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LabVIEW視覺缺陷檢測和分析

lPCU_elecfans ? 來源:LabVIEW視覺俱樂部 ? 作者:LabVIEW視覺俱樂部 ? 2020-09-04 17:33 ? 次閱讀
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今天來給大家繼續(xù)講LabVIEW視覺缺陷檢測,主要以產(chǎn)品引腳焊點(diǎn)案例的圖像采集、算法分析。首先進(jìn)行產(chǎn)品的缺陷觀察,通過采到的圖像中我們可以看到,圖像上的引腳焊點(diǎn)存在錯位不良,如下圖:

根據(jù)圖片,我們需要利用視覺助手算法將引腳偏移部分篩選出來,實(shí)現(xiàn)檢測要求。

算法模擬

第一步:確認(rèn)產(chǎn)品采圖是否存在偏移,根據(jù)偏移情況,找到共同特征點(diǎn)進(jìn)行定位坐標(biāo)系的建立。

利用模板匹配進(jìn)行定位坐標(biāo)系建立

第二步:利用圖像掩膜將所需檢測區(qū)域與原圖分離:

圖像掩膜

ROI可通過按住Shift鍵鼠標(biāo)框選的方式進(jìn)行多個ROI區(qū)域設(shè)置,這里我們將引腳偏移出來的部分進(jìn)行框選。效果圖如下:

第三步:將掩膜區(qū)域二值化使用引腳與檢測區(qū)域的灰度差設(shè)置二值參數(shù),并利用顆粒濾波將干擾部分去除,添加顆粒分析算法檢測二值目標(biāo),實(shí)現(xiàn)檢測效果如圖:

最后可通過圖像運(yùn)算將圖像進(jìn)行加減得到如下圖的顯示效果,偏移引腳呈現(xiàn)黑色部分。

原文標(biāo)題:LabVIEW視覺檢測案例——引腳焊點(diǎn)缺陷檢測與算法分析

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原文標(biāo)題:LabVIEW視覺檢測案例——引腳焊點(diǎn)缺陷檢測與算法分析

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