明尼蘇達(dá)州MAPLE GROVE，， 10月。 20,2015 /PRNewswire/- 盡管現(xiàn)代數(shù)字測量儀器是非常可靠的工具，但操作錯(cuò)誤可能會導(dǎo)致質(zhì)量保證過程中出現(xiàn)空白。新的ZEISS O-SELECT光學(xué)測量系統(tǒng)彌補(bǔ)了質(zhì)量保證過程中的這些空白。由于其高度自動(dòng)化和易用性，可以快速，可重復(fù)地完成2D測量。蔡司O-SELECT將于北美在芝加哥的質(zhì)量展上正式推出，開始于 2015年10月27日。

“快速可靠地獲得符合ISO標(biāo)準(zhǔn)，可追溯和可重復(fù)的測量值是我們產(chǎn)品開發(fā)的一個(gè)關(guān)鍵方面，” Andrzej Grzesiak 說，蔡司計(jì)量系統(tǒng)負(fù)責(zé)人。結(jié)果是光學(xué)測量系統(tǒng)在測量程序的生成和測量本身期間自動(dòng)化。只需按一下按鈕即可開始測量：操作員將工件放入測量區(qū)域并啟動(dòng)程序。在幾秒鐘內(nèi)，相機(jī)捕捉輪廓，分析所有特征并在ZEISS PiWeb質(zhì)量數(shù)據(jù)管理軟件中記錄它們。

該測量系統(tǒng)是蔡司的解決方案，適用于從汽車，電子到塑料等眾多行業(yè)。 ZEISS O-SELECT特別適用于檢查距離，半徑或角度的尺寸精度。例如沖壓成型零件，注塑成型和激光切割工件。

避免錯(cuò)誤，確保質(zhì)量

焦點(diǎn)和照明等因素在光學(xué)測量中發(fā)揮關(guān)鍵作用。操作員只需選擇錯(cuò)誤的設(shè)置就可能導(dǎo)致系統(tǒng)測量錯(cuò)誤，而無需通知他們。例如，不精確配置的后果可導(dǎo)致幾微米的偏差，例如焦深。即使操作員看不到它，ZEISS O-SELECT也能自動(dòng)消除邊緣的模糊。蔡司測量系統(tǒng)自動(dòng)選擇攝像機(jī)與物體的正確距離，聚焦工件邊緣并最大化對比度。此外，測量機(jī)計(jì)算可以在工件之間變化的照明強(qiáng)度。 “實(shí)現(xiàn)和自動(dòng)化光學(xué)與光照之間復(fù)雜的相互作用，使測量可追溯，可重復(fù)，因此可靠，”Grzesiak說。用戶也不再需要浪費(fèi)時(shí)間在目錄中搜索正確的程序。 ZEISS O-SELECT將現(xiàn)有程序與當(dāng)前工件進(jìn)行比較，然后可靠地打開正確的程序。測量系統(tǒng)自動(dòng)檢測零件的位置，不再需要手動(dòng)對齊。

快速編程，直觀操作

ZEISS O-SELECT自行設(shè)定除了其他系統(tǒng)之外，不僅通過其獨(dú)立識別功能的能力，還通過其對距離和半徑等特征的智能建議。只需點(diǎn)擊幾下，用戶就可以選擇所需的功能，然后將這些功能集成到測量程序中。程序是在一個(gè)不言自明的過程中創(chuàng)建的。蔡司稱這個(gè)新功能Click＆amp;挑。此外，直觀的用戶界面可幫助操作員瀏覽軟件。它清楚地顯示了他們已達(dá)到的目標(biāo)并引導(dǎo)他們完成整個(gè)運(yùn)行：從創(chuàng)建新項(xiàng)目到測量計(jì)劃并指定測量運(yùn)行，用戶在整個(gè)過程中被引導(dǎo)到結(jié)構(gòu)良好且信息豐富的報(bào)告。