開關電源一直以來都是電子測試測量中非常重要的設備,由于開關電源具備轉換效率高,體積小等優(yōu)點,在市場中也越來越占據(jù)主導位置。
在當今電子行業(yè)用戶中,幾乎在每家用戶的工作室、實驗室和生產車間等都可以看到開關電源的身影。對于開關電源的測試,一直是電源的設計者與生產方關心的問題,而開關電源的穩(wěn)定輸出能力,也是用戶選擇一款電源最最基本的能力之一。
開關電源控制環(huán)路
直流電源結構可以分為兩部分,一部分是輸出部分,另一部分是反饋環(huán)路部分(圖1中紅框部分),理想的輸出部分只會輸出直流信號,實際上,直流電源的輸出(圖1中的Vout)電壓會受負載變化、輸入電壓變化、溫度變化等因素的影響而不穩(wěn)定。
直流電源的反饋環(huán)路負責檢測直流電源的輸出Vout是否穩(wěn)定,一旦輸出電壓出現(xiàn)不穩(wěn)定,反饋環(huán)路會立即檢測出異常并做出相應的反饋給到電源主控電路,電源做出相應的調整以保持穩(wěn)定的電壓輸出。因此,反饋環(huán)路的好壞直接影響電源平穩(wěn)輸出的能力,所以對于開關電源反饋環(huán)路響應的測試尤其重要。

圖1 開關電源結構框圖
開關電源控制環(huán)路響應測試項目
對于開關電源的反饋環(huán)路性能,要進行的測試項如下:
1.幅頻響應曲線,如圖2中黑線;
2.相頻響應曲線,如圖2中紅線;
3.穿越頻率(Crossover frequency):幅頻曲線穿越0dB處的頻率點,圖2中為6.5kHz;
4.相位裕量(Phase margin):相頻曲線在穿越頻率處的相位和-180度之間的相位差,圖2中為92°;
(相位裕量表示電源系統(tǒng)保持穩(wěn)定條件下所能承受的最大最大相位擾動,相位裕量越大,系統(tǒng)越穩(wěn)定,但同時時間響應速度減慢,因此必須要有一個比較合適的相位裕量。)
5.增益裕量(Gain margin):幅頻曲線在相頻曲線達到-180度的頻率處對應的增益,圖2中為67dB。
增益裕量表示控制系統(tǒng)保持穩(wěn)定條件下所能承受的最大增益擾動。

圖2 開關電源反饋環(huán)路響應測試幅頻、相頻響應曲線
開關電源控制環(huán)路響應測試方法
要測試開關電源控制環(huán)路響應,需要在反饋環(huán)路中人為注入一個誤差信號,通過測試該干擾信號對直流電源反饋環(huán)路的影響,以此來測試電源反饋環(huán)路的性能。
如圖3所示,理想的誤差信號注入點是在反饋路徑 R1 和 R2 的電阻分壓器網(wǎng)絡線路上(藍色5Ω電阻處),在此人為串入的5Ω電阻阻抗和反饋環(huán)路中原有的R1和R2相比微乎其微,所以幾乎對原始反饋環(huán)路的工作不會造成影響,用戶甚至可以永久保留此5Ω測試方便日后測試。
進行電源反饋環(huán)路響應測試需要在5Ω電阻兩端加入誤差信號,并檢測5Ω電阻兩端信號的變化與關系,以此測試電源反饋環(huán)路的性能。

圖3 開關電源控制環(huán)路響應測試方案圖
R&S電源反饋環(huán)路響應測試方案與優(yōu)點
| 所需設備 | 帶寬 | 差分電壓 |
|
RTM3000 系列示波器 |
反饋環(huán)路性能測試 | 10bit ADC, 500uV/div垂直分辨率,小信號測試利器,80Ms存儲深度 |
| RT-K36頻率響應分析(波特圖)選件 | 反饋環(huán)路性能分析 |
全自動測試 支持電源反饋環(huán)路分析 支持電源抑制比分析 支持RTB2000, RTM3000, RTA4000示波器 |
| RTM-B6示波器選件 | 給反饋環(huán)路注入誤差信號 | 任意波形函數(shù)信號發(fā)生器,25MHz,無需額外信號發(fā)生器 |
|
Picotest J2100A Picotest J2101A、 注入變壓器 |
隔離干擾信號與直流偏置 |
J2100A: 1 Hz - 5 MHz J2101A: 10 Hz - 45 MHz |
|
RT-ZP1X CH1和CH2探頭 |
探測5Ω電阻兩端波形 | 1:1衰減比、減小噪聲影響、小信號測試利器 |
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原文標題:輕松快速完成電源控制環(huán)路響應測量(波特圖)
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