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了解nandflash當(dāng)前發(fā)展?fàn)顩r

GReq_mcu168 ? 來源:玩轉(zhuǎn)單片機(jī) ? 作者:玩轉(zhuǎn)單片機(jī) ? 2020-12-09 16:50 ? 次閱讀
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很久沒接觸過 nandflash 驅(qū)動(dòng)了,最近工作又摸了一下,那就順便整理點(diǎn)筆記總結(jié)一下吧。nandflash 在我看來算是比較落后的存儲(chǔ)設(shè)備了,所以文章里沒有太多細(xì)節(jié)的東西,更多的是一些開發(fā)思路和經(jīng)驗(yàn),希望能幫助到有需要的人。

一、了解 nandflash 當(dāng)前發(fā)展?fàn)顩r

什么是 nandflash?

nandflash 由許多保存位( bit )的單元( cell )組成,這些位通過電荷開啟或關(guān)閉。這些開/關(guān)單元的組織方式表示存儲(chǔ)在nandflash 上的數(shù)據(jù)。這些單元中的位數(shù)也決定了 nandflash 的命名,例如 Single Level Cell ( SLC ) nandflash 在每個(gè)單元中都包含一個(gè)位。MLC nandflash將每個(gè)單元的位數(shù)增加了一倍,而 TLC nandflash 則增加了三倍,這為更高容量的 nandflash 開辟了道路。

SLC 的優(yōu)點(diǎn)是速度最快,最耐用,但缺點(diǎn)是價(jià)格昂貴,并且無法提供更高的存儲(chǔ)容量。SLC 是企業(yè)使用的首選。與 SLC 相比,MLC 和 TLC 閃存的生產(chǎn)成本更低,存儲(chǔ)容量更高,但要權(quán)衡相對(duì)較短的使用壽命和較慢的讀/寫速度。MLC 和 TLC 是日常消費(fèi)計(jì)算機(jī)等個(gè)人用品的首選。

SLC MLC TLC nandflash 對(duì)照表:

d149dc9e-2e2b-11eb-a64d-12bb97331649.png

為什么在嵌入式設(shè)備上 emmc 取代了 nandflash?

由于NAND Flash芯片的不同廠牌包括三星、KingMax、東芝(Toshiba)或海力士(Hynix)、美光(Micron)等,都需要根據(jù)每家公司的產(chǎn)品和技術(shù)特性來重新設(shè)計(jì),過去并沒有哪個(gè)技術(shù)能夠通用所有廠牌的NAND Flash芯片。而每次NAND Flash制程技術(shù)改朝換代,包括70納米演進(jìn)至50納米,再演進(jìn)至40納米或30納米制程技術(shù),手機(jī)客戶也都要重新設(shè)計(jì)(重新設(shè)計(jì)什么?因?yàn)槟阋ㄓ?,就需要通訊的電壓,時(shí)序,甚至接口命令,這些都隨著不同廠商,不同制程技術(shù)而不同,你作為手機(jī)制造商或者soc廠商,想要把每種新的 nandflash 集成到你的產(chǎn)品中,就要根據(jù)這些新的特性來花時(shí)間設(shè)計(jì)。soc這邊會(huì)有一個(gè)nandflash controller,你要根據(jù)采用的nandflash特性來配置nand flash controller,以達(dá)到成功通訊的目的)。

半導(dǎo)體產(chǎn)品每1年制程技術(shù)都會(huì)推陳出新,存儲(chǔ)器問題也拖累手機(jī)新機(jī)種推出的速度,因此像eMMC這種把所有存儲(chǔ)器和管理nandflash的控制芯片都包在1顆MCP上的概念,逐漸風(fēng)行起來。即:

NAND Flash 是一種存儲(chǔ)介質(zhì),要在上面讀寫數(shù)據(jù),外部要加主控和電路設(shè)計(jì);

eMMC是NAND Flash+主控IC ,對(duì)外的接口協(xié)議與SD、TF卡類似;

emmc 內(nèi)部根本的存儲(chǔ)介質(zhì)還是 nandflash,而不是一種全新的 storage。但是他定義并規(guī)范了統(tǒng)一接口比如:emmc 4.3, 4.4, 4.5(類似于usb 2.0, 3.0 這樣的), 把和 nand flash 的通訊封裝在emmc內(nèi)部,而提供給外部的接口就是 emmc 接口。同理, 外部,比如soc就需要有個(gè) sdmmc controller, 并且宣布支持 emmc 4.3/4.4...,那么,你需要做的就是,根據(jù)選用的emmc的版本號(hào),來給 sdmmc controller 來選擇一個(gè)通訊的接口版本號(hào)4.4。

二、如何驅(qū)動(dòng)一款NAND Flash?

參考:
韋東山嵌入式Linux視頻第一期-nandflash》

(一) 基礎(chǔ)硬件知識(shí)

nandflash 是一個(gè)存儲(chǔ)芯片,那么它應(yīng)該能提供“讀地址A的數(shù)據(jù),把數(shù)據(jù)B寫到地址A"的功能。

以Mini2440為例簡(jiǎn)單說明一下:

d16fc7f6-2e2b-11eb-a64d-12bb97331649.png

問1:原理圖上 NAND FLASH 和 S3C2440 之間只有數(shù)據(jù)線,如何傳輸?shù)刂纺兀?br /> 答1.在DATA0~DATA7上既傳輸數(shù)據(jù),又傳輸?shù)刂?,?dāng)ALE為高電平時(shí)傳輸?shù)氖堑刂贰?/p>

問2:從NAND FLASH芯片手冊(cè)可知,要讀寫NAND FLASH需要先發(fā)出命令,如何傳入命令?
在DATA0~DATA7上既傳輸數(shù)據(jù),又傳輸?shù)刂罚矀鬏斆睿?br /> 當(dāng)ALE為高電平時(shí)傳輸?shù)氖堑刂罚?br /> 當(dāng)CLE為高電平時(shí)傳輸?shù)氖敲睿?br /> 當(dāng)ALE和CLE都為低電平時(shí)傳輸?shù)氖菙?shù)據(jù);

d1913fb2-2e2b-11eb-a64d-12bb97331649.png

問3:數(shù)據(jù)線LDATAn既接到NAND FLASH,也接到NOR FLASH,還接到SDRAM、DM9000等等,cpu如何準(zhǔn)確的將某個(gè)地址發(fā)到正確的芯片上而不干擾其他芯片呢?
這些芯片,要訪問之必須"選中"(即片選信號(hào)為低),沒有選中的芯片不會(huì)工作,相當(dāng)于沒接一樣。

問4:假設(shè)燒寫NAND FLASH,把命令、地址、數(shù)據(jù)發(fā)給它之后,NAND FLASH肯定不可能瞬間完成燒寫的,怎么判斷燒寫完成?
通過狀態(tài)引腳RnB來判斷:它為高電平表示就緒,它為低電平表示正忙。

問5:怎么操作NAND FLASH呢?
答5. 根據(jù)NAND FLASH的芯片手冊(cè),一般的過程是:
(1) 發(fā)出命令
(2) 發(fā)出地址
(3) 寫數(shù)據(jù)/讀數(shù)據(jù)
(4) 等待

(二) CPU nandflash 控制器章節(jié)導(dǎo)讀

以三星 s5pv210 芯片為例,摘選一下我認(rèn)為比較重要的點(diǎn):

d1ef2b72-2e2b-11eb-a64d-12bb97331649.jpg

SLC nandflash一般是1bit ecc,對(duì)應(yīng)的編解碼的過程需閱讀上述內(nèi)容。

d22215b4-2e2b-11eb-a64d-12bb97331649.jpg

MLC nandflash 一般是8/12/16 bit ecc,對(duì)應(yīng)的編解碼的過程需閱讀上述內(nèi)容。

(三) nandflash 芯片手冊(cè)導(dǎo)讀

以鎂光 nandflash 芯片為例,摘選一下我認(rèn)為比較重要的點(diǎn):

d27400e0-2e2b-11eb-a64d-12bb97331649.jpg

特性列表,一般位于芯片手冊(cè)首頁,可以幫助我們快速了解芯片特性,基本可以認(rèn)為是最重要的信息。

d2bca03e-2e2b-11eb-a64d-12bb97331649.png

不同芯片廠商的nandflash芯片引腳定義基本是一致的,但是可能會(huì)有1~2引腳是有差異,需要核對(duì)。

d2fe2694-2e2b-11eb-a64d-12bb97331649.png

上圖可用于確定nandflash的存儲(chǔ)布局;

d368ba86-2e2b-11eb-a64d-12bb97331649.jpg

上圖可用于核對(duì)芯片的型號(hào)和詳細(xì)的硬件特性;

(四) nandflash 調(diào)試思路:

1. 通讀 CPU 芯片手冊(cè) nandflash 控制器章節(jié):
- 了解該 CPU nandflash 控制器支持哪些特性,一般包括nandflash的bit數(shù),以確定是否支持當(dāng)前選用的nandflash芯片;- 明確該芯片的 nandflash 控制器 ecc 校驗(yàn)功能的工作流程;

2. 通讀 nandflash 芯片手冊(cè):
- 了解 nandflash 芯片的基本信息,例如ID、容量、類型(SLC/MLC)- 結(jié)合板子的原理圖一起查看,以確定 CPU 和 nandflash 芯片的引腳連接是否正確。不同廠商(例如三星、鎂光)生產(chǎn)的nandflash引腳不一定完全兼容,可能會(huì)有一兩根引腳有差異;

3. 在 U-boot 或者 Linux 下實(shí)現(xiàn)讀取 nandflash 芯片的ID值的功能:nand_read_id()
- U-boot 和 Linux哪個(gè)順手用哪個(gè),U-boot的優(yōu)點(diǎn)是啟動(dòng)快,做測(cè)試方便點(diǎn),而 Linux的優(yōu)點(diǎn)是支持網(wǎng)絡(luò)/文件系統(tǒng),功能強(qiáng)大;- 能讀到 ID 只能說明 CPU 和 nandflash 芯片硬件連接上有了些許保障 (例如發(fā)命令、讀數(shù)據(jù)),但是某些隱蔽的錯(cuò)誤硬件連接仍然會(huì)導(dǎo)致寫數(shù)據(jù)異常;

4. 在 U-boot 或者 Linux 下實(shí)現(xiàn)讀取擦除 一塊數(shù)據(jù)的功能:nand_erase_block()
- 相比起讀寫數(shù)據(jù),擦除 nandflash 數(shù)據(jù)塊較為容易。而且只有成功擦除了,才能進(jìn)一步驗(yàn)證讀寫nandflash的功能。nandflash 數(shù)據(jù)塊被擦除后所有數(shù)據(jù)均為 0xFF,利用這個(gè)特性可以驗(yàn)證稍后需要實(shí)現(xiàn)的讀一頁的操作是否正常;

5. 在 U-boot 或者 Linux 下實(shí)現(xiàn)裸讀一頁數(shù)據(jù)( 不考慮ecc校驗(yàn) )的功能:nand_read_page_raw()
- nandflash 的1頁包括 main 區(qū)域和oob區(qū)域, main 區(qū)域用于保存用戶數(shù)據(jù),spare 區(qū)域用于保存 ecc校驗(yàn)碼;- 一般說寫一頁數(shù)據(jù)時(shí),需要結(jié)合上下文才能判斷是寫 main 區(qū)域還是寫 main + spare 區(qū)域;- nandflash 一般需要ecc 校驗(yàn)功能來保證數(shù)據(jù)的安全,但是在前期調(diào)試階段,我們可以不考慮ecc 校驗(yàn)直接實(shí)現(xiàn)裸讀一頁數(shù)據(jù)的功能。事實(shí)上,我們也無法考慮ecc 校驗(yàn)的功能,因?yàn)榈浆F(xiàn)在為止還不能寫數(shù)據(jù)到 nandflash的main區(qū)域,更別說寫 ecc 校驗(yàn)碼到oob區(qū)域;- 我們需要先實(shí)現(xiàn)讀數(shù)據(jù)的功能,確保讀數(shù)據(jù)功能的可靠后,待會(huì)才能用其來驗(yàn)證寫數(shù)據(jù)的操作;

6. 在 U-boot 或者 Linux 下實(shí)現(xiàn)裸寫一頁數(shù)據(jù)( 不考慮ecc校驗(yàn) )的功能;nand_write_page_raw()- 裸寫一頁和裸讀一頁的操作可以相互協(xié)同驗(yàn)證;- uboot 的 cmp 命令可以對(duì)比兩塊內(nèi)存的數(shù)據(jù)是否相同,該命令可以用于驗(yàn)證寫操作是否成功;

7. 在 U-boot 或者 Linux 下實(shí)現(xiàn)寫一頁數(shù)據(jù)到 main區(qū)域,并將 nandflash 控制器生成的 ecc 校驗(yàn)碼填寫到oob區(qū)域:nand_write_page()
- 寫一頁數(shù)據(jù)到 main 區(qū)域時(shí),nandflash 控制器會(huì)生成 ecc 校驗(yàn)碼,這些校驗(yàn)碼就是用來保護(hù)這一頁數(shù)據(jù)的;

8. 在 U-boot 或者 Linux 下實(shí)現(xiàn)讀一頁數(shù)據(jù)的功能,包括讀 main 區(qū)域的數(shù)據(jù)和 spare 區(qū)域的 ecc 校驗(yàn)碼:nand_read_page()
- 從nandflash spare 區(qū)域讀到的 ecc 校驗(yàn)碼應(yīng)該發(fā)送給 nandflash 控制器,nandflash 控制器會(huì)幫我們計(jì)算好是否有bit 錯(cuò)誤,并且將結(jié)果和糾錯(cuò)需要用到的信息保存在寄存器中,軟件通過寄存器里的信息推導(dǎo)出正確的數(shù)據(jù);

9. 由于bit 錯(cuò)誤的問題不容易出現(xiàn),所以在調(diào)試階段需要人為制造出與 spare 區(qū)域 不匹配的 main 數(shù)據(jù),以檢驗(yàn)ecc 校驗(yàn)功能是否正常,即數(shù)據(jù)是否能被糾正,大體的思路是:
- 通過 nand_write_page() 寫一頁正確的數(shù)據(jù)到 main 區(qū)域 和 spare 區(qū)域;- 篡改在內(nèi)存中的數(shù)據(jù),然后通過 nand_write_page_raw() 將篡改后的數(shù)據(jù)填寫到 main 區(qū)域,spare 區(qū)域保持不變;- 通過nand_read_page 讀 一頁數(shù)據(jù),如果能執(zhí)行糾錯(cuò)相關(guān)的代碼,并且能獲取到被篡改之前的數(shù)據(jù),則說明校驗(yàn)功能是可以工作的;

10. 如果 main 區(qū)域的 ecc 校驗(yàn)碼字節(jié)數(shù)比較多,并且 spare 區(qū)域足夠大的話,可以對(duì)存放在 spare 區(qū)域里的 main ecc校驗(yàn)碼進(jìn)行二次 ecc,這時(shí)生成的 ecc 校驗(yàn)碼我將其稱為 spare ecc,它一般會(huì)存放在spare區(qū)域的末尾,并不是必須的;

(五) Linux Nand Flash驅(qū)動(dòng)

參考:
《韋東山嵌入式Linux視頻第二期-nandflash》

Linux MTD stack

d3924810-2e2b-11eb-a64d-12bb97331649.png

對(duì)于nandflash 驅(qū)動(dòng),需要重點(diǎn)關(guān)注的地方:

Flash memory abstraction layer/MTD layerdrivers/mtd/mtd*.c Flash type abstration layer/NAND coredrivers/mtd/nand/nand_*.c Flash controller driversdrivers/mtd/nand/*_nand.c

NAND legacy stack( Linux-4.16 之前)

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/dev/mtd0是nandflash設(shè)備的字符設(shè)備驅(qū)動(dòng)節(jié)點(diǎn),上圖展示了 read("/dev/mtd0") 的底層實(shí)現(xiàn)(MTD layer->NAND core->Controller driver)。

NAND legacy stack 的弊端

無法執(zhí)行細(xì)粒度的NAND Flash 命令,粒度的大小被限制在NAND core層面了;

芯片廠商更新的NAND Flash特性時(shí)需修改所有的Controller driver;

NAND new stack( Linux-4.16 之后)

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將NAND 的控制邏輯下放到Controller driver層,NAND Core統(tǒng)一調(diào)用Controller driver提供的鉤子函數(shù):exec_op();

(六) 測(cè)試穩(wěn)定性和性能

MTD tests support

mtd_nandecctest.ko:nand flash的ECC校驗(yàn)測(cè)試

mtd_pagetest.ko:nand flash的page讀寫測(cè)試

mtd_speedtest.ko:MTD分區(qū)的讀寫速度測(cè)試

mtd_subpagetest.ko:nand flash的sub-page接口測(cè)試

mtd_oobtest.ko:nand falsh的OOB區(qū)域讀寫測(cè)試

mtd_readtest.ko:讀取整個(gè)MTD分區(qū)

mtd_stresstest.ko:隨機(jī)讀寫,擦除操作測(cè)試

mtd_torturetest.ko:該功能可用于做穩(wěn)定性或者壽命測(cè)試,隨機(jī)操作直到發(fā)生錯(cuò)誤

示例如下:

insmod mtd_stresstest.ko dev=9 count=1000 [ 3289.273771] ================================================= [ 3289.279826] mtd_stresstest: MTD device: 9 [ 3289.284079] mtd_stresstest: MTD device size 268435456, eraseblock size 131072, page size 2048, count of eraseblocks 2048, pages per eraseblock 64, OOB size 64 [ 3289.303250] mtd_stresstest: scanning for bad eraseblocks [ 3289.420267] mtd_stresstest: scanned 2048 eraseblocks, 0 are bad [ 3289.426534] mtd_stresstest: doing operations [ 3289.431031] mtd_stresstest: 0 operations done [ 3339.606972] mtd_stresstest: finished, 1000 operations done [ 3339.612992] =================================================

一個(gè)反復(fù)讀寫并校驗(yàn)數(shù)據(jù)正確性的小腳本:

#!/bin/sh rm -rf /media/local/ count=1 while [ ${count} -lt 600 ]; do TSTAMP="`date` | ---> ${count}" echo "$TSTAMP" mkdir -p /media time cp /usr/local /media/ -raf diff /usr/local /media/local -r || exit -1 rm -rf /media/local; sync let count=${count}+1 done

三、NAND Flash 文件系統(tǒng)的選擇:YAFFS2

參考:
《基于nand flash的文件系統(tǒng)的整理》
《Cramfs、JFFS2、YAFFS2的全面對(duì)比》

針對(duì) nandflash 特點(diǎn)優(yōu)化其性能以及克服其缺點(diǎn)

nanflash 不是通常意義上的塊設(shè)備,塊設(shè)備的特點(diǎn)是可以對(duì)數(shù)據(jù)塊進(jìn)行讀、寫操作(如磁盤,文件系統(tǒng)等),但是對(duì)于nanflash 來說有三種操作分別是:讀、寫、擦除。只有對(duì)已擦除的塊才能進(jìn)行寫操作。所以為了使其兼容傳統(tǒng)的硬件和系統(tǒng),需要對(duì)其進(jìn)行特殊處理;

當(dāng)一個(gè)閃存處在干凈狀態(tài)時(shí)(被擦除過,但是還沒有寫操作發(fā)生),這塊flash上的每一位(bit)都是邏輯1;

閃存的使用壽命是有限的,具體來說,閃存的使用壽命是由擦除塊的最大可擦除次數(shù)來決定的。超過了最大可擦除次數(shù),這個(gè)擦除塊就成為壞塊(bad block)了。因此要避免某個(gè)擦除塊被過度使用,以至于先于其他擦除塊變成壞塊,應(yīng)該在盡量少影響性能的前提下,使擦寫操作均勻分布在每個(gè)擦除塊上,叫做損耗均衡(wear leveling)。

YAFFS意為「Yet Another Flash File System」,是目前唯一一個(gè)專門為NAND Flash設(shè)計(jì)的文件系統(tǒng)。它采用了類日志結(jié)構(gòu),結(jié)合NAND Flash的特點(diǎn),提供了損耗平衡和掉電保護(hù)機(jī)制,可以有效地避免意外掉電對(duì)文件系統(tǒng)一致性和完整性的影響。

nanflash 和 YAFFS2之間是如何配合的?
通過分析mkyaffs2iamge.c可知:

yaffs2 映像文件是由一個(gè)個(gè)的main(4096) + spare(224)數(shù)據(jù)組成;

main里存放的是文件(包括目錄、普通文件、特殊文件等)數(shù)據(jù);

spare里前面的nand_oobinfo->oobfree(2+22=24)個(gè)字節(jié)歸yaffs2自由使用,然后接下來的nand_oobinfo->eccbytes(104)個(gè)字節(jié)都填0xFF,即yaffs2 images本身是不含有ecc校驗(yàn)碼的;(以上數(shù)值跟實(shí)際nandflash芯片相關(guān))

你和我各有一個(gè)蘋果,如果我們交換蘋果的話,我們還是只有一個(gè)蘋果。但當(dāng)你和我各有一個(gè)想法,我們交換想法的話,我們就都有兩個(gè)想法了。如果你也對(duì)嵌入式系統(tǒng)開發(fā)有興趣,并且想和更多人互相交流學(xué)習(xí)的話,請(qǐng)關(guān)注我的公眾號(hào):ESexpert,一起來學(xué)習(xí)吧,歡迎各種收藏/轉(zhuǎn)發(fā)/批評(píng),小小的轉(zhuǎn)發(fā)一下對(duì)我來說是極大的恩惠,十分感謝!


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原文標(biāo)題:關(guān)于NAND Flash調(diào)試的一點(diǎn)總結(jié)

文章出處:【微信號(hào):mcu168,微信公眾號(hào):硬件攻城獅】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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    瑞之辰:存儲(chǔ)芯片價(jià)格飆升,國產(chǎn)半導(dǎo)體行業(yè)的連鎖反應(yīng)

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    的頭像 發(fā)表于 11-26 11:34 ?1644次閱讀
    瑞之辰:存儲(chǔ)芯片價(jià)格飆升,國產(chǎn)半導(dǎo)體行業(yè)的連鎖反應(yīng)

    請(qǐng)問如何用C語言列舉當(dāng)前所有網(wǎng)口?

    如何用C語言列舉當(dāng)前所有網(wǎng)口?
    發(fā)表于 11-25 07:23

    新思科技攜手iCatch推動(dòng)汽車AI視覺向前發(fā)展

    全球車企競(jìng)相研發(fā)更智能、更安全的汽車,對(duì)能夠?qū)崟r(shí)感知世界的人工智能(AI)技術(shù)的需求達(dá)到空前水平。對(duì)于芯片開發(fā)者而言,其中蘊(yùn)藏著巨大的機(jī)遇:未來8年,全球?qū)囈?guī)級(jí)AI芯片的需求預(yù)計(jì)將擴(kuò)大6倍,從2025年的100億美元市場(chǎng)增長到2033年的約600億美元規(guī)模。
    的頭像 發(fā)表于 10-21 10:35 ?1932次閱讀

    解碼綠電直連:破局實(shí)際應(yīng)用中的三大核心挑戰(zhàn)

    綠電直連面臨著來自技術(shù)適配、市場(chǎng)環(huán)境、機(jī)制運(yùn)行、政策法規(guī)等多維度的嚴(yán)峻挑戰(zhàn),制約著其應(yīng)用價(jià)值的充分釋放。深入剖析這些挑戰(zhàn),既是破解當(dāng)前發(fā)展瓶頸的關(guān)鍵,也是推動(dòng)綠電直連高質(zhì)量發(fā)展的前提。
    的頭像 發(fā)表于 09-27 15:46 ?519次閱讀
    解碼綠電直連:破局實(shí)際應(yīng)用中的三大核心挑戰(zhàn)

    無人機(jī)智能巡檢系統(tǒng)助力智慧城市建設(shè)與低空經(jīng)濟(jì)發(fā)展

    ? ? ? ?無人機(jī)智能巡檢系統(tǒng)助力智慧城市建設(shè)與低空經(jīng)濟(jì)發(fā)展 ? ? ? ?當(dāng)前,科技創(chuàng)新持續(xù)推動(dòng)城市治理模式變革,低空經(jīng)濟(jì)作為新興領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大發(fā)展潛力。在這雙重背景下,無人機(jī)智能巡檢系統(tǒng)正逐漸
    的頭像 發(fā)表于 09-19 11:52 ?426次閱讀

    如何在 buildroot 的 rootfs 中顯示當(dāng)前目錄?

    如何在 buildroot 的 rootfs 中顯示當(dāng)前目錄?
    發(fā)表于 09-03 07:02

    請(qǐng)問如何知道當(dāng)前的CPU和外設(shè)頻率?

    如何知道當(dāng)前的CPU和外設(shè)頻率?
    發(fā)表于 08-21 06:42

    從市場(chǎng)應(yīng)用狀況,看薄膜電容的發(fā)展潛力與前景

    近年來,隨著新能源、電動(dòng)汽車、工業(yè)自動(dòng)化等領(lǐng)域的快速發(fā)展,薄膜電容器作為電子元器件中的重要一員,正迎來前所未有的市場(chǎng)機(jī)遇。從當(dāng)前的市場(chǎng)應(yīng)用狀況來看,薄膜電容器不僅在傳統(tǒng)領(lǐng)域保持穩(wěn)定增長,在新興領(lǐng)域
    的頭像 發(fā)表于 08-11 17:13 ?878次閱讀

    國產(chǎn)主板無法開機(jī)的狀況及解決方法

    在計(jì)算機(jī)的硬件系統(tǒng)中,主板作為連接各個(gè)組件的關(guān)鍵樞紐,其穩(wěn)定運(yùn)行至關(guān)重要。隨著國產(chǎn)主板技術(shù)的不斷發(fā)展與普及,了解其常見故障及解決方法,能幫助用戶在遇到問題時(shí)快速排查修復(fù),保障計(jì)算機(jī)正常使用。
    的頭像 發(fā)表于 07-02 09:33 ?1090次閱讀
    國產(chǎn)主板無法開機(jī)的<b class='flag-5'>狀況</b>及解決方法

    鋁電解電容技術(shù)發(fā)展與市場(chǎng)格局分析

    鋁電解電容的技術(shù)發(fā)展,市場(chǎng)需求狀況分析
    的頭像 發(fā)表于 06-23 15:30 ?871次閱讀

    Claroty-2024年全球CPS安全狀況:中斷對(duì)業(yè)務(wù)的影響

    2024 年全球 CPS 安全狀況: 中斷對(duì)業(yè)務(wù)的影響?網(wǎng)絡(luò)攻擊影響關(guān)鍵任務(wù)型基礎(chǔ)設(shè)施,分析其造成的財(cái)務(wù)損失和運(yùn)營后果
    發(fā)表于 06-17 17:29 ?9次下載

    物聯(lián)網(wǎng)未來發(fā)展趨勢(shì)如何?

    發(fā)展趨勢(shì)。通過醫(yī)療設(shè)備、傳感器和移動(dòng)應(yīng)用的互聯(lián)互通,可以實(shí)現(xiàn)醫(yī)療監(jiān)測(cè)、遠(yuǎn)程診斷和個(gè)性化治療等功能。這將改變傳統(tǒng)醫(yī)療模式,提高醫(yī)療資源的利用效率,降低醫(yī)療成本,同時(shí)改善人們的健康狀況。 數(shù)據(jù)安全和隱私保護(hù)
    發(fā)表于 06-09 15:25

    ?非侵入式路面狀況傳感器的技術(shù)優(yōu)勢(shì)

    在現(xiàn)代化的交通管理體系中,非侵入式路面狀況傳感器正以其非接觸式檢測(cè)原理,成為道路安全監(jiān)測(cè)領(lǐng)域的新寵。非侵入式路面狀況傳感器依托遙感技術(shù),能夠在不直接接觸路面的情況下,遠(yuǎn)距離獲取道路信息,不僅避免了傳統(tǒng)檢測(cè)方式對(duì)道路的破壞,還提高了監(jiān)測(cè)的效率和準(zhǔn)確性。
    的頭像 發(fā)表于 02-10 11:51 ?603次閱讀