三星最近開發(fā)了一種可以檢測NAND芯片故障的技術(shù)，該技術(shù)可以提升SSD的壽命和可靠性，并且宣布將在即將發(fā)布的PCIe 4.0 SSD產(chǎn)品中使用，三星計劃先在數(shù)據(jù)中心中使用，隨后會考慮過渡到消費級產(chǎn)品當(dāng)中。

該技術(shù)叫做FIP（Fail in place）故障定位技術(shù)，可以檢測到SSD上的故障NAND芯片，通過這個操作避免SSD報廢。該技術(shù)可以在某塊NAND壞掉的時候把這塊NAND廢除掉，而不用直接扔掉整塊盤，雖然盤的整體容量小了，但總比整塊盤全廢了要好。

FIP會掃描存儲設(shè)備的故障區(qū)域，然后把壞的部分存儲的數(shù)據(jù)片放到別正常的地方，這一過程是自動完成的，這是一種內(nèi)嵌到SSD里的數(shù)據(jù)恢復(fù)方案。

FIP作為芯片級的數(shù)據(jù)恢復(fù)方案，外媒將其稱之為不死SSD。

通常來說，磁盤損壞的概率大概大概是成百上千個就有一個，壞了之后只能扔，需要花錢買新的不說，還會引起宕機(jī)。

它的實用性如何呢？

這一技術(shù)方案在普通幾百GB的SSD上價值不是特別大，但是如果在有512塊NAND的30TB超大個兒SSD上，這技術(shù)就非常有價值了，一旦NAND芯片壞掉了，F(xiàn)IP會自動在芯片級啟動糾錯的算法。

這樣的糾錯算法會不會帶來性能損耗呢？

三星表示，不存在的，性能會很穩(wěn)定。

Samsung PM1733 SSD

截至目前，F(xiàn)IP技術(shù)只出現(xiàn)在三星數(shù)據(jù)中心里的兩款PCIe 4.0 SSD：PM1733和PM1735。其中，PM1735的順序性能是SATA SSD的14倍。