目前市面上出現(xiàn)較多的方式是多點觸控手勢識別。手指同時觸摸屏幕多點時，能夠識別每個手指移動的方向，能夠進行旋轉、縮放、平移等操作，但還不能夠判斷出每個手指的具體位置。但兩點觸摸甚至多點觸摸時，X、Y 軸上會產生多個最大值，此時系統(tǒng)無法判斷觸摸點的準確位置。通常把并不是真正觸摸的點叫做“鬼點”。

多點觸控位置識別才是真正意義上的多點觸控技術，可以識別到觸摸點的具體位置，沒有“鬼點”的現(xiàn)象。這種觸控技術基于互電容檢測方式，通過行列交叉處耦合電容Cm 的變化判斷觸摸點。手指觸摸時行列之間的互電容減小，可以判斷觸摸點存在，并且準確判斷每一個觸摸點位置。

實現(xiàn)兩點觸摸，每個工作單元必須彼此獨立，并且觸摸點只能在同一個工作單元中。圖1 給出了電阻式觸摸屏實現(xiàn)多點觸摸的方法：在X1 電極上加上電壓，由Y1，Y2，Y3 電極讀取A、B、C 觸摸單元所檢測到的X 坐標；在以后的各個始終周期依次讀取X2，X3 的坐標。獲得所有觸摸單元的X 坐標后，再依次給Y 電極加上電壓，以獲得各個觸摸單元的Y 坐標，從而實現(xiàn)兩點觸摸。

當觸摸屏表面有觸摸點時，上層的ITO 導電層向下凹陷，發(fā)生形變，并接觸到下層的ITO，接觸點的兩層ITO 導電層之間存在一個電阻，當觸摸的壓力越大時，之間的電阻阻值就越小。通過計算相應阻值，可以得到觸摸位置，但是想要正確識別出兩點觸摸的位置，就必須先剔除非觸摸點。所謂非觸摸點，就是指沒有意愿的接觸點。這些觸摸點是隨機的，而且是非有效觸摸。比如，觸摸力度較輕時，觸摸屏ITO 導電層的電阻處在接通與未接通的臨界點，類似這樣的觸摸點就是非觸摸點。這在沒有意志支配的情況下產生的接觸點，對整個檢測沒有意義的，所以必須將它們剔除。

考慮到非觸摸點的隨機性，兩次測量的方法可將其剔除。若第一次測量的結果是有效值，但第二次測量的結果超出了整個觸摸屏的阻值所規(guī)定的范圍，是一個很大的值，則視其為無效值，該點即為非接觸點，必將其剔除。反之，如果第二次測量的結果在整個觸摸屏的阻值所規(guī)定的范圍內，則視其為有效值，是有效的觸摸點。

觸摸屏幕的壓力大小不同，ITO 導電層的電阻值也不同，也就是說輕觸或重觸觸摸屏，產生的電阻是不同的。控制芯片可以測試出接觸電阻的阻值大小，但是沒法分辨出是輕觸，還是重觸，這只會影響判斷觸摸點的準確性，從而會影響整個觸摸屏的可靠性。下圖是圖2是輕觸的示意圖。

在現(xiàn)階段的方案中， 接觸電阻和壓力成為影響觸點坐標準確性的重要因素。如果接觸電阻不大于方阻，不會影響坐標顯示的準確性；如果大于方阻，就會出現(xiàn)跳躍點。比如，輕觸觸摸屏上的某一點，會造成電路接通不完全，對整個電路來說，它表現(xiàn)為測量電阻大，測得的值比實際值要大，那么它的坐標將會向后跳躍。與其相反的，如果是用力的重觸觸摸屏上的某一點時，坐標會前移。由此可見輕觸或重觸對接觸電阻的測量值影響很大，接觸電阻和壓力成反比。

查閱過一些四線電阻式觸摸屏的技術手冊后發(fā)現(xiàn)：他們通常使用接觸電阻小于2kΩ 這個測試條件，來測試最小壓力這個參數(shù)。在正常力度的壓力下， 一般接觸電阻為2kΩ；如果壓力更小， 接觸電阻則會大于2kΩ。由此可見，實際測量結果與所施加的壓力存在動態(tài)變化，如果加在同一點上的力量是變化的，那么測量出的坐標點就是不確定的，所以這種測量方法仍然必須改進。

在此，分解一次完整的觸摸過程：(1) 手指接觸到觸摸屏表面，(2)手指對觸摸屏逐步增加壓力，(3) 壓力保持，(4) 抬起手指，(5) 手指的壓力逐步減小，(6) 手指離開觸摸屏，整個觸摸過程完成。分解過程之后可以發(fā)現(xiàn)，在這個過程中，手指對屏幕的壓力并不是一個恒定不變的量。所以，細分整個過程，把不同時期得到的壓力和接觸電阻全部采樣，然后求取平均值，那么這個值將更加接近實際數(shù)據(jù)，這就是用求平均值的最根本原因。用求平均值的方法可以模擬整個觸摸過程，從而排除掉前期接觸、后期接觸或者中間接觸時壓力不穩(wěn)等情況。