高精度電子元器件檢測設(shè)備，具有精湛的技術(shù)與經(jīng)驗(yàn)。經(jīng)過長時間的嚴(yán)格執(zhí)行，現(xiàn)已得到行業(yè)內(nèi)各廠家一致認(rèn)可。

　　電子元器件檢測的意義：

　　元器件廠：獲得改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和工藝的依據(jù)

　　整機(jī)廠：獲得索賠、改變元器件供貨商、改進(jìn)電路設(shè)計(jì)、改進(jìn)電路板制造工藝、提高測試技術(shù)、設(shè)計(jì)保護(hù)電路的依據(jù)。

　　整機(jī)用戶：獲得改進(jìn)操作環(huán)境和操作規(guī)程的依據(jù),提高產(chǎn)品成品率和可靠性，樹立企業(yè)形象，提高產(chǎn)品競爭力。

　　失效分析技術(shù)的延伸應(yīng)用

　　進(jìn)貨分析的作用：選擇優(yōu)質(zhì)的供貨渠道，防止假冒偽劣元器件進(jìn)入整機(jī)生產(chǎn)線

　　良品分析的作用：學(xué)習(xí)先進(jìn)技術(shù)的捷徑

　　金鑒實(shí)驗(yàn)室針對電阻、電容、二極管、三極管、LED、連接器、IC等器件開路、短路、燒毀、漏電、功能失效、電參數(shù)不合格、非穩(wěn)定失效等各種失效問題，利用物理和化學(xué)的分析手段，從宏觀和微觀分析出失效原因，并為客戶提出改善方向。

　　電子元器件的常規(guī)檢測內(nèi)容：

　　開封 ? 取晶粒 ?芯片層次去除 ?去金凸塊 ?染色 ?高解析度顯微拍照

　　掃描電鏡檢查 ? 高/低階制成定點(diǎn)橫截面切割 ? 探針應(yīng)用 ? I-V曲線量測

　　背面研磨 ?X射線透視檢查 ? 超聲波掃描檢查（C-SAM）

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