chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

射頻探針的校準(zhǔn)

INGUN英岡 ? 2021-04-27 10:39 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

在校準(zhǔn)射頻探針時(shí),對(duì)校準(zhǔn)的嚴(yán)格設(shè)計(jì)需要面臨各種不同的挑戰(zhàn)。目的是確保高頻測(cè)試的準(zhǔn)確無(wú)誤,同時(shí)優(yōu)

化測(cè)試的簡(jiǎn)便性,速度和成本。這一點(diǎn)變得越來(lái)越重要,例如,引入5G后,需要以更高的頻率進(jìn)行工作和測(cè)

試?;谶@些要求,INGUN客戶必須在設(shè)計(jì)測(cè)試系統(tǒng)時(shí)決定哪種校準(zhǔn)/補(bǔ)償方法最適合其應(yīng)用。我們能夠提

供多種可供選擇的方法,從簡(jiǎn)單的校準(zhǔn)到非常復(fù)雜的校準(zhǔn),范圍十分寬泛。校準(zhǔn)越復(fù)雜,在結(jié)果越精確,在

批量測(cè)試中的測(cè)量結(jié)果也越精確。但是,并非總是需要最復(fù)雜且耗時(shí)的校準(zhǔn)過(guò)程;簡(jiǎn)單的過(guò)程通常足以優(yōu)化

測(cè)量結(jié)果并減少誤差。除了由于不理想的校準(zhǔn)特性而導(dǎo)致的錯(cuò)誤外,在校準(zhǔn)射頻探針時(shí)還會(huì)發(fā)生另外兩個(gè)錯(cuò)

誤:

1.定位錯(cuò)誤:當(dāng)射頻探針未與物體精確對(duì)準(zhǔn)時(shí),會(huì)發(fā)生這種情況。

2.校準(zhǔn)路徑錯(cuò)誤:在已經(jīng)執(zhí)行校準(zhǔn)后添加或刪除擴(kuò)展時(shí),會(huì)發(fā)生這種情況。

使用適合各自應(yīng)用的正確校準(zhǔn)方法可以完全避免錯(cuò)誤。


聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 解決方案
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    531

    瀏覽量

    40921
  • INGUN
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    16

    瀏覽量

    3840
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    探針電極在多功能壓力測(cè)量系統(tǒng)中的原理與應(yīng)用

    一、引言 在多功能壓力測(cè)量系統(tǒng)里,四探針電極以其獨(dú)特測(cè)量原理,助力獲取材料電學(xué)性能與壓力的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)。它在材料科學(xué)、電子工程等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,有力推動(dòng)了對(duì)材料在壓力下電學(xué)行為的研究,成為現(xiàn)代材料性能研究
    的頭像 發(fā)表于 03-27 14:04 ?440次閱讀
    四<b class='flag-5'>探針</b>電極在多功能壓力測(cè)量系統(tǒng)中的原理與應(yīng)用

    如何校準(zhǔn)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)精度

    校準(zhǔn)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)精度是確保其測(cè)量準(zhǔn)確性的重要環(huán)節(jié),通??赏ㄟ^(guò)以下步驟進(jìn)行:1、日常校準(zhǔn)(簡(jiǎn)單校準(zhǔn))(1)檢查測(cè)頭(2)校驗(yàn)測(cè)針長(zhǎng)度和直徑(3)檢查機(jī)器零點(diǎn)2、定期校準(zhǔn)(全面
    發(fā)表于 03-21 11:34 ?0次下載

    揭秘蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)針探針清潔的智能革命

    您是否正面臨以下測(cè)量挑戰(zhàn)?手動(dòng)清潔三坐標(biāo)探針耗時(shí)耗力,影響生產(chǎn)進(jìn)度?微小探針清潔困難,容易造成損壞,損失慘重?探針因積塵或靜電干擾測(cè)量結(jié)果,缺乏有效解決方案?蔡司探針自動(dòng)清潔裝置將是您
    的頭像 發(fā)表于 03-06 14:59 ?371次閱讀
    揭秘蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)針<b class='flag-5'>探針</b>清潔的智能革命

    告別手動(dòng)時(shí)代:揭秘蔡司探針清潔的智能革命

    您是否正面臨以下測(cè)量挑戰(zhàn)? 手動(dòng)清潔三坐標(biāo)探針耗時(shí)耗力,影響生產(chǎn)進(jìn)度? 微小探針清潔困難,容易造成損壞,損失慘重? 探針因積塵或靜電干擾測(cè)量結(jié)果,缺乏有效解決方案? 蔡司探針自動(dòng)清潔裝
    發(fā)表于 03-05 14:59 ?248次閱讀
    告別手動(dòng)時(shí)代:揭秘蔡司<b class='flag-5'>探針</b>清潔的智能革命

    Keysight是德N4433D射頻電子校準(zhǔn)件4 端口說(shuō)明書(shū)

    說(shuō)明手冊(cè): 是德Keysight N4433D射頻電子校準(zhǔn)件(ECal)可以快速輕松地準(zhǔn)確校準(zhǔn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。它是一款精密型4端口電子校準(zhǔn)件,支持用戶在高達(dá)26.5GHz的頻率范圍內(nèi)選
    的頭像 發(fā)表于 02-24 16:30 ?553次閱讀
    Keysight是德N4433D<b class='flag-5'>射頻</b>電子<b class='flag-5'>校準(zhǔn)</b>件4 端口說(shuō)明書(shū)

    安捷倫系列射頻電子校準(zhǔn)件 Agilent N4431B 是德科技KeysightN4433A

    安捷倫系列射頻電子校準(zhǔn)件 Agilent N4431B 是德科技KeysightN4433A ? 主要特性與技術(shù)指標(biāo) 頻率范圍從300 kHz至20 GHz 標(biāo)準(zhǔn)的3.5 mm陰性連接器 通過(guò)單一
    的頭像 發(fā)表于 02-19 09:54 ?310次閱讀

    高溫電阻測(cè)試儀的四探針法中,探針的間距對(duì)測(cè)量結(jié)果是否有影響

    在高溫電阻測(cè)試儀的四探針法中,探針的間距對(duì)測(cè)量結(jié)果確實(shí)存在影響,但這一影響可以通過(guò)特定的測(cè)試方法和儀器設(shè)計(jì)來(lái)最小化或消除。 探針間距對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響 在經(jīng)典直排四探針法中,要求使用等間
    的頭像 發(fā)表于 01-21 09:16 ?660次閱讀
    高溫電阻測(cè)試儀的四<b class='flag-5'>探針</b>法中,<b class='flag-5'>探針</b>的間距對(duì)測(cè)量結(jié)果是否有影響

    微波測(cè)量探針

    微波測(cè)量探針 DC~110GHz 36102系列 觸點(diǎn)防堆金處理 微波測(cè)量探針產(chǎn)品36102系列,無(wú)縫隙覆蓋DC~110GHz,觸點(diǎn)防堆金處理,壓痕輕,性能可靠,產(chǎn)品統(tǒng)一采用標(biāo)準(zhǔn)同軸安裝接口,觸點(diǎn)
    的頭像 發(fā)表于 11-27 17:28 ?527次閱讀
    微波測(cè)量<b class='flag-5'>探針</b>

    探針頭型使用方法有哪些

    探針頭型的使用方法多種多樣,具體取決于探針頭型的類型、被測(cè)對(duì)象的特性以及測(cè)試需求。以下是一些常見(jiàn)探針頭型的使用方法概述: 1. 凹頭探針 用途 :主要用于測(cè)試長(zhǎng)導(dǎo)腳、端子及繞線柱等較長(zhǎng)
    的頭像 發(fā)表于 09-07 10:57 ?1850次閱讀

    探針式溫度計(jì)使用的正確流程是

    范圍。 考慮探針的材質(zhì),以確保它不會(huì)與被測(cè)物質(zhì)發(fā)生反應(yīng)。 選擇適當(dāng)?shù)?b class='flag-5'>探針尺寸,以便于插入測(cè)量點(diǎn)。 校準(zhǔn)溫度計(jì) : 在使用前,確保溫度計(jì)已經(jīng)過(guò)校準(zhǔn),以保證測(cè)量的準(zhǔn)確性。 使用標(biāo)準(zhǔn)溫度源進(jìn)
    的頭像 發(fā)表于 09-07 10:51 ?2143次閱讀

    探針圓頭和尖頭的作用區(qū)別

    探針是電子測(cè)試和測(cè)量領(lǐng)域中非常重要的工具,它們用于接觸電路板上的焊盤(pán)或測(cè)試點(diǎn),以便進(jìn)行電氣測(cè)試或測(cè)量。探針的設(shè)計(jì)多種多樣,其中圓頭和尖頭是兩種常見(jiàn)的類型。每種類型的探針都有其特定的應(yīng)用場(chǎng)景和優(yōu)勢(shì)
    的頭像 發(fā)表于 09-07 10:50 ?1895次閱讀

    探針頭型怎么選擇尺寸

    探針頭型的選擇尺寸是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程,需要考慮多個(gè)因素,包括被測(cè)點(diǎn)的形狀、大小、間距、測(cè)試環(huán)境以及測(cè)試要求等。以下是一些選擇探針頭型尺寸的基本原則和步驟: 一、基本原則 測(cè)量精度 :首先,需要明確測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 09-07 10:48 ?1722次閱讀

    開(kāi)爾文探針力顯微鏡檢測(cè)的是什么信號(hào)

    開(kāi)爾文探針力顯微鏡(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡,主要用于表面電荷和電勢(shì)的測(cè)量。它基于原子力顯微鏡(AFM)技術(shù)發(fā)展而來(lái)
    的頭像 發(fā)表于 08-27 16:12 ?2125次閱讀

    開(kāi)爾文探針測(cè)試原理是什么

    開(kāi)爾文探針測(cè)試(Kelvin Probe Force Microscopy,KPFM)是一種非接觸式表面電勢(shì)測(cè)量技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、表面科學(xué)、納米技術(shù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。KPFM技術(shù)通過(guò)測(cè)量探針
    的頭像 發(fā)表于 08-27 15:29 ?5611次閱讀

    請(qǐng)問(wèn)ESP8266在射頻校準(zhǔn)期間會(huì)發(fā)射嗎?

    當(dāng)ESP8266啟動(dòng)時(shí),它會(huì)運(yùn)行射頻校準(zhǔn),該校準(zhǔn)會(huì)在幾百毫秒內(nèi)產(chǎn)生高電流峰值。 在這些電流尖峰期間,設(shè)備是否從其天線輻射任何東西?
    發(fā)表于 07-19 06:37