SSD盤的核心器件就是控制器芯片和NAND，控制器里面的很多中端或者后端算法也是圍繞NAND進行優(yōu)化的，所以，一般情況下每家控制器廠商或者SSD盤的廠商都有工程師或者團隊負責研究或者測試NAND的相關(guān)特性，為解決圍繞NAND相關(guān)的問題提供堅實的基礎和技術(shù)支撐。

“工欲善其事，必先利其器”，由于主流NAND廠商目前都是國外公司，國內(nèi)這塊對于NAND特性非常精通的工程師資源并不是特別多，能夠使用的研發(fā)/測試的工具也很少，但是如果需要解決圍繞NAND的SSD問題，必須具備一款針對于NAND進行深入測試的工具。

NplusT是一家意大利公司，深耕Memory以及NAND測試將近20年，在這方便積累了大量的經(jīng)驗，NplusT開發(fā)的NanoCycler產(chǎn)品是一款非常靈活易用的NAND特性測試和分析工具，支持最新的1.6GT/s，非常適合國內(nèi)高校/科研院所，SSD控制器和盤開發(fā)，以及針對SSD盤失效分析等應用場景。

該NAND分析工具已經(jīng)廣泛應用于歐洲，美國，以色列，臺灣，日本，韓國和中國大陸的高校和公司，國內(nèi)客戶如：Huawei, Alibaba, SMIC中芯國際, Inspur浪潮, SCS山東華芯, Dputech大普, YeeStor得一, Tenafe特納飛, 復旦大學, 清華大學, 南京大學, 山東大學, 等等；國際上使用NanoCycler的客戶更多，例如：以PMC/MicroSemi/Microchip的企業(yè)級NVMe SSD控制器為代表，其NAND特性全部使用NplusT公司的產(chǎn)品進行測試和分析，包括業(yè)內(nèi)知名的Synopsys, STMicro, Infinion, Cypress, Leti, Smart Modular, Mellanox等等知名公司的NAND分析部門，以及幾大國際NAND廠商的客戶解決方案部門或區(qū)域應用工程部門也在使用該設備進行一些應用測試。

解決NAND相關(guān)的SSD問題：

1. 較低的SSD性能和Crash和NAND的關(guān)系

2. QoS隨著NAND老化下降導致的問題

3. SSD意外Crash問題

電壓波動，突發(fā)電流沖擊，時序分析

高性能power分析，長時間分析power峰值，平均，分布

4. 較高的初始RBER

5. 高速接口帶來的挑戰(zhàn)

1,033MT/s, 1,200MT/S, 1.6GT/s, 后續(xù)2.4GT/s

原文標題：如何解決SSD研發(fā)過程中和NAND相關(guān)的問題

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