QFN是一種無(wú)引腳封裝，呈正方形或矩形，封裝底部中央位置有一個(gè)大面積裸露焊盤(pán)用來(lái)導(dǎo)熱，圍繞大焊盤(pán)的封裝外圍四周有實(shí)現(xiàn)電氣連結(jié)的導(dǎo)電焊盤(pán)。由于QFN封裝不像傳統(tǒng)的SOIC與TSOP封裝那樣具有鷗翼狀引線，內(nèi)部引腳與焊盤(pán)之間的導(dǎo)電路徑短，自感系數(shù)以及封裝體內(nèi)布線電阻很低，所以它能提供卓越的電性能。此外，它還通過(guò)外露的引線框架焊盤(pán)提供了出色的散熱性能，該焊盤(pán)具有直接散熱通道，用于釋放封裝內(nèi)的熱量。通常將散熱焊盤(pán)直接焊接在電路板上，并且PCB中的散熱過(guò)孔有助于將多余的功耗擴(kuò)散到銅接地板中，從而吸收多余的熱量。 這種暴露的裸片由銅制成，通常具有錫涂層，在大多數(shù)情況下與芯片的接地引腳連接。

在PCB布局設(shè)計(jì)階段，設(shè)計(jì)人員應(yīng)考慮在QFN焊盤(pán)圖案的中心添加相同尺寸的裸露銅盤(pán)。 這為散熱提供了一個(gè)熱導(dǎo)管，使組件工作更加穩(wěn)定。

由于QFN的焊點(diǎn)是在封裝體的下方，并且厚度較薄，X－ray對(duì)QFN焊點(diǎn)少錫和開(kāi)路無(wú)法檢測(cè)，只能依靠外部的焊點(diǎn)情況盡可能地加以判斷，但目前有關(guān)QFN焊點(diǎn)側(cè)面部分缺陷的斷定標(biāo)準(zhǔn)尚未在IPC標(biāo)準(zhǔn)中出現(xiàn)。在暫時(shí)沒(méi)有更多方法的情況下，將會(huì)更多倚賴(lài)生產(chǎn)后段的測(cè)試工位來(lái)判斷焊接的好壞。

在某些情況下，當(dāng)組件消耗大量電力以獲得熱量時(shí)，PCB上的暴露銅也可以被去除，特別是在高密度應(yīng)用中。 但要密切關(guān)注：如果集成電路下方有通孔，則必須通過(guò)焊接掩模進(jìn)行支撐，因?yàn)樵诨亓髌陂g，當(dāng)溫度達(dá)到217°C（無(wú)鉛SAC305焊膏）時(shí)，IC管芯上的精加工錫會(huì)熔化觸摸暴露的通孔更有可能導(dǎo)致意外的短路。 尤其是，如果PCB沒(méi)有任何焊盤(pán)氧化，那么很容易導(dǎo)致短路。

此外，設(shè)計(jì)人員還需要避免將其他元件（如貼片電阻和電容）放置在靠近IC角落的位置（見(jiàn)圖片，4角處有8個(gè)點(diǎn)），因?yàn)槁闫蚣鼙┞对贗C邊緣，大部分是2點(diǎn)“在一個(gè)角落。 其他芯片終端如果彼此靠得太近，那么在這些暴露點(diǎn)處有makinv接觸的機(jī)會(huì)很大。 如果它們太靠近，它們也會(huì)導(dǎo)致另一種類(lèi)型的短路缺陷。

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